[發明專利]智能手機的鍵盤測試系統及其測試方法

有效

• 申請號: 200710172981.8
• 申請日: 2007-12-25
• 公開（公告）號: CN101471977A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發明（設計）人: 安勇
• 申請（專利權）人: 上海晨興電子科技有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 薛 琦

技術領域

本發明涉及一種智能手機的鍵盤測試系統及其測試方法，特別涉及在手機 主板表面貼裝技術(SMT)后對智能手機的鍵盤測試系統及其測試方法。

背景技術

目前在手機激烈的競爭市場中，要求快速的響應客戶需求，除了要在產品 的性價比、外觀等方面的競爭、還有供貨周期的壓力，在保證生產產品質量的 前提下，盡可能地要提高日產能。提高日產能就必須有一個高效率的測試方法。 一要智能化；二要高效率化；三要操作簡單化。目前有的大規模產量的手機廠家 還在使用人工按鍵操作，通過手機顯示屏是否有正確顯示判斷的方法來檢測。 耗時耗力，不但生產成本高，要求多工位，及生產效率低，測試單臺手機主板 時間長，而且有人為誤操作、少操作等缺點，難以保證批量生產時產品質量和 產品的一致性。

在手機工廠生產線中，提倡盡量少的人操作，多一些智能設備的操作，如 通過電腦軟件、相配套測試硬件及測試工裝來檢測被測試的手機主板，提供簡 單的操作，提供簡單的判斷依據，就能得到正確的檢測結果。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種智能手機的鍵盤測試系統及其測試方法，該 智能手機的鍵盤測試系統及其測試方法測試質量高，誤差小。

為達到上述目的，本發明提供一種智能手機的鍵盤測試系統，其包括：一 電腦；通過異步串行接口與該電腦連接的測試板；通過異步串行接口連接測試 工裝裝配的手機主板；手機主板上的鍵盤接口通過測試工裝連接至測試板上的 復數個模擬開關；測試板上的ARM通過I²C總線與該測試板上的復數個模擬開關 相連。

優選地，所述電腦上安裝有一測試界面軟件。

優選地，所述測試板包括ARM芯片、RS232電平轉換芯片、模擬開關、電源 部分。

優選地，所述測試工裝是為安裝被測試手機主板，并提供被測試接口。

本發明的另一技術方案是提供一種智能手機的測試方法，其實質性特點在 于，其包括以下步驟：

步驟1：電腦發按鍵命令至測試板中的ARM芯片要求打開一模擬開關并要求 閉合對應的模擬開關，即打開一按鍵；

步驟2：電腦發按鍵命令至手機主板，并通知打開該按鍵；

步驟3：手機主板收到按鍵命令后，運行鍵盤測試模式，等待按鍵中斷；

步驟4：測試板中的ARM芯片接受到命令后，通過兩條I²C總線選擇地址及 相應閉合模擬開關；

步驟5：手機主板接收到按鍵中斷，跳到鍵盤中斷服務程序，并啟動按鍵掃 描，掃描程序會判斷是否有按鍵按下，掃描是哪個按鍵；如果鍵值是是按鍵信 息，并與2條已知命令信息比較，如果相同，上報給電腦“OK”，否則為“FAIL”；

步驟6：電腦發命令至測試板中的ARM芯片，要求關閉一模擬開關、打開對 應模擬開關；

步驟7：電腦發按鍵彈起命令至手機主板；

步驟8：測試板中的ARM芯片接受到命令后，通過I²C總線選擇地址及相應 打開模擬開關，表明本次按鍵操作結束；

步驟9：手機主板接受到按鍵彈起命令后，認為本次按鍵操作結束，并上報 電腦按鍵彈起應答，即上報給電腦“OK”，否則為“FAIL”；

步驟10：電腦根據步驟5和步驟9中的手機主板上報信息，如果均為“OK”， 則顯示打印顯示對應按鍵，否則為“FAIL”；

步驟11：重復1-10步驟進行操作，分別測試其它各個按鍵；

步驟12：如果所有測試手機主板上報信息均為“OK”，則打印鍵盤測試結果 “PASS”，否則為“FAIL”。

本發明由于采用了上述的技術方案，使之與現有技術相比，具有以下的優 點和積極效果：本發明智能手機的鍵盤測試系統及其測試方法采用電腦在手機 主板表面貼裝技術(SMT)后對智能手機的鍵盤進行測試，可以為工廠生產工人 提供簡單的操作，提供簡單的判斷依據，就能得到正確的檢測結果，可以降低 生產人數，降低生產成本，可以提高生產效率，提高產品質量。

附圖說明

圖1為本發明智能手機的鍵盤測試系統原理示意圖；

圖2為鍵盤中八路模擬開關矩陣對應示意圖。

具體實施方式