[實用新型]分層攝影檢測系統有效
| 申請號: | 200720157192.2 | 申請日: | 2007-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN201199234Y | 公開(公告)日: | 2009-02-25 |
| 發明(設計)人: | 溫光溥;陳世亮;李孟坤 | 申請(專利權)人: | 德律科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/04 | 分類號: | G01N23/04;G03B42/02;G01B11/00 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分層 攝影 檢測 系統 | ||
技術領域
本實用新型涉及工業檢測的圖像成像系統,尤其涉及分層攝影檢測的系統。
背景技術
X光分層攝影技術已廣為周知。此種技術可為待測物體中的特定平面,建立截面圖像,藉以進行物體內部的檢測。在現有技術中,X光分層攝影系統包括X光源、X光探測器(藉以定義圖像平面)、以及固定機座(藉以固定待測物體、將之置放于X光源以及X光探測器之間)。為取得待測物體的X光圖像,現有技術通常利用X光源以及X光探測器的周期運動,來取得待測物體一連串的X光圖像;其中,X光源可以對應待測物體進行運動,亦可與X光探測器同時對應待測物體運動。在單一檢測周期中,X光源、待測物體、以及X光探測器的相對位置設定,均會對應待測物體之中的特定平面,藉以取得該特定平面的圖像,稱之為“對焦平面”。縱然單一周期中,X光源的相對位置不斷改變,對焦平面上的任一點,仍會因為X光源與待測物體或者X光探測器的相對位置設定,固定投影于圖像平面上的單一對應點;而對焦平面以外任一點,則會因為X光源與待測物體的相對位置改變,在圖像平面之上呈現多個光點。將不同X光源位置的所得圖像重迭時,因為對焦平面上的任一點,固定呈現于圖像平面上的對應位置L;所以,重迭圖像時,對焦平面上任一點的圖像,會顯得相當清晰,而對焦平面以外的單點則因為X光源與X光探測器相對位置的改變,呈現多個模糊的圖像。藉由組合X光探測器所取得的多個圖像,即可重建待測物體的特定截面圖像。
過去已經開發出多種有效的分層攝影系統,可參見美國專利號4,926,452,名稱為“Automated?Laminography?System?For?Inspection?ofElectronics”、美國專利號5,583,904,名稱為“Continuous?Linear?ScanLaminography?System?And?Method”、美國專利號6,324,249,名稱為“Electronic?Planar?Laminography?System?and?Method”以及美國專利號6,748,046,名稱為“Off-center?Tomosynthesis”;謹此提出以供參考。
在現有技術中的一種分層攝影系統中,固定待測物體,并利用X光源與X光探測器對應于待測物體的相對圓周運動,來取得待測物體的多個圖像。在單一檢測周期之中,X光源與X光探測器利用區間的相對運動,在圓周上的不同位置,利用不同角度取得多個待測物體圖像。由于X光源與探測器必須在圓周上不斷啟動與停止,因此檢測速度較慢,而所能取得的圖像數目也受到限制。此外,利用圓周運動進行檢測的機臺也相對龐大、制造復雜,同時制造成本較為昂貴。
另一種現有技術,則是采用單一轉化檢測(single?translationalscan),以由不同的角度取得檢測圖像。此種檢測機制中,X光源必須瞄準待測物體,藉以使得扇形的X光束,覆蓋完整的待測物體表面。此外,必須增加X光探測器的數量,如此才能在不同的檢測角度上取得圖像,取得足量的單一線型掃描圖像。雖然這種分層攝影系統具有簡單快速的掃描優勢,但是由于必須增加X光探測器的數量,仍會提高設備成本。此外,X光源必須進行「瞄準」,也會使得系統過于復雜。
尚有另一種現有技術,利用大型攝影機(a?large?format?camera)來取得待測物體的圖像數據。在單一檢測周期中,X光源與X光探測器固定,而待測物體則在X光源與X光探測器之間移動;藉此,待測物體的不同部分,可同時在攝影機上呈現不同角度的圖像。雖然此種方法可以節省X光源以及攝影機運動的成本,但是仍會因為采用大型攝影機而提高費用。此外,在檢測過程之中移動待測物體,亦可能影響對象穩定度,而降低圖像的質量。
此外,待測物體本身因為重力而造成的彎曲,也是分層檢測的一個難題。待測物體的彎曲,可能在物體的實際位置與檢測系統估計位置之間形成偏差。由此,分層攝影所重建的截面圖像,可能不會是實際選定平面的圖像,而是位移之后的其它平面圖像。為解決此一難題,美國第5,678,2095號專利已經披露一種彎曲補償的機制,在此提供做為參考。此種現有的彎曲補償機制,需要使用對象預先設定的計算機輔助設計(CAD)數據,與實際取得的圖像數據進行比對,以獲得待測物體的彎曲程度。在圖像重建的過程之中,必須利用此種彎曲補償計算,來取得選定區域的截面圖像。但實際應用時,常因為選定區域無法與CAD位置精確對應,或者無法預先獲得足夠的CAD數據,而無法精確修正對象彎曲。
因此,產生改良分層攝影系統的需求,希望能夠克服前述先前技術產生的問題。
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