[實(shí)用新型]步進(jìn)電機(jī)檢測(cè)裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720113227.2 | 申請(qǐng)日: | 2007-08-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201083814Y | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳龍;蒙軒 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 許曉華 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/34 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/34 |
| 代理公司: | 杭州華鼎專(zhuān)利事務(wù)所 | 代理人: | 韓洪 |
| 地址: | 322100浙江省東*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 步進(jìn) 電機(jī) 檢測(cè) 裝置 | ||
【技術(shù)領(lǐng)域】
本實(shí)用新型涉及檢測(cè)儀器儀表領(lǐng)域,尤其涉及步進(jìn)電機(jī)檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
為保證步進(jìn)電機(jī)的質(zhì)量,在出廠以及使用前都需要對(duì)其性能進(jìn)行檢測(cè)。目前,在實(shí)際生產(chǎn)中,對(duì)步進(jìn)電機(jī)進(jìn)行檢測(cè),需要使用步進(jìn)電機(jī)控制器和脈沖發(fā)生器配合使步進(jìn)電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)。
檢測(cè)工藝中所使用的脈沖發(fā)生器價(jià)格昂貴,成本高,增加了生產(chǎn)檢測(cè)成本。
【發(fā)明內(nèi)容】
本實(shí)用新型的目的就是解決現(xiàn)有技術(shù)中的問(wèn)題,提出一種步進(jìn)電機(jī)檢測(cè)裝置,成本低,能夠降低步進(jìn)電機(jī)的生產(chǎn)檢測(cè)成本。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提出了一種步進(jìn)電機(jī)檢測(cè)裝置,包括步進(jìn)電機(jī)控制器,還包括中央處理單元、電源電路、正反切換電路和頻率選擇電路,所述電源電路為中央處理單元提供電壓,正反切換電路和頻率選擇電路分別連接到中央處理單元的輸入端,電機(jī)控制器連接到中央處理單元的輸出端。
作為優(yōu)選,所述中央處理單元采用Atmel芯片。
作為優(yōu)選,所述電源電路包括電壓比較芯片和變壓芯片,所述電壓比較芯片的輸入端接電源,輸出端連接到電壓比較芯片的輸入端,電壓比較芯片的輸出端與中央處理單元連接。
作為優(yōu)選,所述電源電路還包括電源開(kāi)關(guān)和指示燈,所述電源開(kāi)關(guān)設(shè)置在電源與電壓比較芯片之間,指示燈與電源并聯(lián),并設(shè)置在電源開(kāi)關(guān)后端。
作為優(yōu)選,所述變壓芯片采用7805芯片。
作為優(yōu)選,所述正反切換電路采用切換開(kāi)關(guān)。
作為優(yōu)選,所述頻率選擇電路采用選擇開(kāi)關(guān)。
本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型采用Atmel芯片作為中央處理單元,通過(guò)正反切換電路切換控制步進(jìn)電機(jī)的正轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn),通過(guò)頻率選擇電路控制變換發(fā)生的脈沖信號(hào)的頻率,配合步進(jìn)電機(jī)控制器對(duì)步進(jìn)電機(jī)的性能進(jìn)行檢測(cè)。本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)成本低,大大降低了步進(jìn)電機(jī)的生產(chǎn)檢測(cè)成本。具有較好的經(jīng)濟(jì)效益。采用電壓比較芯片和變壓芯片為Atmel芯片提供+5V工作電壓,保證系統(tǒng)的正常運(yùn)行。采用電源開(kāi)關(guān)和指示燈控制電源的通斷,直觀性強(qiáng)。采用開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)正反轉(zhuǎn)切換和頻率選擇,方便快捷,實(shí)現(xiàn)成本低。
本實(shí)用新型的特征及優(yōu)點(diǎn)將通過(guò)實(shí)施例結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
【附圖說(shuō)明】
圖1是本實(shí)用新型步進(jìn)電機(jī)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖;
圖2是本實(shí)用新型步進(jìn)電機(jī)檢測(cè)裝置的電路原理圖。
【具體實(shí)施方式】
如圖1所示,步進(jìn)電機(jī)檢測(cè)裝置,包括步進(jìn)電機(jī)控制器1,還包括中央處理單元2、電源電路3、正反切換電路4和頻率選擇電路5,所述電源電路3為中央處理單元2提供電壓,正反切換電路4和頻率選擇電路5分別連接到中央處理單元2的輸入端,電機(jī)控制器1連接到中央處理單元2的輸出端。
如圖2所示,所述中央處理單元2采用Atmel芯片。所述電源電路3包括電壓比較芯片U1和變壓芯片U2,所述電壓比較芯片U1的輸入端接電源,輸出端連接到電壓比較芯片U1的輸入端,電壓比較芯片U1的輸出端與中央處理單元2連接。所述電源電路3還包括電源開(kāi)關(guān)K1和指示燈LED,所述電源開(kāi)關(guān)K1設(shè)置在電源與電壓比較芯片U1之間,指示燈LED與電源并聯(lián),并設(shè)置在電源開(kāi)關(guān)K1后端。所述變壓芯片U2采用7805芯片。所述正反切換電路4采用切換開(kāi)關(guān)K2。所述頻率選擇電路5采用選擇開(kāi)關(guān)K3。切換開(kāi)關(guān)K2連接到Atmel芯片的22腳,選擇開(kāi)關(guān)K3連接到Atmel芯片的23腳。步進(jìn)電機(jī)控制器1的第一端口J1連接到中央處理單元2,第二端口J2連接到步進(jìn)電機(jī)繞組,第三端口J3接DC30-60V的電源。
該檢測(cè)裝置工作電壓在DC30-60V之間,經(jīng)電壓比較芯片U1后,再經(jīng)過(guò)7805芯片,輸出+5V電壓,為Atmel芯片提供工作電壓。通過(guò)程序,在Atmel芯片上實(shí)現(xiàn)以下功能:
1通過(guò)對(duì)Atmel芯片23腳輸入高低電平,可以控制19腳的輸出頻率,通常選擇常用的1KHz或2KHz;
2通過(guò)對(duì)Atmel芯片22腳輸入高低電平,可以控制14腳的輸出高低電平,以此來(lái)控制電機(jī)的正反轉(zhuǎn)。
具體工作過(guò)程:接好線后,閉合開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)K1,則指示燈LED亮,在中央處理單元2的控制下,通過(guò)步進(jìn)電機(jī)控制器1啟動(dòng)步進(jìn)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)。切換切換開(kāi)關(guān)K2的狀態(tài),可換步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)方向。切換選擇開(kāi)關(guān)K3可使脈沖信號(hào)在1KHz或2KHz之間變換。上述卻換后,若電機(jī)能正常運(yùn)行,正反轉(zhuǎn)功能也可以實(shí)現(xiàn),則表明步進(jìn)電機(jī)合格。
上述實(shí)施例是對(duì)本實(shí)用新型的說(shuō)明,不是對(duì)本實(shí)用新型的限定,任何對(duì)本實(shí)用新型簡(jiǎn)單變換后的方案均屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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