[發(fā)明專利]超聲測厚儀及其單晶探頭和雙晶探頭識別方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710308465.3
• 申請日: 2007-12-29
• 公開（公告）號: CN101469979A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發(fā)明（設計）人: 孫磊;曹永超;彭雪蓮;徐西剛
• 申請（專利權）人: 北京時代之峰科技有限公司
• 主分類號: G01B17/02
• 分類號: G01B17/02
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 田 野

1.一種超聲測厚儀的單晶探頭和雙晶探頭識別方法，其特征在于，該方法包括：

將發(fā)射電路和接收電路同時與第一探頭插座接通，根據是否接收到反射波信號，判斷所述第一探頭插座上是否連接有超聲晶片；

將發(fā)射電路和接收電路同時與第二探頭插座接通，根據是否接收到反射波信號，判斷所述第二探頭插座上是否連接有超聲晶片；以及

根據上述判斷結果，超聲測厚儀識別是否有超聲探頭，超聲探頭為單晶探頭還是雙晶探頭，并采用相應的測量模式。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：當接收到反射波信號時，則插座上連接有超聲晶片。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于：當判斷結果為第一探頭插座和第二探頭插座都沒有接超聲晶片時，采用無探頭模式。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于：當判斷結果為第一探頭插座和第二探頭插座只有1個超聲晶片時，采用單晶探頭測量模式。

5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于：當判斷結果為第一探頭插座和第二探頭插座都連接有超聲晶片時，采用雙晶探頭測量模式。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于：當采用雙晶探頭測量模式時，將發(fā)射電路和接收電路分別連接到所述第一探頭插座和所述第二探頭插座。

7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于：當采用單晶探頭測量模式時，將發(fā)射電路和接收電路同時連接到連接有超聲晶片的探頭插座上。

8.一種超聲測厚儀，該超聲測厚儀包括顯示器、鍵盤、處理單元、控制邏輯電路、發(fā)射電路、接收電路、兩個探頭插座和探頭，其中處理單元連接顯示器并控制邏輯電路，邏輯電路連接發(fā)射電路和接收電路，探頭與探頭插座連接，其特征在于：

該超聲測厚儀還包括通路切換電路，設置在發(fā)射電路和接收電路與兩個探頭插座之間，該通路切換電路接收處理單元的控制信號，使發(fā)射電路和接收電路與兩個探頭插座連接或斷開。

9.根據權利要求8所述的超聲測厚儀，其特征在于：在識別探頭時，通路切換電路將發(fā)射電路和接收電路切換至連接同一個探頭插座，當接收信號中包含發(fā)射超聲波信號和延遲塊界面回波信號時，則接有超聲晶片，否則沒有接超聲晶片。

10.根據權利要求8所述的超聲測厚儀，其特征在于：在選擇測量模式時，通路切換電路將發(fā)射電路切換至連接一個探頭插座，當接收到反射波信號時，則判定該探頭插座連接有超聲晶片，否則沒有超聲晶片；通路切換電路將發(fā)射電路切換至連接另一個探頭插座，當接收到反射包信號時該探頭插座連接有超聲晶片，否則沒有超聲晶片；當兩個探頭插座上都連接有超聲晶片時，處理單元控制采用雙晶探頭測量模式；當兩個探頭插座上只有一個連接有超聲晶片時，處理單元控制采用單晶探頭測量模式；兩個探頭插座上沒有連接有超聲晶片時，處理單元控制采用無探頭模式。

11.根據權利要求10所述的超聲測厚儀，其特征在于：當采用雙晶探頭測量模式，處理單元控制通路切換電路將發(fā)射電路連接到一個探頭插座，將接收電路連接到另一個探頭插座。

12.根據權利要求11所述的超聲測厚儀，其特征在于：鍵盤輸入指令，通過一個探頭插座給探頭一個發(fā)射信號，由探頭發(fā)射超聲波脈沖并將超聲脈沖反射信號通過另一個探頭插座反饋給處理單元，處理單元將信號經過處理獲得的數據傳送給液晶屏顯示。

13.根據權利要求10所述的超聲測厚儀，其特征在于：當采用單晶探頭測量模式，處理單元控制通路切換電路將發(fā)射電路和接收電路同時連接到有超聲晶片的探頭插座上。

14.根據權利要求13所述的超聲測厚儀，其特征在于：鍵盤輸入指令，通過連接有超聲晶片的探頭插座給探頭一個發(fā)射信號，由探頭發(fā)射超聲波脈沖并將超聲脈沖反射信號通過連接有超聲晶片的探頭插座反饋給處理單元，處理單元將信號經過處理獲得的數據傳送給液晶屏顯示。

15.根據權利要求8所述的超聲測厚儀，其特征在于：所述通路切換電路包括兩個繼電器。