[實用新型]44線陶瓷小外形封裝集成電路老化測試插座

無效

• 申請號: 200720109200.6
• 申請日: 2007-05-10
• 公開（公告）號: CN201112794Y
• 公開（公告）日: 2008-09-10
• 發明（設計）人: 曹宏國
• 申請（專利權）人: 曹宏國
• 主分類號: H01R13/46
• 分類號: H01R13/46;H01R13/11;H01R13/639;H01R13/629;G01R1/02;G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.?一種適用于44線陶瓷小外形封裝集成電路老化測試插座，其特征是：它是由插座體和接觸件兩個部分統一組成，插座體由座、蓋和鉤組成，選用進口的耐高溫型特種工程塑料，經高溫注塑成型工藝技術制造成插座本體，用于被試器件的定位安裝，同時插座體還起著扣緊裝置的作用，接觸件與被試器件引出線相對應并安裝于插座體的座中。

2.?根據權利要求1所述的44線陶瓷小外形封裝集成電路老化測試插座，其特征是：插座體和接觸件是一個統一整體，接觸件由中心對稱的44線、1.27mm的鍍金簧片縱向排列組成，分別安裝于座的2排凹槽中內。

3.?根據權利1所述的44線陶瓷小外形封裝集成電路老化測試插座，其特征是：插座的鎖緊裝置由座、鉤組成，以翻蓋式結構把接觸件設計成自動扣緊鎖式、零插拔力結構。