[發明專利]有源矩陣顯示裝置和電子裝置

有效

• 申請號: 200710307764.5
• 申請日: 2007-09-11
• 公開（公告）號: CN101202014A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: 山下淳一;內野勝秀
• 申請（專利權）人: 索尼株式會社
• 主分類號: G09G3/30
• 分類號: G09G3/30;G09G3/32;H01L27/32
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 黃小臨

技術領域

本發明涉及具有諸如有機EL設備的發光設備作為像素的有源矩陣顯示裝置，并涉及結合這種顯示裝置的電子裝置。本發明特別涉及校正具有缺陷的像素的技術。

背景技術

近些年來，有機電致發光(EL)顯示裝置作為平板屏幕顯示裝置已經受到關注。由于該有機EL顯示裝置使用自發光設備作為像素，實現了寬視角，并進一步消除了對背光的需要，因此實現薄顯示裝置。此外，這種有機EL顯示裝置的使用降低了功率損耗，并導致即時響應。

這種有機EL顯示裝置包括基板和以矩陣方式排列于其上的有機EL設備。每個有機EL設備包括陽電極和陰電極以及夾在陽電極和陰電極之間并具有發光功能的有機發光層。

當生產有機EL設備時，如果大氣中細小的污染物顆粒在粘附在陽極和陰極之間，則生成短路缺陷。在該情況下，有機EL設備不發射得以識別出所謂暗點缺陷的光。已經發展并公開了校正這種暗點缺陷的技術，例如在公開號為2003-178871、2003-233329和2003-280593的日本未審查專利申請中。

公開號為2003-178871的日本未審查專利申請公開了當由于短路而生成缺陷部分時，使用光學顯微鏡在具有暗點的像素中發現缺陷部分的技術。當發現短路缺陷部分時，發射激光束，使得短路缺陷部分處的有機EL層被隔離。當隔離了短路缺陷部分時，像素正常發光，即，校正了像素。

公開號為2003-233329的日本未審查專利申請公開了發射激光束到與有機EL設備中的暗點對應的短路缺陷部分上，以移除排列在包括像素中短路缺陷部分的區域中的電極。從而，其中電極被移除的有機EL設備的部分不發光。然而，由于電流流經有機EL設備的其余部分，所以像素發射光。因而，像素基本正常化。

公開號為2003-280593的日本未審查專利申請公開了使用包括多個子像素的像素的有源驅動顯示裝置。該顯示裝置包括至少一個像素單元，該像素單元具有由光調制設備形成的像素并具有用于驅動控制像素的有源設備，以驅動包括第一子像素和第二子像素的有源驅動顯示裝置。顯示裝置包括用于驅動控制第一子像素的第一子像素控制器，以顯示包括中間色的多色調，并包括用于驅動控制第二子像素的第二子像素控制器，以進行亮顯示或暗顯示的二元顯示。

發明內容

在公開號為2003-178871和2003-233329的日本未審查專利申請中公開的恢復像素技術中，激光束發射到小區域上，即包括有機EL設備的短路缺陷的部分上，以校正缺陷像素。具體地，在公開號為2003-178871的日本未審查專利申請中，通過向缺陷部分中的有機EL層發射激光束來隔離該缺陷部分中的有機EL層。在公開號為2003-233329的日本未審查專利申請中，缺陷部分中的電極被移除。在這兩種情況下，將激光束發射到小區域上，即短路缺陷部分上，并且這使得校正處理很困難。而且，由于這種缺陷部分通常是小部分，需要很大努力使用顯微鏡來發現該缺陷部分。此外，由于將激光束發射到小區域上，校正處理變得復雜。

在公開號為2003-280593的日本未審查專利申請中，公開了一種處理暗點缺陷的技術，其中在像素中提供多個驅動晶體管作為子像素，并且排列子像素以使它們重疊并集成在像素中。然而在該技術中，驅動晶體管和開關晶體管的數量與子像素數量成比例地增加。另外，信號線數量和像素電容量也增加了。像素電路元件增加的數量是高分辨率面板生產中難度的重要因素。因而，現有技術具有使高分辨率面板的生產困難的缺點，并且沒有滿足當前高分辨率面板的強烈需求。