[實用新型]分布光度計

有效

• 申請號: 200720110252.5
• 申請日: 2007-06-05
• 公開（公告）號: CN201000363Y
• 公開（公告）日: 2008-01-02
• 發明（設計）人: 潘建根
• 申請（專利權）人: 杭州遠方光電信息有限公司
• 主分類號: G01J1/02
• 分類號: G01J1/02
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司
• 代理人: 林寶堂

技術領域

本實用新型涉及一種光和輻射測量儀器，主要用于各類光源和燈具在各方向上的光強分布或配光性能測試，以及光源和燈具的總光通量測試的分布光度計。

背景技術

空間各方向上的光強分布是光源和燈具的重要參數，分布光度計是精確測量光源和燈具的光強隨角度分布的儀器。現有的大型反射鏡式分布光度計通常有兩種方案，一種是中心轉動反射鏡式分布光度計(如GO-DS系列分布光度計)，如圖1所示，該類方案的分布光度計在測量時光學反射鏡處于轉動中心，而被測光源繞光學反射鏡轉動中心同時在圓周上運動；另一種是圓周運動反射鏡式分布光度計(如GO-R100系列分布光度計)，如圖2所示，該方案的分布光度計使被測光源處于作圓周運動的反射鏡的旋轉軸上，光學反射鏡繞被測光源旋轉，把光源所發出的光經反射鏡后反射到光學探測器上。這兩種方案雖然是目前較精確的光強分布的測量方案，但是它們卻有各自的缺陷。首先，它們都存在一個同樣的問題：暗室占用的空間很大。在需要的測量臂長(測量距離)較大時，往往要占用相當長度的暗室空間，實現測試的成本投入很大。此外，就中心轉動反射鏡分布光度計而言，被測光源要在一個相當大的空間范圍內運動，由于氣流、運動速度、加速度和離心力的必然存在，被測光源燃點時很難保證其高穩定狀態，這是這一方案無法克服的原理性問題；而就圓周運動反射鏡分布光度計而言，它的被測光源處于相對靜止狀態，且可按光源自然位置點燃，光源點燃是最穩定的，但是現有方法中面向被測光源的水平放置的光學探測器收到的被測光束光軸因斜入射到光學探測器而帶來測量誤差，而且為了接收到處于整個圓周運動的反射鏡反射過來的光線，要求光學探測器有較大的接收孔徑，這樣會讓較多的雜散光進入光學探測器，從而影響測試精度，此外，在測試不同大小和光束角的光源時，需在不同測量臂長(測量距離)下進行測量，而調節圓周運動反射鏡分布光度計的測量距離時，不僅要求調節光學探測器的位置，還要求調節接收孔徑和反射鏡的角度，從而使整個測量臂長(測量距離)調節相當復雜，而且在較長測量距離下占用暗室空間較大。

發明內容

為了克服現有分布光度計方案中存在的上述缺陷，本實用新型旨在提供一種分布光度計，以充分利用暗室空間，減少暗室占地，保持光源高度穩定，減少雜散光干擾，從而減小測量誤差，通過選用設置于不同位置的光學探測器，無需另行對準和調節儀器即可實現大的和較短的測量臂長(測量距離)；一臺分布光度計就可方便地實現包括LED、HID、鹵素燈、熒光燈等極寬范圍的多種光源和燈具的多種光和輻射分布性能精確測量的分布光度計。

本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的，即：一種分布光度計，其特征在于包括第一基座和第二基座；第一基座上設有轉動中心線，在第一基座上與轉動中心線同軸設有固定軸，燈臂一端與固定軸相連，燈臂的另一端設有被測光源的旋轉驅動裝置；使被測光源繞與轉動中心線垂直相交的自轉軸旋轉，固定軸通過外套軸承設有可繞轉動中心線轉動的轉軸，轉軸再通過外套軸承與固定于第一基座的軸形支承座相連，以增強整個分布光度計的剛度；轉軸一端剛性連接轉臂，旋轉光學反射鏡和第一光學探測器安裝在轉臂的兩端上；垂直光學反射鏡固定安裝在第二基座上，垂直光學反射鏡與轉動中心線垂直；旋轉光學反射鏡把來自被測光源的光線束反射到垂直光學反射鏡上，經垂直光學反射鏡反射后的光線束正入射到第一光學探測器；所述的旋轉光學反射鏡為圓形或橢圓形或八邊形平面光學反射鏡；所述的垂直光學反射鏡為圓形或橢圓形或八邊形平面光學反射鏡。通過垂直光學反射鏡折返光路使分布光度計所占用的暗室空間大大減少，第一光學探測器與旋轉反射鏡設在同一剛性轉臂上，確保了第一光學探測器與旋轉反射鏡在測量過程中的絕對同步，保證了測量精度。光學反射鏡除了起到反射光束作用外還起到孔徑限制光闌的作用，因此反射鏡的形狀對減少分布光度計的雜散光水平至關重要，在不產生漸暈的情況下橢圓形或八邊形的旋轉光學反射鏡和圓形或橢圓形或八邊形的垂直光學反射鏡可使反射鏡的面積盡可能小，以減少雜散光，此外盡量小的反射鏡更有利于分布光度計的剛性和減少轉動慣量，對大型高精度分布光度計而言，其剛性和轉動慣量是十分關鍵的技術指標。在轉臂上并在第一光學探測器附近設置第二光學探測器，第二光學探測器正對被測光源，第二光學探測器光軸與轉動中心線相交且垂直，并通過轉動中心線與自轉軸的交點，在不經過旋轉光學反射鏡和垂直光學反射鏡反射(此時反射鏡用不反光的黑絨布罩起來)的情況下，第二光學探測器即可在較短的距離下(通常為1到3米)實施對光源分布性能的測量，第二光學探測器的設置大大拓寬了分布光度計對小光源的測量下限。