[實用新型]垂直頭位轉角及水平頭位轉角的檢測裝置

無效

• 申請號: 200720119595.8
• 申請日: 2007-04-17
• 公開（公告）號: CN201029874Y
• 公開（公告）日: 2008-03-05
• 發明（設計）人: 吳進;史學峰;趙堪興;張莉
• 申請（專利權）人: 吳進
• 主分類號: A61B3/08
• 分類號: A61B3/08
• 代理公司: 深圳市康弘知識產權代理有限公司
• 代理人: 胡朝陽;張明院

技術領域

本實用新型涉及眼科疾病的檢查裝置，尤其涉及一種可用于檢查斜視患者眼球上、下轉時的斜視度和先天性眼球震顫患者的頭位扭轉角的垂直頭位轉角及水平頭位轉角的檢測裝置。

背景技術

斜視是眼科常見疾病，而AV征是較為常見的一種特殊類型的斜視，其不同于普通斜視，即當患者向上或向下看時，水平斜視的程度會發生變化。A征是指眼球上轉25°時比下轉25°時的集合加大，即兩眼在上方靠近的程度大于兩眼在下方靠近的程度，上方與下方的斜視度相差超過10^△；V征是指眼球上轉25°時比下轉25°時的集合減小，即兩眼在下方靠近的程度大于兩眼在上方靠近的程度，上方與下方的斜視度相差超過15^△。在各個眼位上獲得準確的斜視度數，對于斜視類型的診斷和治療具有重要意義。

目前，對AV征的檢查方法主要有兩種：“同視機檢查法”和“三棱鏡+遮蓋法”。使用“同視機檢查法”時，患者的頭位固定，通過注視物像的上下移動使注視眼運動到所需眼位。因為物像的轉動角度可以在同視機上精確的調整，所以“同視機檢查法”可以獲得較為準確的上下各轉25°的眼位，但是由于受“近感性輻輳”的影響，所測得下轉時的集合較實際為大，從而會遺漏一些A征，而影響診斷的準確性。使用“三棱鏡+遮蓋法”時，注視物像固定于正前方，通過患者頭位的上下轉動使注視眼運動到所需眼位。“三棱鏡+遮蓋法”由于能夠避免患者在檢查時產生“近感性輻輳”現象，因此是目前世界上最通用的AV征檢查法。但是因為患者頭位轉動的角度目前僅靠檢查者目測掌握，所以獲得的上下各轉25°的眼位較為粗糙，使得測量也夠不準確，從而影響診斷。

先天性眼球震顫由于雙眼不能固視，會對視力造成不同程度的損害。先天性眼球震通常在兩側的某一眼位上震顫得較輕甚至基本消失，這一位置稱為眼球震顫的靜止帶(少數情況下靜止帶會含有一定的垂直成分，甚至完全出現在上方或下方眼位上)。當眼球處于靜止帶上時具有較好的視力。但是因為靜止帶多位于兩側，而人的常用視野是正前方，所以患者為了在正前方獲得較為清晰的視力常常將頭轉向靜止帶的對側，以使雙眼向正前方注視時正好處于靜止帶上。(譬如患者的靜止帶位于左側，那么患者就會采取面向右轉的頭位以使雙眼注視正前方時眼球正好位于左側的靜止帶上。)這時頭顱矢狀軸與兩眼視線之間的夾角稱為頭位扭轉角。這種由于眼球震顫引起的患者歪頭視物，可以通過手術來改善。術前對頭位扭轉角的測量是關系到眼球震顫手術療效的重要檢查。目前測量頭位扭轉角的方法主要有兩種：眼顫值估算法及弧形視野計檢查法。

眼顫值估算法通過測量眼球從正前方轉向側方靜止帶過程中角膜緣移動的距離(mm)來間接推算頭位扭轉角(1mm眼顫值≈5°頭位扭轉角)。由于眼顫值的測量本身不十分準確，加上眼顫值與實際頭位扭轉角之間并不是完全地對應，因此用眼顫值估算法得出的頭位扭轉角與實際頭位扭轉角之間有可能出現較大的差別。

弧形視野計檢查法可以直接通過視野計上的刻度讀出頭位扭轉角，是目前臨床上常用的測量頭位扭轉角的方法。但是由于患者在轉頭時無法保證頭顱的中心始終處于弧形視野計的圓心，而且檢查者也不容易準確把握患者頭顱的矢狀軸，因此測量的結果也難以準確。此外，弧形視野計體積較大，移動不便；更為尷尬的是，目前大多數醫院都已不再使用弧形視野計檢查視野，弧形視野計已經難覓生產廠家，使得這一方法的推廣受到一定限制。

此外，上述兩種方法還都有一個共同缺陷：都不能測量患者的垂直頭位扭轉角。

實用新型內容

本實用新型旨在解決現有“三棱鏡+遮蓋法”檢查斜視(AV征)過程中不能準確獲得患者頭位轉動角度的技術問題以及眼球震顫的頭位扭轉角測量準確度差的技術問題，提出一種操作簡便、可以準確獲得斜視(AV征)檢查中所需頭位轉動角度以及準確測量眼球振顫頭位扭轉角的垂直頭位轉角及水平頭位轉角的檢測裝置。

為解決上述技術問題，本實用新型提出的垂直頭位轉角及水平頭位轉角的檢測裝置包括：帶有第一指示線的透明的外球形殼體、設于該外球形殼體中的內球形殼體，該內球形殼體的外表面設有與所述第一指示線配合讀取參數的第二指示線，還包括設于該內球形殼體中的一永磁體、設于所述外球形殼體與內球形殼體間隙中的液體，所述外球形殼體外表面一側設有一支撐片，該支撐片的側邊設有可與人體頭部連接的固定機構。

本實用新型的優先例，所述外球形殼體的第一指示線為至少一條通過所述支撐片上部的半球殼體頂點的基線；所述內球形殼體上的第二指示線為至少一條通過內球形殼體的上半球殼體頂點的刻度線。