[實用新型]一種二極管壽命測試儀

有效

• 申請號: 200720122630.1
• 申請日: 2007-08-31
• 公開（公告）號: CN201096866Y
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 吳志毅
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳創友專利商標代理有限公司
• 代理人: 江耀純

技術領域

本實用新型涉及一種二極管壽命測試儀。

背景技術

在使用二極管制造電子產品前，電子產品開發廠家一般總是從有信譽、具有一定規模的制造廠采購特定型號的生產的二極管，對于二極管制造廠而言，合格產品是可以達到所設計的可靠性指標的。然而，從二極管出廠到用戶使用總要經歷一個或長或短的庫存時間，總要由人來發貨，運輸過程中也難免對二極管產生一定的傷害，這些都是降低二極管可靠性的客觀原因。

作為使用二極管的用戶而言，怎樣驗證即將使用的二極管的可靠性指標，確認即將使用的二極管的壽命是電子產品的生產中不能回避的問題，否則將很難保證自己所生產出的電子產品的可靠性。可是目前尚未見有能測試二極管壽命的儀器，這對使用二極管的用戶而言非常不方便。

發明內容

本實用新型就是為了克服以上的不足，提出了一種二極管壽命測試儀。

本實用新型的技術問題通過以下的技術方案予以解決：一種二極管壽命測試儀，包括溫度試驗箱、電源提供模塊、負載、電性能采集模塊和主控裝置；所述待測二極管置于所述溫度試驗箱內，所述溫度試驗箱為待測二極管提供加速老化環境；所述電源提供模塊、負載和待測二極管串聯形成測試回路；所述電性能采集模塊連接在待測二極管與主控裝置之間，所述電性能采集模塊采集待測二極管在通有電源時的反饋電信號并輸出至主控裝置，所述主控裝置接收、分析所述反饋電信號以得出測試結果。

優選地，所述電性能采集模塊包括電流取樣電阻、電壓信號轉換器和電流信號轉換器，所述主控裝置為計算機；所述電流取樣電阻連接在待測二極管陰極和地之間；所述電壓信號轉換器連接在待測二極管陽極和計算機之間，用于從所述待測二極管陽極采集出電壓信號并轉換成數字信號輸出至計算機；所述電流信號轉換器連接在待測二極管陰極和計算機之間，用于從所述待測二極管陰極采集出流過待測二極管的電流并轉換成數字信號輸出至計算機。

還包括開關，所述開關串聯在測試回路上；所述主控裝置與所述開關控制端相連，控制開關進行開通和閉合。

所述主控裝置還與溫度試驗箱相連，所述主控裝置控制溫度試驗箱的溫度值。

所述電源提供模塊為正弦波電源，所述主控裝置還與正弦波電源相連，所述主控裝置控制正弦波電源輸出信號的電壓、電流和頻率。

本實用新型與現有技術對比的有益效果是：本實用新型的二極管壽命測試儀可以對不同公司的、不同時期所生產的各種型號的二極管進行壽命測試，而且測試結果具有可比性、可追溯性，具有很高的經濟效益。本實用新型的二極管壽命測試儀可以自動測試，降低了操作員的勞動強度，提高了測量效率，避免引入人為錯誤，保證了測試結果的準確性。

附圖說明

圖1是本實用新型具體實施方式的結構示意圖。

具體實施方式

下面通過具體的實施方式并結合附圖對本實用新型做進一步詳細說明。

實際二極管的失效都脫離不了物理的或化學的作用，如果隨意抽取幾個失效元件來分析，有的是內部電路短路或開路性損壞，有的是外殼碎裂造成器件損壞，有的是管腳折斷而損壞，表面上看，二極管失效原因各不相同，似乎沒有直接聯系。然而分析足夠多失效二極管后，可以發現所有按相同工藝制造的二極管的壽命分布特征都具有相同的統計規律性。因此，可以建立二極管的可靠性數學模型，通過抽取少量二極管樣品作可靠性試驗，即可得到具有相同制造工藝元件的二極管的壽命預估值。

由于二極管的外殼一般由塑料或陶瓷組成，塑料在環境的作用下會老化變質，陶瓷會在環境中的振動等因素作用后改變外型，這些都會使二極管的外殼逐漸老化而漏氣，進而導致二極管內部電路損壞，二極管的壽命結束。二極管的引腳全都由金屬組成，受到環境有害氣體的腐蝕后逐步減小，當引腳小于設計允許的最小尺寸后，二極管使用性能不再滿足設計要求，壽命結束。在實際使用二極管時，只要嚴格執行二極管制造廠規定的技術條件，二極管壽命是能夠得到保障的，在這種情況下，環境溫度是影響二極管壽命的主要原因。在用戶執行二極管制造廠規定技術條件前提下，只要做溫度加速壽命試驗，得到的二極管壽命指標會與二極管的實際壽命基本一致。根據上述情況，本實用新型提出了一種二極管壽命測試儀。