[發(fā)明專利]老化測試系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710201429.7
• 申請日: 2007-08-22
• 公開（公告）號: CN101373166A
• 公開（公告）日: 2009-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周建勝
• 申請（專利權(quán)）人: 佛山普立華科技有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01M11/02;G01J1/42;G08C17/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種老化測試系統(tǒng)，尤其涉及一種可同時測試多個投影設(shè)備的老化測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

現(xiàn)在的投影機在出廠前皆需經(jīng)過多項相關(guān)的測試以提升出廠后產(chǎn)品的穩(wěn)定率，其中一項測試為老化測試，是將投影機于出廠前放置于一特定高溫的密閉空間中，并在一定的時間段里一直開機，以篩選出壽命極短(如燈泡)的產(chǎn)品，確保出廠投影機之質(zhì)量信賴度。目前經(jīng)常采用辦法是以人工的方式巡查，發(fā)現(xiàn)異常投影機后記錄其序號并輸入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。

因是人工巡查，所以在同時測試的投影機很多時，巡視一次所需時間比較長，比如有500臺投影機同時進行老化測試，則巡視一次，需要時間1H左右，無法實時發(fā)現(xiàn)投影機出現(xiàn)不良狀況。對于巡視時發(fā)現(xiàn)的情況，需要人工記錄，比較費時費力。且老化測試室有溫度控制，一般在29-35度，巡視人員長時間在這樣的溫度下會感到很不舒適。而在老化測試室里，集電軌密集，巡視人員有觸電風險。且投影機中有燈泡，在測試的過程中，不能排除燈泡爆掉。燈泡爆燈后會有汞蒸氣溢出，對巡視人員的身體造成傷害。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種可以自動采集投影機老化測試數(shù)據(jù)，并對所得數(shù)據(jù)進行整理的老化測試系統(tǒng)。

一種老化測試系統(tǒng)，用于對多個投影設(shè)備進行老化測試。該老化測試系統(tǒng)包括：

多個光感測器，分別對應(yīng)所述多個投影設(shè)備，用于感測上述投影設(shè)備的投影光強度，并對應(yīng)輸出多個電信號；

多個數(shù)據(jù)采集模組，每個數(shù)據(jù)采集模組接收多個光感測器輸出的多個電信號，所述數(shù)據(jù)采集模組包含將該多個電信號轉(zhuǎn)化為第一數(shù)據(jù)的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，該數(shù)據(jù)采集模組將該第一數(shù)據(jù)輸出；

一個數(shù)據(jù)接收模組，用于接收所述多個數(shù)據(jù)采集模組輸出的第一數(shù)據(jù)；

一個數(shù)據(jù)處理模組，用于處理所述數(shù)據(jù)接收模組接收的第一數(shù)據(jù)，根據(jù)該第一數(shù)據(jù)得出所述多個投影設(shè)備的投影光強度信息以及老化測試程度數(shù)據(jù)。

所述老化測試系統(tǒng)可以自動收集投影機老化測試數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)進行整理輸入到顯示界面。這樣，不需人員進入老化測試室巡視，便可以實時得到被測投影機的測試狀況，節(jié)省人力物力。

附圖說明

圖1是本發(fā)明較佳實施例之老化測試系統(tǒng)功能模塊圖。

圖2是本發(fā)明較佳實施例之數(shù)據(jù)采集模組組成圖。

圖3A是本發(fā)明較佳實施例之光敏電阻放置于凹形結(jié)構(gòu)中的正視圖。

圖3B是本發(fā)明較佳實施例之光敏電阻放置在凹形結(jié)構(gòu)中的剖面圖。

圖4是本發(fā)明較佳實施例之老化測試系統(tǒng)全圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合附圖，對本發(fā)明作進一步的詳細說明。

請參閱圖1，為本實施例之老化測試系統(tǒng)功能模塊圖。該老化測試系統(tǒng)1包括：光感測器11、數(shù)據(jù)采集模組12、數(shù)據(jù)接收模組13以及數(shù)據(jù)處理模組14。被測件投影設(shè)備10、光感測器11以及數(shù)據(jù)采集模組12位于密閉空間中，數(shù)據(jù)接收模組與數(shù)據(jù)處理模組位于密閉空間外。

投影設(shè)備10于密閉空間中的放置位置按照實際需求設(shè)計即可。本實施例中對九臺投影設(shè)備10進行老化測試，該九臺投影設(shè)備10采用一字排開形式放置。

所述光感測器11用于感測投影設(shè)備10的投影光強度，并將該投影光強度轉(zhuǎn)換為電信號，本實施例中光感測器11為一光敏電阻，光敏電阻的電阻值隨著所照射光的強度變化而變化。被測投影設(shè)備10在老化測試的時候是處于開機狀態(tài)，投影光照射到光敏電阻，改變光敏電阻的電阻值，從而改變通過光敏電阻的電流大小。

多個投影設(shè)備10對應(yīng)多個光感測器11，每個光感測器11放置于一個對應(yīng)的凹形結(jié)構(gòu)111中，請參閱圖3。

圖3A是光感測器11放置在凹形結(jié)構(gòu)111上的正視圖，圖3B是光感測器11放置在凹形結(jié)構(gòu)111上的hh’剖面圖。凹形結(jié)構(gòu)111中心凹進，光感測器11放進去后，凹形結(jié)構(gòu)111的凹口正對著被測投影設(shè)備10的投影光出口，投影設(shè)備10的投影光照射到光感測器11，因其放置于凹處，將其它投影設(shè)備10的投影光擋住，只接收所對應(yīng)的投影設(shè)備10的投影光。

請參閱圖2，所述數(shù)據(jù)采集模組12用于接收所述多個光感測器11輸出的多個電信號，將該多個電信號轉(zhuǎn)換為第一數(shù)據(jù)，并將該第一數(shù)據(jù)輸出。該數(shù)據(jù)采集模組12包括：模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器121、微處理器122以及發(fā)射器123。數(shù)據(jù)采集模組12電連接于多個光感測器11，光感測器11的將投影光信號轉(zhuǎn)換為電信號，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器121將接收到的電信號轉(zhuǎn)化為第一數(shù)據(jù)，微處理器122將第一數(shù)據(jù)進行處理，發(fā)射器123將第一數(shù)據(jù)輸出。本實施例中發(fā)射器123為一無線發(fā)射器。