[發(fā)明專利]插接檢測(cè)電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710180212.2 | 申請(qǐng)日: | 2007-10-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101408571A | 公開(公告)日: | 2009-04-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔡瑞原;王文祺;唐偉誠(chéng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R31/02;G01R31/28;G01R19/00;H03M11/22;H03M1/12 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 蒲邁文 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 插接 檢測(cè) 電路 | ||
1.一種插接檢測(cè)電路,用來檢測(cè)一模擬裝置的插接狀態(tài)或該模擬裝置所輸出的模擬信號(hào),以產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào),該插接檢測(cè)電路包含:
一開關(guān)電路,用來依據(jù)該模擬裝置的插接狀態(tài)或該模擬裝置所輸出的模擬信號(hào)產(chǎn)生一等效阻抗;
一轉(zhuǎn)換電路,耦接該開關(guān)電路,用來依據(jù)一第一參考電壓及該等效阻抗產(chǎn)生一參考電流,其中該參考電流的變化相對(duì)于該等效阻抗的變化具有線性特性;以及
一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器,耦接該轉(zhuǎn)換電路,用來依據(jù)該參考電流產(chǎn)生該數(shù)字信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的插接檢測(cè)電路,其中該等效阻抗隨該模擬裝置的插接狀態(tài)的變化或該模擬裝置所輸出的模擬信號(hào)的變化而改變。
3.如權(quán)利要求2所述的插接檢測(cè)電路,其中該開關(guān)電路包含多個(gè)導(dǎo)通路徑,每個(gè)該導(dǎo)通路徑包含一開關(guān)及一阻抗組件,該開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)由該模擬裝置的插接狀態(tài)或該模擬裝置所輸出的模擬信號(hào)而決定。
4.如權(quán)利要求3所述的插接檢測(cè)電路,其中所述導(dǎo)通路徑并聯(lián)。
5.如權(quán)利要求2所述的插接檢測(cè)電路,其進(jìn)一步包含:
一參考阻抗,耦接該轉(zhuǎn)換電路及該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器,用來依據(jù)該參考電流產(chǎn)生一電壓信號(hào);
其中該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器將該電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為該數(shù)字信號(hào)。
6.如權(quán)利要求5所述的插接檢測(cè)電路,其中該電壓信號(hào)的變化相對(duì)于該等效阻抗的變化具有線性特性。
7.如權(quán)利要求2所述的插接檢測(cè)電路,其中該轉(zhuǎn)換電路包含:
一第一參考電壓產(chǎn)生電路,耦接該開關(guān)電路,用來產(chǎn)生該第一參考電壓,并相對(duì)應(yīng)地依據(jù)該等效阻抗及該第一參考電壓而產(chǎn)生一初始參考電流;以及
一電流鏡,耦接該第一參考電壓產(chǎn)生電路及該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器,用來依據(jù)該初始參考電流以提供該參考電流。
8.如權(quán)利要求7所述的插接檢測(cè)電路,其中該第一參考電壓產(chǎn)生電路包含:
一第一放大器,具有一正輸入端、一負(fù)輸入端及一輸出端,該正輸入端耦接一輸入電壓,該負(fù)輸入端耦接該開關(guān)電路;以及
一第一晶體管,耦接該輸出端、該負(fù)輸入端、該開關(guān)電路以及該電流鏡。
9.如權(quán)利要求2所述的插接檢測(cè)電路,其進(jìn)一步包含:
一比較電流產(chǎn)生電路,用來依據(jù)一第二參考電壓及一參考阻抗來產(chǎn)生一比較電流;
其中該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器依據(jù)該比較電流及該參考電流以產(chǎn)生該數(shù)字信號(hào)。
10.如權(quán)利要求9所述的插接檢測(cè)電路,其中該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器比較該比較電流及該參考電流以產(chǎn)生該數(shù)字信號(hào)。
11.如權(quán)利要求9所述的插接檢測(cè)電路,其中該比較電流產(chǎn)生電路包含:
一第二參考電壓產(chǎn)生電路,耦接該參考阻抗,用來產(chǎn)生該第二參考電壓,并相對(duì)應(yīng)地依據(jù)該參考阻抗及該第二參考電壓而產(chǎn)生一初始比較電流;以及
一電流鏡,耦接該第二參考電壓產(chǎn)生電路及該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器,用來依據(jù)該初始比較電流以提供該比較電流。
12.如權(quán)利要求11所述的插接檢測(cè)電路,其中該第二參考電壓產(chǎn)生電路包含:
一第二放大器,具有一正輸入端、一負(fù)輸入端及一輸出端,該正輸入端耦接一輸入電壓,該負(fù)輸入端耦接該參考阻抗;以及
一第二晶體管,耦接該輸出端、該負(fù)輸入端、該參考阻抗以及該電流鏡。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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