[發明專利]物體檢測裝置和方法

有效

• 申請號: 200710305499.7
• 申請日: 2007-12-28
• 公開（公告）號: CN101470802A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發明（設計）人: 艾海舟;黃暢;勞世紅;山下隆義
• 申請（專利權）人: 清華大學;歐姆龍株式會社
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 黃綸偉

1.一種物體檢測裝置，所述物體檢測裝置用于從圖像中檢測預定物 體，所述物體檢測裝置包括一個或更多個強分類器，各強分類器包括一 個或更多個弱分類器，各弱分類器包括特征提取部和函數映射部，所述 特征提取部提取所述圖像的特征量，所述函數映射部根據所述特征提取 部提取的所述特征量，確定所述圖像的弱分類，其特征在于，所述特征 提取部包括：

特征點提取部，從所述圖像中提取預定的特征點對組合；

像素值獲取部，獲得所述特征點對組合中的各特征點的像素值；

特征點比較部，根據像素值獲取部獲得的像素值，對各特征點對中 的兩個特征點進行比較，獲得邏輯值；以及

特征量獲得部，根據該邏輯值，確定所述圖像的特征量；

其中所述特征點比較部以以下方式中的一種獲得所述邏輯值：

I、對各特征點對中的兩個特征點的像素值進行直接比較，即根據以 下公式(1)進行計算，根據計算結果與0的關系，獲得二值邏輯值1或 二值邏輯值0；

II、對各特征點對中的兩個特征點的像素值進行累積比較，即根據以 下公式(2)進行計算，根據計算結果與0的關系，獲得二值邏輯值1或 二值邏輯值0；

III、對各特征點對中的兩個特征點的像素值進行擴展累積比較，即 依據以下公式(3)進行計算，根據計算結果與0的關系，獲得二值邏輯 值1或二值邏輯值0；

g_i+(x)-g_i-(x)，i＝1，…，n????????????(1)

Σs=1i(gs+(x)-gs-(x)),i=1,···,n---(2)]]>

Σs=1i2s-1(gs+(x)-gs-(x)),i=1,···,n---(3)]]>

其中g_i+和g_i-分別表示第i對特征點對中的一個特征點和另一個特征 點的像素值。