[發明專利]鐳射對焦取點系統及方法無效
| 申請號： | 200710201309.7 | 申請日： | 2007-08-09 |
| 公開（公告）號： | CN101363719A | 公開（公告）日： | 2009-02-11 |
| 發明（設計）人： | 張旨光;洪毅容;蔣理;袁忠奎 | 申請（專利權）人： | 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518109廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 鐳射 對焦 系統 方法 | ||
1.一種鐳射對焦取點系統，包括計算機及量測機臺，所述量測機臺安裝有電荷耦合裝置、鐳射頭及鐳射控制器，該系統通過鐳射控制器獲取鐳射頭所掃描的點的坐標，供所述計算機內的影像量測程序進行處理，其特征在于，所述計算機包括：
選擇模塊，用于在待測工件上選擇量測范圍的起始點與結束點；
對焦模塊，用于根據影像量測程序發出的對焦命令，控制所述電荷耦合裝置對所選擇的量測范圍自動對焦，選擇一個最合適的掃描位置；
掃描模塊，用于根據影像量測程序發出的掃描命令，控制鐳射頭在上述最合適的掃描位置對量測范圍進行掃描，并獲取掃描范圍內所有點的坐標；
獲取模塊，用于通過鐳射控制器獲取鐳射頭所掃描的范圍內點的坐標，所述點的坐標由前綴參數、X軸、Y軸及Z軸的坐標組成；
判斷模塊，用于根據所獲取坐標的前綴參數判斷所獲取的坐標是否有效，若所獲取坐標的前綴參數為鐳射頭中設定的前綴參數，則判斷所獲取的坐標有效；若所獲取坐標的前綴參數不是鐳射頭中設定的前綴參數，則判斷所獲取的坐標無效；及
發送模塊，用于當所獲取的坐標有效時，將所述有效的坐標發送至影像量測程序。
2.如權利要求1所述的鐳射對焦取點系統，其特征在于，所述鐳射控制器還用于顯示所掃描的點的坐標。
3.一種鐳射對焦取點方法，其通過控制量測機臺的鐳射控制器獲取鐳射頭所掃描的點的坐標，供計算機內的影像量測程序進行處理，其特征在于，該方法包括步驟：
在待測工件上選擇量測范圍的起始點與結束點；
計算機控制與其相連的電荷耦合裝置對所選擇的量測范圍自動對焦，選擇一個最合適的掃描位置；
計算機通過鐳射控制器令鐳射頭在上述最合適的掃描位置對所述量測范圍進行掃描，并獲取掃描范圍內所有點的坐標；
計算機通過鐳射控制器獲取鐳射頭所掃描范圍內點的坐標，所述點的坐標由前綴參數、X軸、Y軸及Z軸的坐標組成；
根據所獲取坐標的前綴參數判斷所獲取的坐標是否有效，若所獲取坐標的前綴參數為鐳射頭中設定的前綴參數，則判斷所獲取的坐標有效；若所獲取坐標的前綴參數不是鐳射頭中設定的前綴參數，則判斷所獲取的坐標無效；及
當所獲取的坐標有效時，將所述有效的坐標發送至影像量測程序。
4.如權利要求3所述的鐳射對焦取點方法，其特征在于，該方法還包括步驟：
當計算機所獲取的坐標無效時，返回至選擇量測范圍的起始點和結束點的步驟。
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