[發明專利]電壓裕度測試裝置

無效

• 申請號: 200710200801.2
• 申請日: 2007-06-08
• 公開（公告）號: CN101320057A
• 公開（公告）日: 2008-12-10
• 發明（設計）人: 陳櫻;熊金良
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試裝置，特別涉及一種測試電腦主板電壓的測試裝置。

背景技術

電腦主板的工作電壓主要包括3.3V_SYS、12V_SYS、5V_SYS、-5V_SYS、-12V_SYS及5V_STBY電壓信號，以及PS_ON、PWROK控制信號。這些電壓與控制信號主要由機箱電源提供，通過24pin連接器輸入到電腦主板上，作為主板的輸入電源。

由于機箱電源為獨立配置設備，對于主板設計與生產廠商來說，其設計與生產的主板流入市場后會遇到各種各樣的機箱電源，為使機箱電源與電腦主板相匹配，需事先確定主板電壓的裕度，也就是主板電壓允許的上、下限范圍。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種可方便測試主板電壓裕度的測試裝置。

一種電壓裕度測試裝置，包括一裕度測試電路、一用于連接機箱電源的第一連接器及一用于連接待測主板的第二連接器，所述裕度測試電路包括一直流可調電源及一開關電路，所述直流可調電源通過所述開關電路與所述第二連接器中的一電源引腳相連，所述開關電路與所述第二連接器中的電源開機信號引腳相連，所述開關電路通過所述第二連接器中的電源開機信號引腳接收到待測主板的電源開機信號后導通使所述直流可調電源供電給所述第二連接器的電源引腳。

相較現有技術，所述電壓裕度測試裝置應用所述直流可調電源直接連接至所述待測主板的電源電路上，并通過調節所述直流可調電源的電壓調節開關即可方便、快捷的得出所述待測主板的電壓裕度。

附圖說明

下面參考附圖結合具體實施方式對本發明作進一步的說明。

圖1為本發明電壓裕度測試裝置的較佳實施方式電路原理圖。

具體實施方式

請參考圖1，本發明電壓裕度測試裝置用于測試電腦主板的電壓裕度，其較佳實施方式包括一3.3V裕度測試電路10、一5V裕度測試電路20、一12V裕度測試電路30、一第一連接器(圖未示)及一第二連接器40。所述第一連接器用于連接電源機箱的電源連接器，所述第二連接器40用于連接待測主板的電源連接器。所述第一連接器與待測主板的電源連接器相同，所述第二連接器40與所述電源機箱的電源連接器相同，即所述電源機箱的電源連接器可直接插接到待測主板的電源連接器上給待測主板供電。所述第一連接器與第二連接器40中除3.3V、5V及12V的電源引腳未對應連接以外，其它引腳均對應連接(圖未示)。

所述3.3V裕度測試電路10用于測試待測主板3.3V電壓裕度，所述5V裕度測試電路20用于測試待測主板5V電壓裕度，所述12V裕度測試電路30用于測試待測主板12V電壓裕度。如果待測主板還有其它規格輸入電壓需要測試，可通過增加對應規格輸入電壓的裕度測試電路即可實現，本實施方式僅以3.3V、5V及12V三種規格的輸入電壓裕度的測試加以舉例說明。

所述3.3V裕度測試電路10包括一直流可調電源12及一開關電路14，所述開關電路14包括一直流電源VCC1、一直流電源VDD1、兩上拉電阻R1及R2、兩電解電容C1及C2、兩瓷片電容C3及C4、一P溝道場效應管Q1、及三個N溝道場效應管Q2、Q3及Q4。所述場效應管Q1的柵極與所述第二連接器40的電源開機信號引腳PS_ON相連(電源開機信號引腳PS_ON為低電平有效)，漏極接地，源極與所述場效應管Q2的柵極相連。所述場效應管Q2的柵極還通過所述上拉電阻R1與所述直流電源VCC1相連，源極接地，漏極分別與所述場效應管Q3及Q4的柵極相連。所述場效應管Q3的柵極還通過所述上拉電阻R2與所述直流電源VDD1相連，源極與所述第二連接器40的3.3V電源引腳相連，漏極與所述直流可調電源12相連。所述場效應管Q4的源極與所述第二連接器40的3.3V電源引腳相連，漏極與所述直流可調電源12相連。所述電解電容C1及瓷片電容C3均連接于所述直流可調電源12與地之間，所述電解電容C2及瓷片電容C4均連接于所述場效應管Q3的源極與地之間。其中，所述電解電容C1及C2用于低頻濾波，所述瓷片電容C3及C4用于高頻濾波，所述直流電源VDD1的電壓大于3.3V。所述直流電源VCC1及VDD1的電壓可以是外接電源，也可以是所述第一連接器接收到的所述電源機箱的電源，設計人員可根據實際情況進行選擇。