[發明專利]數據記錄評價方法以及光盤記錄再生裝置

無效

• 申請號: 200710302235.6
• 申請日: 2007-12-20
• 公開（公告）號: CN101211587A
• 公開（公告）日: 2008-07-02
• 發明（設計）人: 垣本博哉;宮澤冬樹;關口慎生;小山勝弘
• 申請（專利權）人: 太陽誘電株式會社
• 主分類號: G11B7/0045
• 分類號: G11B7/0045;G11B20/10;G11B7/007;G11B20/18
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 劉國偉

1.一種數據記錄評價方法，其特征在于，包括下述步驟：再生對光盤進行數據記錄后的結果的特定期間，并檢測基于所述再生之再生信號之步驟；根據經檢測出的所述再生信號，指定含有預定代碼的檢測圖形之步驟；檢測和所述檢測圖形相對應的所述再生信號的信號狀態之步驟；以及第1計算步驟，根據經檢測的所述信號狀態、以及由所述檢測圖形指定的基準狀態，計算第1評價指標值。

2.根據權利要求1所述的數據記錄評價方法，其特征在于，還包括第2計算步驟，在所述檢測圖形為多個時，使用根據各個所述多個檢測圖形計算出的所述第1評價指標值，計算第2評價指標值。

3.根據權利要求2所述的數據記錄評價方法，其特征在于，還包括第1更改步驟，根據所述第2評價指標值，更改數據記錄的記錄條件。

4.根據權利要求2所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述第2計算步驟還包含下述步驟，累加計算所述檢測圖形的出現概率和同所述出現概率一致的每一檢測圖形的所述第1評價指標值之多個乘積。

5.根據權利要求2所述的數據記錄評價方法，其特征在于，還包括下述步驟：

判斷所述第2評價指標值是否超過預定閾值；以及

當所述第2評價指標值超過所述預定閾值時，根據相應的所述第1記錄狀態評價指標值，指定對所述第2評價指標值造成一定程度以上影響的所述檢測圖形。

6.根據權利要求5所述的數據記錄評價方法，其特征在于，還包括第2更改步驟，根據經指定的所述檢測圖形的有關所述第1評價指標值，更改用于數據記錄的記錄參數。

7.根據權利要求1所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述檢測圖形至少由一個標志以及間隔構成。

8.根據權利要求1所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述檢測圖形是出現頻率為固定值以上的檢測圖形。

9.根據權利要求3所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述第1更改步驟還包含下述步驟，根據表示記錄條件、和通過再生所述記錄條件下的數據記錄結果所得的數據計算出的所述第2評價指標值之關系的數據，指定所述第2評價指標值為固定值以下范圍的所述記錄條件。

10.根據權利要求3所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述第1更改步驟包含下述步驟，

使用表示記錄條件、和由再生所述記錄條件下的數據記錄結果的特定期間所得的數據計算出的所述第2評價指標值的關系的數據以及當前所述第2評價指標值，計算當前記錄條件的修正量。

11.根據權利要求9所述的數據記錄評價方法，其特征在于，表示所述記錄條件、和由再生所述記錄條件下的數據記錄結果的特定期間所得的數據計算出的所述第2評價指標值的關系的數據是測試記錄時獲得的數據。

12.根據權利要求6所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述第2更改步驟包含下述步驟，根據表示記錄參數、和由再生使用有所述記錄參數的數據記錄結果的特定期間所得的數據計算出的所述第1評價指標值的關系的數據，指定所述第1評價指標值為最佳值時的所述記錄參數。

13.根據權利要求6所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述第2更改步驟包含下述步驟，使用表示記錄參數、和由再生使用有所述記錄參數的數據記錄結果的特定期間所得的數據計算出的所述第1評價指標值的關系的數據以及當前所述第1評價指標值，計算當前記錄參數的修正量。

14.根據權利要求12所述的數據記錄評價方法，其特征在于，表示記錄參數、和由再生使用有所述記錄參數的數據記錄結果的特定期間所得的數據計算出的所述第1評價指標值的關系的數據是測試記錄時獲得的數據。

15.根據權利要求1所述的數據記錄評價方法，其特征在于，所述第1計算步驟包含下述步驟，計算經檢測的所述信號狀態和由所述檢測圖形指定的基準狀態之差的大小。

16.一種光盤記錄再生裝置，其特征在于，具備下述機構：

再生對光盤的數據記錄結果的特定期間，并指定再生信號中經預定的檢測圖形之機構；

檢測和所述檢測圖形相對應的所述再生信號的信號狀態之機構；以及

根據經檢測的所述信號狀態以及由所述檢測圖形指定的基準狀態，計算第1評價指標值之機構。