[發(fā)明專利]工件排出裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710180180.6 | 申請日: | 2007-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN101161571A | 公開(公告)日: | 2008-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 小寺克義;西田真幸;堀清二 | 申請(專利權(quán))人: | 東京威爾斯股份有限公司 |
| 主分類號: | B65G47/74 | 分類號: | B65G47/74;B65G47/80;B65G49/00;B07C5/00;B07C5/36 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 溫大鵬;楊松齡 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 工件 排出 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及設(shè)置在檢測并輸送芯片型電子部件等工件的分度臺上、用來將不合格工件排出的工件排出裝置。
背景技術(shù)
已知有用來檢查并輸送芯片型電子部件等工件的分度臺。這樣的分度臺在外周具有用來收納工件的工件收納孔,間歇旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在基座上。
此外,在分度臺的外周上,設(shè)置有用來將由檢測部判斷為不合格的不合格工件排出的工件排出裝置。
此外,在分度臺上設(shè)置有覆蓋分度臺的分度臺蓋。
如上所述,在分度臺的外周設(shè)置有工件收納孔,收納在該工件收納孔內(nèi)的工件隨著分度臺的旋轉(zhuǎn)而被輸送,在檢測部中被檢測。
工件收納孔內(nèi)的在檢測部中檢測到的工件被送到工件排出裝置中,通過設(shè)置在該工件排出裝置中的抽吸模式的抽吸/噴出管被抽吸。在此情況下,如果判斷工件為不合格,則抽吸/噴出管切換為噴出模式,通過抽吸/噴出管將工件噴出并向排出管側(cè)排出。
然后,抽吸/噴出管再次成為抽吸模式,抽吸下一個工件。在此情況下,有時被向排出管側(cè)排出的工件再次返回到工件收納孔內(nèi),或者不完全返回到工件收納孔內(nèi)。在這樣的情況下,在然后使分度臺旋轉(zhuǎn)時,會發(fā)生工件收納孔內(nèi)的工件掛住的不良狀況。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于這樣的問題而做出的,目的是提供一種能夠?qū)⑴袛酁椴缓细竦牟缓细窆ぜ煽康叵蛲獠颗懦龅墓ぜ懦鲅b置。
本發(fā)明是一種工件排出裝置,是設(shè)置在分度臺上的工件排出裝置,所述分度臺間歇旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在基座上且在外周具有收納工件的工件收納孔,其特征在于,該工件排出裝置具備:排出管,設(shè)置在比工件收納孔靠外側(cè),與工件收納孔連通,使工件收納孔內(nèi)的工件下落并將其排出;抽吸/噴出管,設(shè)置在基座的比工件收納孔靠內(nèi)側(cè)的位置上,與工件收納孔連通;抽吸部及噴出部,連結(jié)在抽吸/噴出管上,在排出管的上方、工件收納孔附近設(shè)置有空氣噴射口,該空氣噴射口噴出空氣以將從工件收納孔排出的工件導(dǎo)向排出管側(cè)。
本發(fā)明是一種工件排出裝置,其特征在于,空氣噴射口具有噴射空氣以將從工件收納孔向排出管的路徑隔斷的第1空氣噴射口。
本發(fā)明是一種工件排出裝置,其特征在于,空氣噴射口具有噴射空氣以將從工件收納孔出來的工件向排出管側(cè)送出的第2空氣噴射口。
本發(fā)明是一種工件排出裝置,其特征在于,在分度臺上設(shè)置有分度臺蓋,空氣噴射口設(shè)置在該分度臺蓋上。
本發(fā)明是一種工件排出裝置,其特征在于,在分度臺蓋上設(shè)置有向空氣噴射口供給空氣的鼓風機構(gòu),該鼓風機構(gòu)與壓縮空氣源連接。
根據(jù)本發(fā)明,通過從空氣噴射口噴射空氣,能夠?qū)墓ぜ占{孔向排出管側(cè)排出的工件順利地向排出管側(cè)引導(dǎo)。在此情況下,工件不會再次返回到工件收納孔中,能夠可靠地向排出管側(cè)排出。
附圖說明
圖1是表示組裝有本發(fā)明的工件排出裝置的工件檢查裝置的俯視圖。
圖2是表示本發(fā)明的工件排出裝置的作用的圖1的X-X′剖視圖。
圖3是表示本發(fā)明的工件排出裝置的作用的圖1的X-X′剖視圖。
圖4是表示本發(fā)明的工件排出裝置的作用的圖1的X-X′剖視圖。
圖5是表示本發(fā)明的工件排出裝置的作用的圖1的X-X′剖視圖。
圖6是表示作為比較例的工件排出裝置的作用的剖視圖。
圖7是表示作為比較例的工件排出裝置的作用的剖視圖。
圖8是表示作為比較例的工件排出裝置的作用的剖視圖。
圖9是表示作為比較例的工件排出裝置的作用的剖視圖。
具體實施方式
以下,參照附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。
近年來,芯片型電子部件等工件的小型化不斷發(fā)展,并且芯片型電子部件等工件的檢查裝置的高速化不斷發(fā)展。
圖1至圖5表示組裝有本發(fā)明的工件排出裝置的工件檢查裝置25的一例。工件檢查裝置25具備基座1a、間歇旋轉(zhuǎn)地設(shè)在基座1a上并且在外周具有收納工件16的工件收納孔3的分度臺1、和覆蓋分度臺1上方的分度臺蓋14。
此外,在分度臺1上,經(jīng)由將工件16一邊分離一邊供給的分離供給部5連結(jié)有線性供給器4。
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