[實用新型]一種用CCD測量光強突變位置的檢測電路

無效

• 申請號: 200720075330.2
• 申請日: 2007-10-09
• 公開（公告）號: CN201075031Y
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: 方華;李弢;張太會
• 申請（專利權）人: 上海光子光電傳感設備有限公司
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44;G08C17/02;G08C19/00;H04L29/00
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司
• 代理人: 俞宗耀

1.一種用CCD測量光強突變位置的檢測電路，包括信號光源、線陣CCD器件、A/D轉換器、CPLD驅動控制電路、微處理器控制電路和外圍終端模塊，其特征在于：所述線陣CCD器件感光面接收信號光源光線的照射，所述CPLD驅動控制電路產生的工作時序與所述線陣CCD器件輸入電連接，所述線陣CCD器件輸出依次與運算放大器、A/D轉換器電連接，所述A/D轉換器輸出通過CPLD驅動控制電路的數據與指令通道依次與后端微處理器控制電路、外圍終端模塊電連接。

2.根據權利要求1所述一種用CCD測量光強突變位置的檢測電路，其特征在于：所述A/D轉換器輸出通過CPLD驅動控制電路與SRAM外部存儲器電連接，所述CPLD驅動控制電路根據自定義數據傳輸協議，通過數據與指令通道與后端微處理器控制電路電連接。

3.根據權利要求1所述一種用CCD測量光強突變位置的檢測電路，其特征在于：所述微處理器控制電路采用了以ARM為核心的高速嵌入式處理器。

4.根據權利要求1所述一種用CCD測量光強突變位置的檢測電路，其特征在于：所述微處理器控制電路輸入與溫度控制器電連接。