[發明專利]總層厚檢測裝置和檢測方法、充電裝置及圖像形成裝置有效
| 申請號: | 200710301828.0 | 申請日: | 2007-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN101329527A | 公開(公告)日: | 2008-12-24 |
| 發明(設計)人: | 山口英彥;池田周穗;守屋秀樹;大森雅夫 | 申請(專利權)人: | 富士施樂株式會社 |
| 主分類號: | G03G15/02 | 分類號: | G03G15/02;G03G15/00 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 | 代理人: | 顧紅霞;張天舒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 總層厚 檢測 裝置 方法 充電 圖像 形成 | ||
1.?一種用于被充電體的總層厚檢測裝置,包括:
飽和電荷量檢測單元,其檢測被充電體的飽和電荷量,所述被 充電體具有多個相對介電常數彼此不同的涂層;
存儲單元,其存儲關系信息,所述關系信息表示所述被充電體 的飽和電荷量的變化相對于所述被充電體的表面層的層厚變化的關 系;以及
計算部分,其基于由所述飽和電荷量檢測單元檢測出的飽和電 荷量的變化和存儲在所述存儲單元中的所述關系信息來計算所述被 充電體的所述多個涂層的總層厚。
2.?根據權利要求1所述的總層厚檢測裝置,其中,
當至少所述多個涂層中各涂層的層厚值或相對介電常數在公差 范圍內變化時,所述存儲單元還存儲多個對應信息項,在所述多個對 應信息項中,使得多個關系信息項分別與由所述飽和電荷量檢測單元 檢測出的飽和電荷量的多個初始值對應,所述多個關系信息項表示所 述被充電體的飽和電荷量的變化相對于所述被充電體的表面層的層 厚變化的關系,并且
所述計算部分基于由所述飽和電荷量檢測單元檢測出的飽和電 荷量的初始值和存儲在所述存儲單元中的所述多個對應信息項來計 算所述被充電體的所述多個涂層的總層厚。
3.?一種充電裝置,包括:
充電部件,其與被充電體接觸或接近于所述被充電體并給所述 被充電體充電,所述被充電體具有多個相對介電常數彼此不同的涂 層;
飽和電荷量檢測單元,其檢測由所述充電部件充電的所述被充 電體的飽和電荷量;
存儲單元,其存儲關系信息,所述關系信息表示所述被充電體 的飽和電荷量的變化相對于所述被充電體的表面層的層厚變化的關 系;以及
計算部分,其基于由所述飽和電荷量檢測單元檢測出的飽和電 荷量的變化和存儲在所述存儲單元中的所述關系信息來計算所述被 充電體的所述多個涂層的總層厚。
4.?根據權利要求3所述的充電裝置,其中,
當至少所述多個涂層中各涂層的層厚或相對介電常數在公差范 圍內變化時,所述存儲單元還存儲多個對應信息項,在所述多個對應 信息項中,使得多個關系信息項分別與由所述飽和電荷量檢測單元檢 測出的飽和電荷量的多個初始值對應,所述多個關系信息項表示所述 被充電體的飽和電荷量的變化相對于所述被充電體的表面層的層厚 變化的關系,并且
所述計算部分基于由所述飽和電荷量檢測單元檢測出的飽和電 荷量的初始值和存儲在所述存儲單元中的所述多個對應信息項來計 算所述被充電體的所述多個涂層的總層厚。
5.?根據權利要求3或4所述的充電裝置,還包括:
電源單元,其向所述充電部件提供電力;以及
控制器,其基于所述計算部分的計算結果控制所述電源單元。
6.?根據權利要求3所述的充電裝置,還包括:
判斷部分,其基于所述計算部分的計算結果判斷所述被充電體 的壽命。
7.?根據權利要求4所述的充電裝置,還包括:
判斷部分,其基于所述計算部分的計算結果判斷所述被充電體 的壽命。
8.?根據權利要求5所述的充電裝置,還包括:
判斷部分,其基于所述計算部分的計算結果判斷所述被充電體 的壽命。
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