[發明專利]讀寫頭控制裝置、存儲裝置以及最大功率確定方法

無效

• 申請號: 200710194626.0
• 申請日: 2007-11-27
• 公開（公告）號: CN101192416A
• 公開（公告）日: 2008-06-04
• 發明（設計）人: 高橋哲也
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G11B5/60
• 分類號: G11B5/60;G11B21/21;G11B19/04;G11B5/40;G11B5/012
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 李輝;呂俊剛

技術領域

本發明涉及一種讀寫頭控制裝置、存儲裝置以及最大功率確定方法。

背景技術

通常通過讀寫頭，在不與盤介質接觸的情況下，在諸如磁盤裝置或磁光盤裝置的存儲裝置中的盤介質中存儲或寫入數據。當讀寫頭對通過磁體或激光束產生的信號進行感測時，讀寫頭對信號的靈敏度隨讀寫頭和盤介質之間的距離的接近而增加，從而讀寫數據的精確度增加。隨著盤介質的表面密度增加，讀寫頭和盤介質之間的距離(被稱為浮置量(floating?magnitude))被設置為10納米或更小的微小值。

浮置量的微小程度的增加需要更嚴格地監測由于環境變化而引起的浮置量的波動。例如，日本專利申請特開No.H11-45436公開了一種用于通過由讀寫頭產生的信號波形的振幅或抖動量來監測浮置量的波動的技術。

此外，為了滿足精確地控制讀寫頭的前端位置的需要和保持讀寫頭的前端與盤介質表面之間的恒定距離(下文中稱為“間距”)，日本專利申請特開No.2003-272335公開了一種用于調整該間距的技術。在該技術中，在讀寫頭內設置加熱線圈和熱膨脹構件，并且通過向該加熱線圈提供電流并使該熱膨脹構件伸長來調整該間距，由此使讀寫頭的面向磁盤的表面朝向磁盤突出。換句話說，如圖11所示，通過加熱諸如在讀寫頭100內部設置的加熱線圈的加熱器并使數據記錄/再現元件101中設置的讀寫頭端部102朝向磁盤200突出，來調整該間距。

但是，如果通過加熱該加熱器來調整間距，則加熱器功率可能變得過大，導致讀寫頭端部與盤介質的表面接觸(下文中稱為“降落(touchdown)”)，從而損壞讀寫頭端部和盤介質的表面，并阻礙盤介質的旋轉。換句話說，如圖12所示，加熱器的加熱器功率的增加使得讀寫頭端部102降落在磁盤200的表面上。如果在降落之后，該加熱器功率繼續增加，則由于磁盤200的表面上的微小的不均勻性，而使得在磁盤200旋轉時，讀寫頭端部102和磁盤200的表面將被損壞。

特別地，當通過調整加熱器功率來調整間距時，需要準備進行校準，以使得可以獲得加熱器功率和間距的對應關系。為了進行校準，加熱器功率必須被增加到超出正常工作條件，并且如果加熱器功率被過度地增加，則在正常工作條件下，讀寫頭端部和盤介質可能被損壞，導致在將信號記錄到盤介質上或從盤介質讀取信號時的錯誤。

發明內容

本發明的目的是至少部分地解決常規技術中的問題。

根據本發明的一方面，一種讀寫頭控制裝置通過由加熱器引起的熱膨脹來控制讀寫頭的位置，該讀寫頭面對存儲介質并讀取記錄在存儲介質上的數據的信號，該讀寫頭控制裝置包括：控制單元，該控制單元將加熱器的加熱器功率增加預定范圍；獲得單元，該獲得單元獲得在由該控制單元控制的各個加熱器功率下從存儲介質讀取的信號電平的指標值(index?value)的樣本；函數確定單元，該函數確定單元基于在加熱器功率增加到最后一個加熱器功率之前獲得的樣本，來確定用于確定當前加熱器功率的確定函數；計算單元，該計算單元基于該確定函數，計算與當前加熱器功率相對應的比較值；以及最大功率確定單元，該最大功率確定單元通過將該比較值和與當前加熱器功率相對應的信號電平的指標值進行比較，來確定當前加熱器功率是否為最大功率。

根據本發明的另一方面，一種在存儲介質中儲存數據的存儲裝置包括：記錄和再現單元，該記錄和再現單元面對存儲介質并從存儲介質讀取信號和將信號寫入到存儲介質中；加熱器，該加熱器通過熱膨脹來調整該記錄和再現單元的位置；控制單元，該控制單元將該加熱器的加熱器功率增加預定范圍；獲得單元，該獲得單元獲得在由該控制單元控制的各個加熱器功率下從該存儲介質讀取的信號電平的指標值的樣本；函數確定單元，該函數確定單元基于在加熱器功率增加到最后一個加熱器功率之前獲得的樣本，來確定用于確定當前加熱器功率的函數；計算單元，該計算單元基于該函數，計算與當前加熱器功率相對應的比較值；以及最大功率確定單元，該最大功率確定單元通過將該比較值和與當前加熱器功率相對應的信號電平的指標值進行比較，來確定當前加熱器功率是否為最大功率。