[實用新型]14線金屬封裝固體繼電器老化測試插座

無效

• 申請號: 200720109196.3
• 申請日: 2007-05-10
• 公開（公告）號: CN201112790Y
• 公開（公告）日: 2008-09-10
• 發明（設計）人: 曹宏國
• 申請（專利權）人: 曹宏國
• 主分類號: H01R13/46
• 分類號: H01R13/46;H01R13/11;H01R13/639;H01R13/629;G01R1/02;G01R31/327
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技術領域

本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對14線金屬封裝固體繼電器元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。

背景技術

目前，在我國可靠性技術領域，國內老化試驗插座系列產品本體材料采用的是非耐高溫普通工程塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅為-25℃～+85℃，且老化工作時間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結構簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環境弱、一致性不高和機械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領域，金屬封裝固體繼電器元器件高端技術產品，因無高溫老化可靠性試驗的專用裝置，不能滿足對器件性能指標的測試要求，容易引發工程質量事故。

發明內容

為克服現有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足，本實用新型提供一種高溫老化測試試驗插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25℃～+85℃擴大到-55℃～+150℃，一次老化連續工作時間長達1000h(150℃)以上，插拔壽命5000次以上，而且在對被測試器件進行高溫老化試驗和性能測試過程中，具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和方便使用的優點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。

本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是：按照7對14組線雙列型的結構設計和尺寸要求，將插座設計成三大組成部分，即插座體、接觸件和鎖緊裝置。插座體由座、蓋組成，選用進口的耐高溫型特種高溫工作塑料，經高溫注塑成型工藝技術制造成插座本體，用于被試器件的定位安裝；接觸件采用雙簧片結構，分別是鈹青銅材料經線切割機切割下料及打彎成型和錫磷青銅材料經車銑成型，經300℃高溫淬火處理及電鍍硬金層技術表面鍍金，采用縱向排列、自動鎖緊和零插拔力結構安裝于插座體的座中，兩排接觸件之間的距離為17.78mm；鎖緊裝置由滑塊和手柄組成，當手柄受力向下翻轉90°時，由于手柄的徑向尺寸差，滑塊產生位移，簧片1受力向靜止的簧片2運動，促使接觸件上端閉緊，接觸件自動鎖緊被試器件引出線以達到鎖緊被試器件的效果，通電后進行高溫老化試驗和性能測試。這種以縱向排列、自鎖式和零插拔力為設計結構的試驗插座，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環境弱、一致性差和機械壽命不長的技術難點；同時該實用新型可滿足14線以內、跨距為17.78mm的被試器件不同引線的要求。

本實用新型的有益效果是：可以滿足軍民通用14線和其它同類金屬雙列封裝固體繼電器元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內空白，替代進口，為國家節約了外匯，為用戶節約了成本，可以獲得較大的經濟效益、社會效益和軍事效益。

附圖說明

下面結合附圖和實例對本實用新型作進一步說明。

圖1是本實用新型的外形結構縱剖面構造圖。

圖2是本實用新型外型結構俯視圖。

圖1：1壓簧??2簧片??23簧片??14蓋??5滑塊??6座??7擋板??8手柄??9手柄球

圖2：10Φ2.2不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘

具體實施方式

在圖1中，先將接觸件即2簧片(2)插入座6中，再將滑塊5放入座6上，并將孔對齊；將接觸件即3簧片(1)按中心對稱、縱向排列結構安裝于插座體的座6中，與被試器件引出線相對應，安裝于座6的插座體上，安裝擋塊7，裝上壓簧1，手柄8嵌于座6和滑塊5之間，將蓋4按孔擺在座上，用圖2中的不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘10將圖上中蓋4和座6固定。

該方案中，插座體用于被試器件的安裝定位，接觸件由鍍金簧片5.08mm間距按中心對稱、縱向排列、自動鎖緊和零插拔力結構安裝于插座體的座中，并與被試器件引出線相對應，鎖緊裝置由滑塊、手柄組成，安裝于插座體一側。當手柄處于初始位置時，接觸件張開，放入被試器件后，手柄受力向下翻轉90°時，接觸件自動鎖緊被試器件。