[實用新型]測試模塊

無效

• 申請號: 200720004648.1
• 申請日: 2007-04-19
• 公開（公告）號: CN201035106Y
• 公開（公告）日: 2008-03-12
• 發明（設計）人: 林保煒;葉國文
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 陳小雯;李曉舒

1.一種測試模塊，可用于測試具有一固定蓋的一電子裝置，其特征在于，該測試模塊包括：一第一轉接板，其可容置于該固定蓋內，該第一轉接板的其中一平面包括多個第一接觸部，另一平面包括多個第二接觸部，該第一轉接板內包括多個第一導線，各個該多個第二接觸部通過各個該多個第一導線與各個該多個第一接觸部電連接，其中該多個第二接觸部之間距小于該多個第一接觸部的間距。

2.如權利要求1所述的測試模塊，其特征在于，該測試模塊更包括：一導電片，該導電片內包括多個導電部，至少一部分該多個導電部可與該多個第二接觸部電連接；一第二轉接板，置于該導電片之上，該第二轉接板的其中一平面包括多個第三接觸部，另一平面包括多個第四接觸部，該第二轉接板內包括多個第二導線，各個該多個第四接觸部通過各個該多個第二導線與各個該多個第三接觸部電連接，其中該多個第四接觸部的間距大于該多個第三接觸部的間距。

3.如權利要求2所述的測試模塊，其特征在于，該多個第一接觸部的間距等于該多個第四接觸部的間距。

4.如權利要求2所述的測試模塊，其特征在于，該多個第二接觸部的間距等于該多個第三接觸部的間距。

5.如權利要求4所述的測試模塊，其特征在于，該多個第二接觸部的間距介于0.2mm至0.6mm之間。

6.如權利要求2所述的測試模塊，其特征在于，該第二轉接板位于該固定蓋外側。

7.如權利要求2所述的測試模塊，其特征在于，該導電片具有彈性。

8.如權利要求1所述的測試模塊，其特征在于，該多個第二接觸部的間距介于0.6mm至1mm之間。

9.如權利要求1所述的測試模塊，其特征在于，該電子裝置為一中央處理器模塊。