[發明專利]閃存器件以及擦除閃存器件的方法有效
| 申請號: | 200710306291.7 | 申請日: | 2007-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN101241760A | 公開(公告)日: | 2008-08-13 |
| 發明(設計)人: | 李政禹;金大漢 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G11C16/14 | 分類號: | G11C16/14;G11C16/34 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 錢大勇 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 閃存 器件 以及 擦除 方法 | ||
1、一種在閃存器件中擦除多個存儲單元的方法,該方法包括:
對具有比第一編程驗證電壓低的閾值電壓的已擦除的存儲單元執行第一后編程操作;并且
對在具有比第二編程驗證電壓低的閾值電壓的已擦除的存儲單元執行第二后編程操作,
其中所述第二編程驗證電壓比所述第一編程驗證電壓低。
2、如權利要求1所述的方法,其中所述第一編程驗證電壓是在擦除狀態中的閾值電壓分布的最低電壓。
3、如權利要求1所述的方法,進一步包括:
緊隨所述第一后編程操作執行后編程驗證操作,以用于檢測被編程的具有比第一編程驗證電壓低的閾值電壓的存儲單元。
4、如權利要求3所述的方法,其中,當后編程驗證操作沒有檢測到被編程的具有比第一編程驗證電壓低的閾值電壓的存儲單元時,不執行第二后編程操作。
5、一種在閃存器件中擦除多個存儲單元的方法,該方法包括:
執行后編程操作以對具有比第一編程驗證電壓低的閾值電壓的已擦除存儲單元進行編程;并且
檢測具有比擦除狀態中的閾值電壓分布的最高電壓高的電壓的已擦除存儲單元。
6、如權利要求5所述的方法,進一步包括:
對具有比第二編程驗證電壓低的閾值電壓的已擦除存儲單元執行第二后編程操作,
其中第二編程驗證電壓比第一編程驗證電壓低。
7、如權利要求6所述的方法,其中,第一編程驗證電壓是在擦除狀態中的閾值電壓分布的最低電壓。
8、如權利要求5所述的方法,其中,當檢測到的存儲單元是被后編程有高于擦除狀態中閾值電壓分布的最高電壓的閾值電壓時,閃存器件被確定為有故障。
9、一種在閃存器件中擦除多個存儲單元的方法,該方法包括:
選擇要對其執行后編程操作的存儲單元,其中選擇的存儲單元具有比第一編程驗證電壓低的閾值電壓;
利用比第一編程驗證電壓低的第二編程驗證電壓對選擇的存儲單元執行編程驗證操作;以及
檢測具有比在擦除狀態中閾值電壓分布的最高電壓高的閾值電壓的已擦除存儲單元。
10、如權利要求9所述的方法,進一步包括:
在選擇要在其上執行后編程操作的存儲單元之前,擦除所述存儲單元。
11、如權利要求9所述的方法,其中,檢測已擦除存儲單元包括:
在存儲單元上執行擦除驗證操作。
12、如權利要求11所述的方法,進一步包括:
當存在檢測到的被編程的具有比擦除狀態中閾值電壓分布的最高電壓高的閾值電壓的已擦除存儲單元時,基于擦除驗證操作結果,確定閃存器件是有故障的。
13、如權利要求11所述的方法,進一步包括:
當不存在檢測到的具有比擦除狀態中閾值電壓分布的最高電壓高的閾值電壓的已擦除存儲單元時,基于擦除驗證操作結果,結束擦除操作。
14、如權利要求9所述的方法,其中,檢測已擦除存儲單元包括:
在存儲單元上執行讀操作。
15、如權利要求14所述的方法,其中,讀操作包括字線電壓,其中該字線電壓高于在擦除狀態中閾值電壓分布的最高電壓。
16、一種閃存器件,包括:
包括多個存儲單元的單元陣列;
感測放大器,其連接到存儲單元的位線,用于感測在每個存儲單元中的編程的數據;
寫驅動器,其連接到存儲單元的位線,用于提供編程數據給單元陣列;
電壓發生器,用于提供編程電壓、第一編程驗證電壓、低于第一編程驗證電壓的第二編程驗證電壓、以及高于第一編程驗證的擦除驗證電壓中的至少一種電壓給選擇的存儲單元的字線;以及
控制邏輯,用于控制電壓發生器和寫驅動器,以對具有比第一編程驗證電壓低的閾值電壓的已擦除存儲單元執行后編程操作,以及在擦除操作期間檢測具有比擦除狀態中閾值電壓分布的最高電壓高的閾值電壓的已擦除存儲單元。
17、如權利要求16所述的閃存器件,其中,第一編程驗證電壓是字線電壓,該字線電壓指示存儲單元是否被過擦除。
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