[實用新型]用于測量輕元素的光路結構

無效

• 申請號: 200720096483.5
• 申請日: 2007-06-22
• 公開（公告）號: CN201047831Y
• 公開（公告）日: 2008-04-16
• 發明（設計）人: 張磊
• 申請（專利權）人: 天津市博智偉業科技有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司
• 代理人: 王融生

技術領域

本實用新型屬于光譜儀的光路結構，特別涉及一種用于測量輕元素的光路結構。

背景技術

在用于測量輕元素的小型臺式X熒光光譜儀中，試樣產生的X熒光在光路中的強度損失和由于試樣散射的初級X射線造成的背景譜線干擾，是影響測量精度的主要原因。

發明內容

本實用新型所要解決的技術問題是：提供一種用于測量輕元素的光路結構。

本實用新型的技術方案是：

一種用于測量輕元素的光路結構，其特征在于：在樣品盒下方連接測量支架，測量支架側下方有正對樣品盒內待測試樣臺的X射線出口，測量支架正下方有次級濾光片支架，次級濾光片支架下是正比計數管的鈹窗。

正比計數管連接前置放大器。

正比計數管外有金屬屏蔽盒。

正比計數管連接正比計數管電源。

本實用新型效果是：可以準確地測量輕元素光譜。

其特點：探測器(正比計數管)完全屏蔽。加入次級濾光片。

附圖說明

圖1是用于測量輕元素的光路結構的結構示意圖

圖紙標記說明?1正比計數管，2金屬屏蔽盒，3次級濾光片支架，4測量支架?5?X射線出口，6樣品盒，7待測試樣，8前置放大器，9正比計數管電源，10鈹窗。

具體實施方式

用于測量輕元素的光路結構，在樣品盒下方連接測量支架，測量支架側下方有正對樣品盒內待測試樣臺的X射線出口，測量支架正下方有次級光片支架，次級光片支架下是鈹窗，鈹窗下是正比計數管。正比計數管連接前置放大器。正比計數管外有金屬屏蔽盒。正比計數管連接正比計數管電源。

實例：小型臺式能量色散X熒光光譜儀用于測量輕元素的一種光路結構：本設計采取幾種措施來解決上述問題。首先，正比計數管1被安裝在平均厚度大于5毫米的金屬屏蔽盒2內，前置放大器8和正比計數管的電源9也被安裝在用一屏蔽盒內，以提高信噪比。其次，減小待測試樣7和正比計數管窗10之間的距離，并在鈹窗10前的X射線熒光光路中增加了一個次級濾光片，安裝在次級濾光片支架3上，以減小X射線熒光強度在光路中的損失和增強X射線熒光光譜的相對強度。初級X射線照射到待測試樣7，激發X射線熒光。它經過試樣7和計數管窗10之間的空間時，能量較低的的X射線熒光光量子將受到空氣分子較明顯的散射和吸收，使其強度損失。由于本設計中7-10之間的距離較小，所以減小了X射線熒光的損失。在正比計數管窗前的光路中增加了次級濾光片，使得X射線熒光和被試樣散射的初級X射線在進入正比計數管前，先要穿過它。對于不同的待測元素，選擇適當的材料和適當厚度的濾光片，則輕元素的X射線熒光穿過次級濾光片后損失很小，而與其能量相近的散射X射線被濾光片強烈吸收。最終使得X射線熒光光譜在其背景上相對得到增強，對輕元素含量的測量精度有較大提高。

本光路已經成功應用于測量油品中硫含量的小型能量色散X射線熒光光譜儀中。