[實用新型]625線陶瓷針柵陣列元器件老化試驗插座

無效

• 申請號: 200720109304.7
• 申請日: 2007-05-10
• 公開（公告）號: CN201113133Y
• 公開（公告）日: 2008-09-10
• 發明（設計）人: 曹宏國
• 申請（專利權）人: 曹宏國
• 主分類號: H01R33/74
• 分類號: H01R33/74;H01R13/46;H01R13/629;H01R13/639;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對625線陶瓷針柵陣列元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。

背景技術

目前，在我國可靠性技術領域，國內老化試驗插座系列產品本體材料采用的是非耐高溫普通工程塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅為-25℃～+85℃，且老化工作時間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結構簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環境弱、一致性不高和機械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領域，陶瓷針柵陣列器件高端技術產品，因無高溫老化可靠性試驗的專用裝置，不能滿足對器件性能指標的測試要求，容易引發工程質量事故。

發明內容

為克服現有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足，本實用新型提供一種高溫老化測試試驗插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25℃～+85℃擴大到-65℃～+150℃，一次老化連續工作時間長達500h(150℃)以上，插拔壽命5000次以上，而且在對被測試器件進行高溫老化試驗和性能測試過程中，具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。

本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是：按照625線陣列型的結構設計和尺寸要求，將插座設計成三大組成部分，即插座體、接觸件和鎖緊裝置。插座體由座、蓋組成，選用進口的耐高溫型特種高溫工程塑料，經高溫注塑成型工藝技術制造成插座本體，用于被試器件的定位安裝；接觸件由鈹青銅材料經線切割機切割下料及打彎成型，經300℃高溫淬火處理及電鍍硬金層技術表面鍍金，采用按中心對稱、陣列形式排列、橫向自動鎖緊和零插拔力結構安裝于插座體的座中；鎖緊裝置由滑塊和手柄組成，使當手柄受力向下翻轉90°時，由于手柄的徑向尺寸差，使滑塊產生位移，促使接觸件上端閉緊，接觸件自動鎖緊被試器件引出線以達到鎖緊被試器件的效果，通電后進行高溫老化試驗和性能測試。這種以中心對稱、陣列形式排列、橫向鎖緊式和零插拔力為設計結構的試驗插座，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環境弱、一致性差和機械壽命不長的技術難點，并可以滿足625線內被試器件不同引線的要求。

該產品接觸件和絕緣體選擇了適當材料，設計、工藝先進合理，具有橫向鎖緊、耐環境、可靠性高、零插拔力、系列化和通用化的特點。

本實用新型的有益效果是：該實用新型的研制成功填補了國內空白，替代進口，為國家節約了外匯，為用戶節約了成本。該產品經性能測試，技術指標達到了國內領先水平，不但可以滿足我國新型軍用同類625線封裝元器件和其它同類陶瓷針柵陣列器件的高溫老化試驗，也可以滿足該類產品性能測試的要求；同時也適用于各類民用電子元器件。而該實用新型的研制成功為整個系列封裝型式老化及測試插座提供了依據和參考。所以，該型產品的市場比較廣闊，可以獲得較大的經濟效益和軍事效益。

附圖說明

下面結合附圖和實例對本實用新型作進一步說明。

圖1是本實用新型的外形結構縱剖面構造圖。

圖2是本實用新型外型結構俯視圖。

圖1：1座??2壓簧??3簧片(接觸件)??4滑塊??5蓋??6手柄

圖2：7不銹鋼十字開槽圓頭螺釘

具體實施方式

在圖1中，第一步：先將滑塊4放在座1上，并與座1上的孔對齊；第二步：再將接觸件即簧片3按與被試器件引出線相對應的方式排列成陣列形式裝入座1內；第三步：裝上壓簧2，將手柄6嵌于座1和滑塊4之間；最后將蓋5按孔擺在座1上，用圖2中的不銹鋼十字開槽圓頭螺釘7將圖1中蓋5和座1固定。

該方案中，插座體用于被試器件的安裝定位，接觸件由鍍金簧片2.54mm間距按中心對稱、陣列形式排列、橫向自動鎖緊和零插拔力結構安裝于插座體的座中，與被試器件引出線相對應，鎖緊裝置由滑塊、手柄組成，安裝于插座體中。當手柄處于初始位置時，接觸件張開，放入被試器件后，手柄受力向下翻轉90°時，接觸件自動鎖緊被試器件。