[實用新型]消除讀數視差的光學器件無效
| 申請號: | 200720045009.X | 申請日: | 2007-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN201096993Y | 公開(公告)日: | 2008-08-06 |
| 發明(設計)人: | 徐毅剛 | 申請(專利權)人: | 無錫市星迪儀器有限公司 |
| 主分類號: | G02B27/32 | 分類號: | G02B27/32 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務所 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214028江蘇省無錫市新*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 消除 讀數 視差 光學 器件 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種光學器件,尤其是指一種消除讀數視差的光學器件。
背景技術
在測量讀數時,為了消除視差帶來的讀數誤差,通常要將指標刻線與讀數刻線盡可能的重合。若受條件限制,指標與讀數刻線之間有較大間隙時,隨著人眼觀察位置的不同將造成讀數的差異。為此需要采用各種手段消除讀數的視差,以保證測量的準確性。
發明內容
本實用新型的目的在于設計一種消除讀數視差的光學器件,采用一個單一的簡單零件即可消除讀數時的視差。
按照本實用新型提供的技術方案,所述消除讀數視差的光學器件包括光學底平面與光學后平面及光學上表面,其特征是:在光學底平面上設置指標刻線,在光學后平面上設置校準刻線;光學底平面與光學后平面相交,光學上表面與光學后平面相交,指標刻線與校準刻線相交。
所述指標刻線與校準刻線均為直線,并且指標刻線及校準刻線分別與光學底平面和光學后平面的交線垂直相交。光學底平面與光學后平面垂直相交。所述光學上表面為傾斜的表面,光學上表面與光學后平面相交的一側高于光學上表面的另一側。或者,所述光學上表面為傾斜的光學球面,光學球面與光學后平面相交的一側高于光學球面的另一側。
本實用新型的優點是:采用單一零件結構緊湊簡單,可靠性好,讀數清晰準確。
附圖說明
圖1為本實用新型的立體圖。
圖2為本實用新型的另一個方向的立體圖。
具體實施方式
如圖所示:所述消除讀數視差的光學器件包括光學底平面2與光學后平面3及光學上表面,在光學底平面2上設置指標刻線4,在光學后平面3上設置校準刻線5;光學底平面2與光學后平面3相交,光學上表面與光學后平面3相交,指標刻線4與校準刻線5相交。
一種比較好的方案是:指標刻線4與校準刻線5均為直線,并且指標刻線4及校準刻線5分別與光學底平面2和光學后平面3的交線垂直相交。
光學底平面2與光學后平面3相交;
所述光學上表面可以設置成傾斜的表面,并且,光學上表面與光學后平面3相交的一側高于光學上表面的另一側。
比較理想的方案是:將光學上表面設置為傾斜的光學球面1,光學球面1與光學后平面3相交的一側高于光學球面1的另一側。這種球面可以在觀看時產生放大作用,使觀察的對象更加清晰。
其消除視差的原理是:當觀測者通過光學球面1觀察光學底平面2下的讀數刻線時,光學球面1作為一個放大鏡對讀數進行放大,同時可用指標刻線4對準讀數刻線進行讀數。此時,光學后平面3相對于指標刻線4滿足全反射條件,因而將指標刻線4成像于后方,形成反射像。若觀測者處于不正確的觀測位置時,指標刻線4的反射像與校準刻線5不重合而形成一個夾角。當移動觀測位置至指標刻線4的反射像與校準刻線5重合時,則觀測點處于正確位置,視差得以消除。
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