[發明專利]CMOS電池電壓測試裝置

無效

• 申請號: 200710203523.6
• 申請日: 2007-12-28
• 公開（公告）號: CN101470172A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發明（設計）人: 魏剛
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/36
• 分類號: G01R31/36;G01R19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種電池電壓測試裝置，特別涉及一種測試CMOS電池電壓的測試裝置。

背景技術

眾所周知，電腦中的CMOS芯片是電腦主板上的一塊可讀寫的RAM芯片，主要用來保存當前系統的硬件配置和操作人員對某些參數的設定，CMOS芯片由系統通過一塊后備電池，即CMOS電池供電，因此無論是在關機狀態，還是系統掉電的情況下，CMOS芯片上的信息都不會丟失，CMOS電池的總電壓為3V，通常，當其電壓消耗至小于2V時，就難以繼續對CMOS芯片供電，當CMOS芯片供電不足時，電腦會出現某些參數的信息錯誤，或運行速度慢等一系列的問題，但是如果用戶能夠及時獲知CMOS電池當前的電壓，在CMOS電池電壓消耗至將要不足以為CMOS芯片供電時，及時更換CMOS電池，上述問題便可得以解決。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種CMOS電池電壓測試裝置，在測試出CMOS電池電壓后進行顯示。

一種CMOS電池電壓測試裝置，包括一電壓產生電路、一比較放大器及一發光二極管，所述電壓產生電路連接一電源，所述比較放大器的一輸入端連接于一CMOS電池的正極，另一輸入端通過一第一分壓電阻與所述電壓產生電路相連，并通過一第二分壓電阻接地，輸出端連接所述發光二極管的陽極，發光二極管的陰極接地，所述CMOS電池的負極接地，所述電壓產生電路產生大于CMOS電池總電壓的一電壓，經所述第一、第二分壓電阻的分壓，在所述比較放大器的另一輸入端產生一比較電壓，所述比較放大器通過比較其兩輸入端的電壓，在其輸出端輸出高電平或低電平信號，驅使所述發光二極管導通或截止，以指示CMOS電池當前電壓大于或小于比較電壓。

一種CMOS電池電壓測試裝置，包括一電壓產生電路、若干比較放大器、若干發光二極管及若干第一分壓電阻，所述電壓產生電路連接一電源，所述第一電阻串聯連接于所述電壓產生電路與地之間，每一比較放大器的一輸入端連接于一CMOS電池的正極，另一輸入端分別連接于所述第一分壓電阻之間的連接節點，輸出端分別連接一對應的發光二極管的陽極，每一發光二極管的陰極接地，所述CMOS電池的負極接地，所述電壓產生電路產生大于CMOS電池總電壓的一電壓，經所述第一分壓電阻的分壓，分別在每一比較放大器的另一輸入端產生一比較電壓，每一比較放大器通過比較其兩輸入端的電壓，在其輸出端輸出高電平或低電平信號，驅使對應的發光二極管導通或截止，以分別指示CMOS電池當前電壓大于或小于對應的比較電壓。

所述CMOS電池電壓測試裝置利用比較放大器對所述CMOS電池當前的電壓與比較電壓進行比較，使比較放大器輸出高電平驅動發光二極管發光，或輸出低電平，二極管不發光，使用戶獲知CMOS電池當前電壓大于或小于比較電壓，原理簡單，易于實現。

附圖說明

下面結合附圖及較佳實施方式對本發明作進一步詳細描述：

圖1是本發明CMOS電池電壓測試裝置較佳實施方式的電路圖。

具體實施方式

請參照圖1，本發明CMOS電池電壓測試裝置包括一電壓產生電路10、一測試電路20及一指示電路30。

所述電壓產生電路10包括一型號為TL431的可調分流基準源T、阻值相同的兩分壓電阻R1、R2、一限流電阻R3及一電容C1，所述分壓電阻R1、R2相連的一端連接所述可調分流基準源T的參考端，分壓電阻R1、R2的另一端分別連接所述可調分流基準源T的陰極、陽極，所述可調分流基準源T的陰極連接所述限流電阻R3及所述電容C1的一端，所述限流電阻R3的另一端接至一12V電源，并通過一電容C2接地，所述電容C1的另一端接地所述可調分流基準源T的陽極接地。

所述測試電路20包括比較放大器U1、U2、U3、U4及分壓電阻R4、R5、R6、R7、R8，所述比較放大器U1、U2、U3、U4的正向輸入端均相連，其連接節點通過串聯連接的一電阻R9及一開關S連接一CMOS電池J的正極，所述比較放大器U1的反向輸入端通過所述分壓電阻R4連接所述可調分流基準源T的陰極，所述比較放大器U1與U2的反向輸入端之間、U2與U3的反向輸入端之間、U3與U4的反向輸入端之間分別連接所述分壓電阻R5、R6、R7，所述比較放大器U4的反向輸入端還通過所述分壓電阻R8接地。