[實用新型]帶監測器的可調式光衰減器無效
| 申請號: | 200720119293.0 | 申請日: | 2007-04-04 |
| 公開(公告)號: | CN201051159Y | 公開(公告)日: | 2008-04-23 |
| 發明(設計)人: | 王則欽;謝紅 | 申請(專利權)人: | 昂納信息技術(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G02B6/26 | 分類號: | G02B6/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518057廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 監測器 調式 衰減器 | ||
【技術領域】
本實用新型涉及一種光纖通訊光器件,特別涉及一種帶有監測器的可調式光衰減器。
【背景技術】
在MEMS制成的衰減器,其中兩種常用方案常被波長相關損耗值較大所困擾。第一種方案為:它包括兩準直器,MEMS推動的遮光片,由于不同波長模場直徑不一樣,這樣遮光式衰減器容易產生波長相關損耗值較大特點。第二種方案為:雙光纖頭、透鏡,可轉動的MEMS的反射鏡;從雙光纖頭出射光通過透鏡準值成平行光,反射鏡轉動方向,使光的插損變化,這里同樣的問題亦是波長相關損耗較大。
通常第二種方案如圖1所示:主要有光纖插頭101包括光纖1011、1012,透鏡103和反射鏡104組成;通過轉動反射鏡104,而改變反射進入光纖1012的光束損耗。
然而上述方案僅僅實現VOA的衰減功能,但是對于其衰減的性能并不能進行監測,這樣使其性能可靠性不能保證。
【發明內容】
本實用新型的目的在提供一種利用監測器探測到可調式光衰減器的衰減變化,達到實時監測、反饋的可調光衰減器。
為了實現上述目的,本實用新型帶監測器的可調式光衰減器,包括準直器和光可調衰減器芯片,還包括一光電探測器,接收從光可調衰減器芯片出射的小部分光束進行監測。
所述準直器包括光纖插針和透鏡。
所述的光纖插針為兩個單光纖插針。
所述的光纖插針為一個雙光纖插針。
所述光電探測器可為光電二極管。
采用上述方案后,由于本實用新型利用光電探測器接受監測該器件的衰減變化,從而達到實時監測,反饋的功效,進一步確保其衰減性能。
【附圖說明】
下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
圖1是現有技術光可調衰減器的結構原理圖。
圖2是本實用新型的第一實施例的結構示意圖。
圖3是本實用新型的第二實施例的結構示意圖。
圖4是本實用新型的第三實施例的結構示意圖。
圖5是本實用新型的第四實施例的結構示意圖。
圖6是本實用新型的第五實施例的結構示意圖。
【具體實施方式】
本實用新型的技術內容、特征與達成效果,配合以下參考圖與對應的較佳實施例詳細說明,將可被清楚顯現。
圖2是本實用新型的第一實施例的結構示意圖。本實用新型帶監測器的可調式光衰減器,包含準直器11,其中所述準直器11包括透鏡111以及光纖插針112、一光可調衰減器芯片12介于所述透鏡111與光纖插針112之間,所述透鏡111的前端包括一光濾光片13,用于分光,部分光束借由上述光濾光片13投射,由光電探測器14接受。
其光路為:從光纖插針112的第一光纖1121入射的光束通過光可調衰減器芯片12對入射的光束進行衰減,后借由透鏡111聚焦于光濾光片13,大部分光束通過上述光濾光片13反射經過準直器11出射光經由光纖插針112的第二光纖1122出射;上述小部分光束通過上述光濾光片13透射到光電探測器14上,這樣,當光可調衰減器芯片12工作時,光電探測器14能探測到光可調衰減器的衰減變化,達到實時監測、反饋。
上述所述光電探測器14可為光電二極管。
本實用新型的第二個實施例。如圖3所示:包含準直器21,其中所述準直器21包括透鏡211以及第一光纖插針212、以及第二光纖插針213,一光可調衰減器芯片22介于所述透鏡211與第一光纖插針212、第二光纖插針213之間,所述透鏡211的前端包括一光濾光片23,用于分光,部分光束借由上述光濾光片23投射,由光電探測器24接受。
其光路為:從第一光纖插針212的第一光纖2121入射的光束通過光可調衰減器芯片22對入射的光束進行衰減,后借由透鏡211聚焦于光濾光片23,大部分光束通過上述光濾光片23反射經過準直器21出射光經由第二光纖插針213的第二光纖2131出射;上述小部分光束通過上述光濾光片23透射到光電探測器24上,這樣,當光可調衰減器芯片22工作時,光電探測器24能探測到光可調衰減器的衰減變化,達到實時監測、反饋。
上述所述光電探測器24可為光電二極管。
本實用新型的第三個實施例,如圖4所示:包含準直器11,其中所述準直器11包括透鏡111以及光纖插針112、所述透鏡111的前端包括一光濾光片13,一光可調衰減器芯片12介于所述透鏡111與光濾光片13之間,所述光濾光片13用于分光,部分光束借由上述光濾光片13投射,由光電探測器14接受。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于昂納信息技術(深圳)有限公司,未經昂納信息技術(深圳)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720119293.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:恒差式磁控太陽能增溫器
- 下一篇:泄漏檢測裝置





