[實用新型]磁方位儀校驗架無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200720103477.8 | 申請日: | 2007-02-06 |
| 公開(公告)號: | CN201003957Y | 公開(公告)日: | 2008-01-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 魏春明;李園;雷艷平;顧鳳娣 | 申請(專利權(quán))人: | 大港油田集團有限責任公司 |
| 主分類號: | G01C25/00 | 分類號: | G01C25/00 |
| 代理公司: | 北京市中實友知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 | 代理人: | 唐維寧 |
| 地址: | 30028*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 方位 校驗 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種石油鉆井行業(yè)標準磁方位儀校準裝置,尤其是涉及一種磁方位儀校驗裝置的磁方位儀校驗架。
背景技術(shù)
標準磁方位儀校準裝置中的校驗架普遍使用一種轉(zhuǎn)臺裝置。該裝置有很多品種,規(guī)格不同,材質(zhì)不同,通常都具有水平面360°均分的功能。對于大多數(shù)的精密校驗架,一般都采用內(nèi)置電路,由電機驅(qū)動轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動。隨著定向井鉆井技術(shù)的發(fā)展,定向井鉆井作業(yè)對磁方位儀的精度要求越來越高,對磁方位儀校準的誤差要求越來越小,采用內(nèi)置電路,由電機驅(qū)動轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動的校驗架由于存在磁場干擾,不能滿足儀器的校準精度要求。為了適應(yīng)定向鉆井技術(shù)的需要,出現(xiàn)了無磁的磁方位儀校驗架,而目前的無磁校驗架的主體為圓柱體,不能實現(xiàn)定位目標的傳遞,磁方位儀校準的誤差大,不能適應(yīng)鉆井作業(yè)的需要。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有無磁磁方位儀校驗架主體為圓柱體,不能實現(xiàn)定位目標傳遞,磁方位儀校準的誤差大的不足,本實用新型提供一種磁化率低,水平面360°四等分,能夠?qū)崿F(xiàn)定位目標傳遞的磁方位儀校驗架。
為了達到上述目的,本實用新型磁方位儀校驗架包括底座、蝸輪副、主軸、鎖緊裝置、托架,蝸輪副帶動主軸轉(zhuǎn)動,托架上有安裝被校儀器的夾具,鎖緊裝置用于鎖定蝸輪副。主軸上部固定安裝有鏡片架,鏡片架為四方體,四方體的四個面上固定安裝有光學反光鏡片;光學反光鏡片由調(diào)整螺絲通過壓片固定,托架固定安裝在鏡片架的上面。主軸與底座的垂直偏差度≤5″;鏡片架四個面上光學反光鏡片正交偏差≤4″,托架上平面與主軸的軸線垂直度偏差≤30″。
本實用新型磁方位儀校驗架的有益效果是,結(jié)構(gòu)簡單、操作便捷、無磁操作,校對精準。
附圖說明
圖1是本實用新型磁方位儀校驗架結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本實用新型圖1的E-E剖面圖。
圖3是本實用新型圖1的F-F剖面圖。
圖4是本實用新型中鏡片架的A向視圖。
圖中:1.底座,2.水平泡,3.殼體,4.調(diào)整螺絲,5.殼體上蓋,6.蝸桿,7.蝸輪,8.主軸,9.蝸輪副,10.鏡片架,11.鎖緊裝置,12.鏡片槽,13.光學反光鏡片,14.調(diào)整螺絲,15.壓片,16.托架,17.夾具,18.螺栓。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
本實用新型磁方位儀校驗架包括底座1、蝸輪副9、鎖緊裝置11、托架16,蝸輪副9帶動主軸8轉(zhuǎn)動,托架16上有安裝被校儀器的夾具17,鎖緊裝置用于鎖定蝸輪副9。主軸8的上部固定安裝有鏡片架10;鏡片架10為四方體,光學反光鏡片13由調(diào)整螺絲14通過壓片15固定;托架16固定安裝在鏡片架10的上面。
本實用新型磁方位儀校驗架主要包括底座、主體和臺架三部分。
底座1為三角形,三個角分別安裝調(diào)整螺絲4,通過調(diào)節(jié)調(diào)整螺絲調(diào)節(jié)底座1水平度;底座1有水平泡2,用于檢測底座水平度。安裝時要求底座水平泡居中,主軸8與底座1的垂直偏差≤5″。底座1也可以是其他形狀,3個調(diào)整螺絲4呈三角形排列。
主體可分為主體上部和主體下部。主體下部主要包括蝸輪副9、鎖緊裝置11、主軸8的下部、殼體3以及殼體上蓋5等。殼體3固定安裝在底座1上,蝸桿6安裝在殼體3上,蝸輪7與主軸8固定連接。轉(zhuǎn)動蝸桿6,帶動蝸輪7旋轉(zhuǎn),再由蝸輪7帶動主軸8旋轉(zhuǎn);鎖緊裝置11用于鎖定蝸輪副9。主軸8的下部位于殼體3中;殼體上蓋5的內(nèi)孔與主軸8的外圓為間隙配合,并將主軸8的下部密封在殼體3內(nèi)。
主體上部主要包括主軸8的上部、鏡片架10、光學反光鏡片13。主軸8上部固定安裝有鏡片架10,鏡片架10的外表面為正四方體,四方體的四面有等深的鏡片槽12,光學反光鏡片13安裝在鏡片槽12中,光學反光鏡片13由調(diào)整螺絲14通過壓片15固定。通常每個光學反光鏡片13由沿鏡片圓周均布的3個調(diào)整螺絲14固定。通過調(diào)節(jié)調(diào)整螺絲14可以調(diào)整光學反光鏡片13,使鏡片架10四個面上光學反光鏡片13正交偏差≤4″。
臺架包括托架16和夾具17。托架16由螺栓18固定安裝在鏡片架10的上面,托架16上固定安裝有夾具17。夾具17用于固定被校準的儀器。托架16上平面與主軸8的垂直度偏差≤30″。
本實用新型磁方位儀校驗架為了達到無磁操作,選用無磁性能好的材料制作零部件,如H62、YL12等材料;同時轉(zhuǎn)動機構(gòu)采用手動機械調(diào)整,在磁方位儀校驗架主體部分不引入任何電路,由此保證校驗架無磁。
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