[實用新型]集成電路測試儀

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200720148836.1
• 申請日: 2007-04-19
• 公開（公告）號: CN201035124Y
• 公開（公告）日: 2008-03-12
• 發(fā)明（設計）人: 閻捷;高文煥;徐振英;張尊僑;金平;田淑珍;劉艷;任艷頻;侯素芳;任勇
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01R31/303
• 分類號: G01R31/303
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產(chǎn)權代理有限公司
• 代理人: 李光松

技術領域

本實用新型屬于電子元器件測試裝置范圍，特別涉及應用于高等院校電子技術實驗中集成電路、晶體管等元器件測試及生產(chǎn)的一種集成電路測試儀。

背景技術

集成電路芯片的測試是集成電路芯片制造的重要環(huán)節(jié)，其測試內容多達數(shù)十項，每項測試都是在嚴格的測試條件下進行，各項參數(shù)、技術指標都有明確的要求，并根據(jù)測試結果對產(chǎn)品進行分類。用于器件生產(chǎn)的測試系統(tǒng)是專用的，每臺測試設備和測試儀器均價格昂貴，同時對測試環(huán)境的要求也相當高。生產(chǎn)電子產(chǎn)品的一般用戶，尤其是高等院校科研和教學不可能采用這樣復雜、昂貴的測試系統(tǒng)進行電子元器件的測試。例如，我們查詢到市場上銷售的ICT3000VXI數(shù)模混合集成電路測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)能夠在計算機控制下完成復雜芯片的各項技術指標測試，售價為45.5萬人民幣。這樣的測試系統(tǒng)功能冗余、價格昂貴、各臺儀器彼此不獨立，不適合普通高等學校科研與教學應用，價格上也是普通高等學校難以承受的。

在當前市場上，也有為使用器件的用戶設計生產(chǎn)較簡易的芯片檢測設備。這類設備大都是按集成電路的種類分別設計的，即一種測試設備專門測試模擬器件，一種測試設備專門測試數(shù)字器件等等，它們的缺點主要是一種測試設備不能測試不同類型的器件，且一次只能測試一個芯片，所測芯片的型號受到很大的限制，與用戶的要求有一定的差距。因此，對于需要進行大量、不同類型集成電路測試的用戶，是十分不方便的，且測試成本較高。本文作者使用過多種類似的芯片測試設備，(如西爾特南京中國有限電子公司生產(chǎn)的SUPERPRO/L+編程器等)發(fā)現(xiàn)其存在的問題很多，分析表明，其根本原因是其測試原理及方法上有缺陷。

綜上所述，目前市場上尚沒有一種適合于在高等院校教學工作所需要的，能夠同時測量不同類型(模擬、數(shù)字)、不同型號，且一次測量數(shù)幾十個集成電路芯片的測試設備。所以，我們投入很大力量，開發(fā)設計出這種特殊的測試設備。

實用新型內容

本實用新型的目的是針對現(xiàn)有技術的不足而提供一種集成電路測試儀。其特征在于，所述集成電路測試儀由穩(wěn)壓電源1、脈沖發(fā)生器3、數(shù)字電路測試模塊4、運算放大器測試模塊6、晶體管輸出特性曲線測試模塊8、器件測試選擇控制9和錯誤告警電路5組成；其中數(shù)字電路測試模塊4、運算放大器測試模塊6、晶體管輸出特性曲線測試模塊8的輸出各自通過反接二極管7共接一個錯誤告警電路5；脈沖發(fā)生器3的各輸出Fx和數(shù)字電路測試模塊4的各輸入Fx對應連接；正弦波發(fā)生電路2的輸出接至運算放大器測試模塊6的輸入端；穩(wěn)壓電源1輸出+12V、-12V、+5V分別和數(shù)字電路測試模塊4、運算放大器測試模塊6、晶體管輸出特性曲線測試模塊8的電源端連接，器件測試選擇控制9由S1~S6六個DIP多位開關構成，分別接至數(shù)字電路測試模塊4的三態(tài)輸出門電路的控制端及運算放大器測試模塊6中的測試狀態(tài)輸出的電源控制端。多位開關的各位順序控制本行的各個測試插座。

所述數(shù)字電路測試模塊4由1～N個組成，其中，在基本配置下N＝30，在擴充配置下N＞30。

所述脈沖發(fā)生器3由脈沖發(fā)生電路和脈沖分頻電路并聯(lián)組成。

所述數(shù)字電路測試模塊的組成是脈沖發(fā)生器3的脈沖分頻電路輸出Fx經(jīng)隔離電路18分別連接在標準電路19和被測電路17的輸入端，被測電路17的輸出經(jīng)幅度判別電路10的輸出與標準電路19的輸出同連接至比較器11，比較器11的輸出經(jīng)過或門20、選通脈沖與門12、復位觸發(fā)器13、三態(tài)輸出電路15至狀態(tài)輸出；在三態(tài)輸出電路15的選統(tǒng)端EN連接測試狀態(tài)控制開關9，三態(tài)輸出門電路15的輸出還連接狀態(tài)顯示器14。

所述運算放大器測試模塊的組成是在被測電路22的輸入端分別連接接入交流信號源23和“0”信號，被測電路22的輸出經(jīng)并聯(lián)的增益檢測21、失調電壓檢測25后，其輸出通過的或門20、三態(tài)輸出電路15至狀態(tài)輸出；在三態(tài)輸出電路15的選統(tǒng)端EN端連接測試狀態(tài)控制16。

所述S1～S6六個DIP多位開關構成，多位開關的各位順序控制本行的各個測試插座。

所述晶體管輸出特性曲線測試模塊的組成是矩形波振蕩電路26的輸出分別連接鋸齒并產(chǎn)生電路27和階梯波產(chǎn)生電路28，階梯波產(chǎn)生電路28輸出通過一電阻連接至被測試晶體管29的基極，鋸齒并產(chǎn)生電路27輸出通過一電阻連接至被測試晶體管29的集電極，被測試晶體管29的發(fā)射極接地；被測試晶體管29的集電極電阻兩端連接電壓變換電路30輸入端，電壓變換電路30的輸出接示波器31的Y柱，被測試晶體管29的集電極接示波器31的X柱。

本實用新型的有益效果是