[實用新型]電壓突波測試裝置

無效

• 申請號: 200720035719.4
• 申請日: 2007-03-27
• 公開（公告）號: CN201025484Y
• 公開（公告）日: 2008-02-20
• 發明（設計）人: 逄錦軼
• 申請（專利權）人: 神訊電腦(昆山)有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

【技術領域】

本實用新型是一種電壓突波測試裝置，特別是一種可產生間隙性電壓突波的電壓突波測試裝置。

【背景技術】

當電源所接負載設備中，附近高電流的設備在關機后，在電力的運送中會造成慣性的電壓突波。一般計算機或精密設備均有設計一定的電壓范圍，以接受此種狀況之發生。但若此電壓突波超過所設范圍將會損壞設備組件(例如風扇)而導致故障與壽命減短。

因此，對設備組件的耐突波能力測試顯得非常重要，但目前的測試裝置中并未涉及耐突波的測試。

【發明內容】

本實用新型的主要目的在于提供一種可產生間隙性電壓突波的電壓突波測試裝置。

為達上述目的，本實用新型提供一種電壓突波測試裝置，其電性連接一設備組件以測試該設備組件的耐突波能力，且該電壓突波測試裝置包括一第一電壓輸入端及一控制模塊，且該控制模塊具有一電壓控制端，且該電壓控制端間隙性輸出高電壓與低電壓；該控制模塊電性連接一第一場效應晶體管，且該第一場效應晶體管設有一第一柵極、一第一源極及一第一漏極，其中，該第一柵極電性連接電壓控制端，該第一源極接地，第一漏極電性連接一分壓電阻的一端：而該分壓電阻的另一端電性連接一第二電壓輸入端；且該第一場效應晶體管電性連接一第二場效應晶體管，且該第二場效應晶體管設有一第二柵極、一第二源極及一第二漏極，其中，第二柵極電性連接第一漏極，第二源極電性連接第二電壓輸入端，第二漏極電性連接一壓控開關的負極，而該壓控開關的正極電性連接第一電壓輸入端。另，該第二漏極電性連接一電壓輸出端，且該電壓輸出端電性連接該設備組件的輸入端。

相較于現有技術，本實用新型可產生間隙性電壓突波，當電壓控制端為高電壓時，第一場效應晶體管與第二場效應晶體管均為斷開狀態，此時，電壓輸出端輸出的電壓來自第一電壓輸入端；而當電壓控制端為低電壓時，第一場效應晶體管與第二場效應晶體管均為導通狀態，電壓輸出端的電壓來自第二電壓輸入端；因此，電壓輸出端的電壓即為二種電壓的交替，可作為設備組件的突波測試電壓，從而滿足測試的要求。

【附圖說明】

圖1為本實用新型電壓突波測試裝置的電路圖。

【具體實施方式】

請參閱圖1所示，本實用新型電壓突波測試裝置電性連接一設備組件80(例如風扇)以測試該設備組件80的耐突波能力，且該電壓突波測試裝置包括一第一電壓輸入端11及一控制模塊20，于本實施例中，該控制模塊20為8051芯片。且該控制模塊20包括一電源端22及至少一電壓控制端21(該控制模塊20共設有二十四個電壓控制端21，可同步測試二十四個設備組件80)，其中，該電源端22可電性連接一外部電源，也可間接地電性連接第一電壓輸入端11；而該電壓控制端21間隙性輸出高電壓與低電壓；于本實施例中，該控制模塊20的電壓控制端21電性連接一上拉電阻31的一端，而該上拉電阻31的另一端電性連接一第一二極管32的負極，而該第一二極管32的正極電性連接第一電壓輸入端11及控制模塊20的電源端22。該控制模塊20電性連接一第一場效應晶體管40，且該第一場效應晶體管40設有一第一柵極41、一第一源極42及一第一漏極43，其中，該第一柵極41電性連接電壓控制端21，該第一源極42接地，第一漏極43電性連接一分壓電阻50的一端；而該分壓電阻50的另一端電性連接一第二電壓輸入端12；且該第一場效應晶體管40電性連接一第二場效應晶體管60，且該第二場效應晶體管60設有一第二柵極61、一第二源極62及一第二漏極63，其中，第二柵極61電性連接第一漏極43。且第二源極62電性連接該第二電壓輸入端12；于本實施例中，第二源極62與第二電壓輸入端12之間串聯一單向導通模塊90(該單向導通模塊90由六個第二二極管91同向串聯而成)，且該單向導通模塊90的正輸入端電性連接第二電壓輸入端12，而該單向導通模塊90的負輸入端電性連接第二源極62。而第二漏極63電性連接一壓控開關33的負極，而該壓控開關33的正極電性連接第一電壓輸入端11；于本實施例中，該壓控開關33為二極管，且該二極管的正極電性連接第一電壓輸入端11，而該二極管的負極電性連接第二漏極63。且該第二漏極63電性連接一電壓輸出端70，且該電壓輸出端70電性連接該設備組件80的輸入端。

當電壓控制端21為高電壓時，第一場效應晶體管40與第二場效應晶體管60均為斷開狀態，此時，電壓輸出端70輸出的電壓來自第一電壓輸入端11；而當電壓控制端21為低電壓時，第一場效應晶體管40與第二場效應晶體管60均為導通狀態，電壓輸出端70的電壓來自第二電壓輸入端12；因此，電壓輸出端70的電壓即為二種電壓的交替，可作為設備組件80的突波測試電壓。

現舉一實例加以說明，設備組件80的工作電壓設為5-7.8V，上拉電阻31及分壓電阻50的阻值設為10K歐姆，且第一二極管32、壓控開關33及第二二極管91的正向導通電壓為0.1V，而第一電壓輸入端11外接5.1V電壓源，第二電壓輸入端12外接8.6V電壓源。當電壓控制端21為高電壓時，第一場效應晶體管40與第二場效應晶體管60均為斷開狀態，此時，電壓輸出端70輸出的電壓來自第一電壓輸入端11，扣除壓控開關33的正向導通電壓0.1V，便得到電壓輸出端70輸出的電壓為5V；而當電壓控制端21為低電壓時，第一場效應晶體管40與第二場效應晶體管60均為導通狀態，電壓輸出端70的電壓來自第二電壓輸入端12，扣除六個第二二極管91的正向導通電壓0.6V，便得到電壓輸出端70輸出的電壓為8V。通過控制模塊20的控制，電壓控制端21會間隙性輸出高電壓與低電壓，以使電壓輸出端70處的電壓在5V與8V(超出正常工作時的7.8V，即為突波)之間交替變換，充分模擬了電壓突波的測試環境。