[發(fā)明專利]刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法及裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710200749.0
• 申請日: 2007-06-01
• 公開（公告）號: CN101315797A
• 公開（公告）日: 2008-12-03
• 發(fā)明（設計）人: 王俊杰;林忠縣
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G11B20/10
• 分類號: G11B20/10;G11B20/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法，刻錄脈沖包括前脈沖、后脈沖和位于前脈沖與后脈沖之間的底脈沖；光盤驅動器中存儲有第一脈沖寬度參數(shù)初始值、測試數(shù)據(jù)和第一標準長度；所述刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法包括如下步驟：

將所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值轉化為多個不同的第一脈沖寬度參數(shù)調整值，并分別使用所述多個不同的第一脈沖寬度參數(shù)調整值刻錄所述測試數(shù)據(jù)到光盤上；

分別檢測并計算出刻錄到所述光盤上的各組測試數(shù)據(jù)中多個岸的平均長度與所述第一標準長度的差值，得到多個差值；

將所述多個差值與所述多個不同的第一脈沖寬度參數(shù)調整值根據(jù)公式Y＝aX+b進行一次線性擬合，得到線性擬合參數(shù)a、b；定義Y為所述差值，X為所述第一脈沖寬度參數(shù)調整值；

計算所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a；

存儲所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a，以利用其對所述光盤進行刻錄。

2.如權利要求1所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法，其特征在于：所述第一脈沖寬度參數(shù)為后脈沖后緣參數(shù)或前脈沖前緣參數(shù)；

所述后脈沖后緣參數(shù)用于調整長度為nT的坑的刻錄脈沖的后脈沖的下降緣位置；所述前脈沖前緣參數(shù)用于調整長度為nT的坑的刻錄脈沖的前脈沖的上升緣位置；3≤n≤14，T為刻錄一位數(shù)據(jù)所需的時間長度。

3.如權利要求2所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法，其特征在于：所述第一脈沖寬度參數(shù)為后脈沖后緣參數(shù)；

所述檢測刻錄到所述光盤上的測試數(shù)據(jù)中多個岸的長度步驟中，所述多個岸的長度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T；且所述多個岸之后的坑的長度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T，所述多個岸之前的坑的長度大于或等于(n-0.5)T，并小于或等于(n+0.5)T；所述第一標準長度為3T的標準長度。

4.如權利要求2所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法，其特征在于：所述第一脈沖寬度參數(shù)為前脈沖前緣參數(shù)；

所述檢測刻錄到所述光盤上的測試數(shù)據(jù)中多個岸的長度步驟中，所述多個岸的長度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T；且所述多個岸之前的坑的長度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T，所述多個岸之后的坑的長度大于或等于(n-0.5)T，并小于或等于(n+0.5)T；所述第一標準長度為3T的標準長度。

5.如權利要求1所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法，其特征在于：所述將所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值轉化為多個不同的第一脈沖寬度參數(shù)調整值步驟中的轉化方法是在所述第一脈沖寬度參數(shù)初始值的基礎上增減變換而成。

6.如權利要求1所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法，其特征在于，進一步包括以下步驟：

使用所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a刻錄測試數(shù)據(jù)到光盤上；

檢測刻錄在所述光盤上的測試數(shù)據(jù)的刻錄品質是否符合要求，如果符合則存儲所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值-b/a，以利用其對所述光盤進行刻錄，否則重新確定所述第一脈沖寬度參數(shù)的最佳值。

7.如權利要求1所述的刻錄脈沖寬度參數(shù)的調整方法，其特征在于，所述檢測刻錄到所述光盤上的測試數(shù)據(jù)中多個岸的長度步驟中，所述多個岸符合下列兩個條件中的一個：

(1)，所述多個岸的長度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T；

(2)，所述多個岸的長度大于或等于(m-0.5)T，并小于或等于(m+0.5)T；

且當符合條件(1)時，所述標準長度為3T的標準長度；當符合條件(2)時，所述第一標準長度為m?T的標準長度，m大于3，T為刻錄一位數(shù)據(jù)所需的時間長度。