[發明專利]CMOS圖像傳感器及其制造方法無效
| 申請號: | 200710300704.0 | 申請日: | 2007-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN101211944A | 公開(公告)日: | 2008-07-02 |
| 發明(設計)人: | 金升炫 | 申請(專利權)人: | 東部高科股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146;H01L21/822 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 | 代理人: | 鄭小軍 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | cmos 圖像傳感器 及其 制造 方法 | ||
1.一種CMOS圖像傳感器,包括:
柵極,位于半導體襯底的有源區域中的柵極絕緣層上;
光電二極管區域,位于該柵極一側的半導體襯底中;
浮置擴散區域,位于該柵極另一側的半導體襯底中;
補償雜質區域,位于該柵極的該另一側的半導體襯底中,并疊置在該浮置擴散區域上。
2.根據權利要求1所述的CMOS圖像傳感器,其中該柵極位于轉移晶體管中。
3.根據權利要求1所述的CMOS圖像傳感器,其中該柵極的一側與該光電二極管區域的端部對準。
4.根據權利要求1所述的CMOS圖像傳感器,其中至少部分該補償雜質區域與隔離層鄰近。
5.根據權利要求1所述的CMOS圖像傳感器,其中至少部分該浮置擴散區域位于該補償雜質區域和該柵極之間。
6.一種制造CMOS圖像傳感器的方法,該方法包括以下步驟:
在半導體襯底的預定區域中的柵極絕緣層上形成柵極;
在該柵極一側的半導體襯底中形成光電二極管區域;
在該柵極兩側形成絕緣側壁;以及
在該柵極另一側的半導體襯底中形成浮置擴散區域;以及
在該半導體襯底中形成補償雜質區域,且該補償雜質區域疊置在該浮置擴散區域上。
7.根據權利要求6所述的方法,其中該柵極位于轉移晶體管中。
8.根據權利要求6所述的方法,其中該柵極的一側與該光電二極管區域的端部對準。
9.根據權利要求6所述的方法,其中至少部分該補償雜質區域與隔離層鄰近。
10.根據權利要求6所述的方法,其中至少部分該浮置擴散區域位于該補償雜質區域和該柵極之間。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





