[實用新型]浮動式校檢平臺無效
| 申請號： | 200720143034.1 | 申請日： | 2007-04-23 |
| 公開（公告）號： | CN201034544Y | 公開（公告）日： | 2008-03-12 |
| 發明（設計）人： | 田龍元 | 申請（專利權）人： | 嚴為民 |
| 主分類號： | G01B5/12 | 分類號： | G01B5/12 |
| 代理公司： | 北京萬科園知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 張亞軍;邢少真 |
| 地址： | 100011北京市東城區安*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 浮動 式校檢 平臺 | ||
【權利要求書】：
1.一種浮動式校檢平臺，其底座上設置有測量元件本體、頂桿夾具及浮動工作臺夾具，測量元件測頭在測量元件本體的控制下水平移動，頂桿緊固在頂桿夾具上，浮動工作臺緊固在浮動工作臺夾具上，浮動工作臺上設置有被檢測物緊固夾具，其特征在于所述的被檢測物緊固夾具(9)底部固聯有浮動平臺(11)。
2.根據權利要求1所述的浮動式校檢平臺，其特征在于所述的浮動平臺(11)底面設置有滑軌(1101)，浮動工作臺(12)上面設置有與導軌(1101)相配合的滑動件(13)。
3.根據權利要求1所述的浮動式校檢平臺，其特征在于所述的滑動件(13)選用滾珠、滾針、滑軌、直線導軌、氣浮導軌之一種或組合。
4.根據權利要求1所述的浮動式校檢平臺，其特征在于所述的浮動平臺(11)底面為光滑平面或帶溝槽的光滑平面，與浮動工作臺(12)的光滑平面或帶溝槽的光滑平面相配合。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于嚴為民，未經嚴為民許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720143034.1/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：軸承內圈自動測量裝置
- 下一篇：螺旋焊縫X射線實時數字成像檢測與自動跟蹤裝置
