[實(shí)用新型]雙光束激光粒度儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720025702.0 | 申請(qǐng)日： | 2007-07-27 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN201060153Y | 公開（公告）日： | 2008-05-14 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 任中京;邱立志 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 任中京 |
| 主分類號(hào)： | G01N15/02 | 分類號(hào)： | G01N15/02;G01N21/17 |
| 代理公司： | 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 | 代理人： | 姜明 |
| 地址： | 250100山東省濟(jì)南*** | 國(guó)省代碼： | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光束 激光 粒度 | ||
1.雙光束激光粒度儀，包括氦氖激光器、電動(dòng)光闌、擴(kuò)束鏡和傅立葉透鏡，其特征在于氦氖激光器后依次設(shè)置有電動(dòng)光闌、擴(kuò)束鏡和傅立葉透鏡，反射鏡一設(shè)置在傅立葉透鏡的后側(cè)，反射鏡二設(shè)置在光學(xué)導(dǎo)軌中與反射鏡一相對(duì)應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌中設(shè)置有與反射鏡二相對(duì)應(yīng)的樣品池，樣品池與反射鏡二之間設(shè)置有垂直光學(xué)導(dǎo)軌的半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器的前方設(shè)置有反射鏡三，反射鏡三與樣品池相對(duì)應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌的頂部設(shè)置有探測(cè)器組，光學(xué)導(dǎo)軌的端部設(shè)置有陣列光電探測(cè)器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙光束激光粒度儀，其特征在于反射鏡二反射光束垂直照射樣品池，反射鏡三反射光束從后方傾斜照射樣品池，二光束的夾角在30度至60度之間，可測(cè)量的后向散射角度最大為175度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙光束激光粒度儀，其特征在于樣品池為矩形立方體，四面透光，空心部分厚度3-10毫米。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙光束激光粒度儀，其特征在于光電探測(cè)器組是由若干光電探測(cè)單元組成，沿光學(xué)導(dǎo)軌方向直線形排列。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于任中京，未經(jīng)任中京許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720025702.0/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：簡(jiǎn)易水質(zhì)取樣裝置
- 下一篇：一種線纜穿接框
