[實用新型]透過率脈動法顆粒測量裝置

無效

• 申請號: 200720071745.2
• 申請日: 2007-06-27
• 公開（公告）號: CN201063015Y
• 公開（公告）日: 2008-05-21
• 發明（設計）人: 沈建琪;蔡小舒;于彬
• 申請（專利權）人: 上海理工大學
• 主分類號: G01N15/00
• 分類號: G01N15/00;G01N21/59;G06F19/00;G06F17/15
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司
• 代理人: 吳寶根

1.一種透過率脈動法顆粒測量裝置，其特征在于，它由測量區、獲得入射光強度的參考光探測器、產生光束線度范圍在10微米到1.5毫米之間的窄光束產生器、光電探測器和與其連接的信號處理裝置構成。

2.根據權利要求1所述的透過率脈動法顆粒測量裝置，其特征在于，所述的窄光束產生器由產生平行光束的激光器、分束器、擴束器、凸透鏡或透鏡組構成，由激光器發射出的寬光束經擴束器后，通過凸透鏡或透鏡組會聚，在焦點附近的瑞利區得到窄光束。

3.根據權利要求1所述的透過率脈動法顆粒測量裝置，其特征在于，所述的窄光束產生器由產生平行光束的激光器和在光信號發射端和光信號接收端設置的光闌或光導纖維構成，通過激光器發射出的寬光束在傳播方向上設置的光闌或光導纖維得到窄光束。

4.根據權利要求1所述的透過率脈動法顆粒測量裝置，其特征在于，所述的窄光束產生器由產生平行光束的激光器和微元信號探測器構成，所述的微元光電探測器由微小受光面積的由硅光薄膜材料制成的光電探測單元構成。

5.根據權利要求3、4所述的透過率脈動法顆粒測量裝置，其特征在于，所述的窄光束產生器中的光闌形狀為矩形孔或圓孔，光導纖維受光面的形狀為圓形孔，微元信號探測器的受光面形狀為圓形或多邊形的形狀。

6.根據權利要求1所述的透過率脈動法顆粒測量裝置，所述的信號處理裝置包括模擬信號處理器和信號后續處理器，所述的模擬信號處理器由放大器、低通濾波器、高通濾波器、RMS方均根處理器組成，透射光探測器檢測到的透射光脈動信號通過放大器放大，一路經低通濾波器得到透射光平均值e{I}表示為S1的信號，另一路直接經方均根RMS處理器得到表示為S2’的透射光脈動信號平方的平均值e{I2}=e{I}2+σI2]]>或通過高通濾波器再經方均根RMS處理器得到表示為S2的透射光脈動信號標準偏差平方值σ_I²，參考光探測器輸出經另一放大器放大后得到表為S0的入射光信號I₀；所述的信號后續處理器包括加法器、乘法器、除法器、對數放大器，由模擬信號處理器得到的S0、S1、S2、S2’信號通過加法器、乘法器、除法器、對數放大器運算得到最后S3輸出lne{T}、S4輸出lne{T²}/lne{T}進入數據采集A/D卡。