[發(fā)明專利]將弱單元用作讀取標(biāo)識(shí)符的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器器件無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710167207.8 | 申請(qǐng)日: | 2007-11-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101174459A | 公開(公告)日: | 2008-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金厚成;韓義奎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G11C16/06 | 分類號(hào): | G11C16/06;G11C16/26 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 邵亞麗 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單元 用作 讀取 標(biāo)識(shí)符 非易失性 半導(dǎo)體 存儲(chǔ)器 器件 | ||
1.一種具有存儲(chǔ)器單元陣列的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器,該存儲(chǔ)器單元陣列包括:
正常存儲(chǔ)器單元;以及
標(biāo)志存儲(chǔ)器單元,其被配置為在其數(shù)據(jù)保留方面比正常存儲(chǔ)器單元更易受電壓力影響,并被用于監(jiān)視正常存儲(chǔ)器單元的數(shù)據(jù)保留特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器,其中標(biāo)志存儲(chǔ)器單元具有比正常存儲(chǔ)器單元大的耦合比。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器,其中標(biāo)志存儲(chǔ)器單元被配置為比正常存儲(chǔ)器單元更易受軟編程影響。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器,其中,標(biāo)志存儲(chǔ)器單元被配置為比正常存儲(chǔ)器單元更易受其中所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的讀取干擾影響。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器,其中,非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器被配置為響應(yīng)標(biāo)志存儲(chǔ)器單元中的數(shù)據(jù)的變化,備份存儲(chǔ)在正常存儲(chǔ)器單元中的數(shù)據(jù)。
6.一種具有存儲(chǔ)器單元陣列的電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)型非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器,該存儲(chǔ)器單元陣列包括:
正常存儲(chǔ)器單元,包括每個(gè)具有控制柵極和用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的浮置柵極的MOS晶體管;以及
標(biāo)志存儲(chǔ)器單元,被配置為在其數(shù)據(jù)保留方面比正常存儲(chǔ)器單元更易受電壓力影響,并被用于監(jiān)視正常存儲(chǔ)器單元的數(shù)據(jù)保留特性。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲(chǔ)器,其中標(biāo)志存儲(chǔ)器單元包括寬度比正常存儲(chǔ)器單元的浮置柵極的寬度大的浮置柵極。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的存儲(chǔ)器,其中標(biāo)志存儲(chǔ)器單元被配置為比正常存儲(chǔ)器單元更易受其中所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的讀取干擾影響。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的存儲(chǔ)器,其中非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器被配置為響應(yīng)標(biāo)志存儲(chǔ)器單元中的數(shù)據(jù)的變化,備份存儲(chǔ)在正常存儲(chǔ)器單元中的數(shù)據(jù)。
10.一種電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)型非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器器件,包括:
存儲(chǔ)器單元陣列,包括正常存儲(chǔ)器單元和每一個(gè)與正常存儲(chǔ)器單元之一相對(duì)應(yīng)的標(biāo)志存儲(chǔ)器單元,其中,該正常存儲(chǔ)器單元包括每個(gè)具有控制柵極和用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的浮置柵極的MOS晶體管,標(biāo)志存儲(chǔ)器單元具有與正常存儲(chǔ)器單元相同的類型,并被配置為在其數(shù)據(jù)保留方面比正常存儲(chǔ)器單元更易受電壓力影響;以及
讀取電路,其被配置為選擇與輸入地址相對(duì)應(yīng)的數(shù)個(gè)正常存儲(chǔ)器單元并從所選擇的正常存儲(chǔ)器單元中讀取數(shù)據(jù),其中,
讀取電路在初始讀取操作中從與所選擇的正常存儲(chǔ)器單元相對(duì)應(yīng)的至少一個(gè)標(biāo)志存儲(chǔ)器單元讀取數(shù)據(jù),響應(yīng)所讀取的數(shù)據(jù)識(shí)別是否發(fā)生了讀取干擾,并且當(dāng)識(shí)別出讀取干擾時(shí)暫停對(duì)所選擇的正常存儲(chǔ)器單元進(jìn)行讀取操作。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的器件,進(jìn)一步包括當(dāng)識(shí)別出讀取干擾時(shí)、被配置為執(zhí)行數(shù)據(jù)往回復(fù)制操作以將數(shù)據(jù)從所選擇的正常存儲(chǔ)器單元讀入存儲(chǔ)器單元陣列的第一部分的電路。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的器件,進(jìn)一步包括在執(zhí)行了數(shù)據(jù)往回復(fù)制操作之后、被配置為執(zhí)行擦除操作以擦除來(lái)自所選擇的正常存儲(chǔ)器單元的數(shù)據(jù)并初始化所選擇的正常存儲(chǔ)器單元的數(shù)據(jù)保留特性的擦除電路。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的器件,進(jìn)一步包括在執(zhí)行了擦除操作之后、將數(shù)據(jù)從存儲(chǔ)器單元陣列的第一部分往回復(fù)制到所選擇的正常存儲(chǔ)器單元并對(duì)所選擇的正常存儲(chǔ)器單元重新開始讀取操作的編程電路。
14.一種具有存儲(chǔ)器單元陣列的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器,該存儲(chǔ)器單元陣列包括:
存儲(chǔ)器單元陣列中的正常存儲(chǔ)器單元;以及
在正常存儲(chǔ)器單元未使用的存儲(chǔ)器單元陣列的備用單元區(qū)域中形成的指示單元,其中指示單元被配置為在其數(shù)據(jù)保留方面比正常存儲(chǔ)器單元更易受電壓力影響,并且指示單元存儲(chǔ)數(shù)據(jù),該數(shù)據(jù)在存儲(chǔ)器訪問正常存儲(chǔ)器單元期間被參考并被用作觸發(fā)備份正常存儲(chǔ)器單元中的數(shù)據(jù)的指示符。
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