[發明專利]檢測光碟片缺陷的裝置

有效

• 申請號: 200710196041.2
• 申請日: 2007-11-30
• 公開（公告）號: CN101162589A
• 公開（公告）日: 2008-04-16
• 發明（設計）人: 王思凱
• 申請（專利權）人: 凌陽科技股份有限公司
• 主分類號: G11B7/0037
• 分類號: G11B7/0037;G11B7/09;G11B20/18
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳晨

1.一種一般型缺陷檢測裝置，用以檢測光碟片的一般型缺陷區域，包括：

第一頂端持有單元，用以接收信號源并且輸出第一信號，其中，所述第一信號可維持在所述信號源的峰值附近并以第一下落速度下降；

第一減法器，連接至所述第一頂端持有單元，用以將所述第一信號減去第一臨界值后輸出第一切割信號；

第二頂端持有單元，用以接收所述信號源并且輸出第二信號，其中，所述第二信號可維持在所述信號源的峰值附近并以第二下落速度下降；

第二減法器，連接至所述第二頂端持有單元，用以將所述第二信號減去第二臨界值后輸出第二切割信號；

多路復用器，連接至所述第一減法器與所述第二減法器，包含用以接收所述第一切割信號的第一輸入端、用以接收所述第二切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及

比較器，其一端接收所述信號源且其另一端連接所述多路復用器的所述輸出端，用以將所述信號源與所述第一切割信號或者所述第二切割信號進行比較，進而輸出一般型缺陷信號，其中，所述多路復用器還包括選擇端，用以根據所述一般型缺陷信號去選擇所述第一切割信號或者所述第二切割信號。

2.如權利要求1所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述信號源為次光加總信號、射頻包絡信號或射頻信號的頂包絡信號。

3.如權利要求1所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述第一下落速度大于所述第二下落速度。

4.如權利要求3所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述一般型缺陷區域的開始是根據所述信號源與所述第一切割信號而決定且所述一般型缺陷區域的結束是根據所述信號源與所述第二切割信號而決定。

5.如權利要求1所述的一般型缺陷檢測裝置，其中根據所述信號源去比較所述第一切割信號與所述第二切割信號，當所述第一切割信號大于所述信號源時，將所述一般型缺陷信號由一第一電位轉換至第二電位，當所述第二切割信號小于所述信號源時，將所述一般型缺陷信號由所述第二電位轉換至所述第一電位。

6.如權利要求5所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述一般型缺陷信號由所述第一電位轉換至所述第二電位時代表所述一般缺陷區域開始，且所述一般型缺陷信號由所述第二電位轉換至所述第一電位時代表所述一般缺陷區域結束。

7.一種光亮缺陷檢測裝置，用以檢測光碟片的光亮缺陷區域，包括：

第一底端持有單元，用以接收信號源并且輸出第三信號，其中，所述第三信號維持在所述信號源的谷值附近并以第一上升速度上升；

第一加法器，連接至所述第一底端持有單元，根據所述第三信號并加上第三臨界值后輸出第三切割信號；

第二底端持有單元，用以接收所述信號源并且輸出第四信號，其中，所述第四信號維持在所述信號源的谷值附近并以第二上升速度上升；

第二加法器，連接至所述第二底端持有單元，根據所述第四信號并且加上第四臨界值后輸出第四切割信號；

多路復用器，包含用以接收所述第三切割信號的第一輸入端、用以接收所述第四切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及

比較器，其一端接收所述信號源且其另一端連接所述多路復用器的所述輸出端，用以將所述信號源與所述第三切割信號或者所述第四切割信號進行比較，進而輸出光亮缺陷信號，其中，所述多路復用器還包括選擇端，用以根據所述光亮缺陷信號去選擇所述第三切割信號或者所述第四切割信號。

8.如權利要求7所述的光亮缺陷檢測裝置，其中所述信號源為次光加總信號、射頻包絡信號或射頻信號的底包絡信號。

9.如權利要求7所述的光亮缺陷檢測裝置，其中所述第一上升速度大于所述第二上升速度。

10.如權利要求9所述的光亮缺陷檢測裝置，其中所述光亮缺陷區域的開始是根據所述信號源與所述第三切割信號而決定且所述光亮缺陷區域的結束是根據所述信號源與所述第四切割信號而決定。

11.如權利要求7所述的光亮缺陷檢測裝置，當所述第三切割信號小于所述信號源時，所述光亮缺陷信號由第一電位轉換至第二電位，當所述第四切割信號大于所述信號源時，所述光亮缺陷信號由所述第二電位轉換至所述第一電位。