[發明專利]狀態檢測裝置及狀態檢測方法

有效

• 申請號: 200710166970.9
• 申請日: 2007-11-08
• 公開（公告）號: CN101430348A
• 公開（公告）日: 2009-05-13
• 發明（設計）人: 唐碩;陳志豐
• 申請（專利權）人: 英業達股份有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R13/00;G09G5/00;G06F11/22
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 陳 亮

1.一種狀態檢測裝置，用以對多個待測電壓進行檢測，該狀態檢測裝置包括：

一探針組，具有多個探針，用以探測該些待測電壓；

一處理器，其具有多個I/O介面，且一個探針與一個I/O介面相連，該處理器用以監測該探針組所探測到的每一待測電壓的電平變化，且記錄每一待測電壓的電平變化時間點，并判斷每一待測電壓是否為正常工作狀態；

一顯示模塊，與該處理器相連，用以接收該處理器監測到的每一待測電壓的電平變化信息及處理器對每一待測電壓工作狀態的判斷結果，并顯示出該些待測電壓的時序信息及工作狀態信息；以及

一輸入模塊，與該處理器相連，用于輸入提供該些待測電壓的設備的配置信息，以使該處理器根據監測到的該待測電壓的電平變化與該輸入模塊輸入的配置信息來比較判斷該待測電壓是否為正常工作狀態。

2.如權利要求1所述的狀態檢測裝置，其特征在于，該顯示模塊還包括：

一顯示幕，用以顯示各個待測電壓電平變化的相對時序圖及工作狀態信息；

一驅動單元，連接于該顯示幕，用以驅動該顯示幕并使其顯示各個待測電壓電平變化的相對時序圖及工作狀態信息；以及

一顯示控制單元，連接于該驅動單元，用以接收該處理器監測到的該待測電壓的電平變化信息及處理器對該待測電壓工作狀態的判斷結果，并通過該驅動單元使該顯示幕顯示出各個待測電壓電平變化的相對時序圖及工作狀態信息。

3.如權利要求2所述的狀態檢測裝置，其特征在于，該顯示模塊還包括一存儲單元，用以存儲各個待測電壓的相對時序信息，以供后期分析。

4.如權利要求1所述的狀態檢測裝置，其特征在于，該狀態檢測裝置還包括一電位轉換模塊，該電位轉換模塊連接于該處理器與該探針組之間，用以對該探針組探測到的超出處理器測量范圍的待測電壓進行分壓，以滿足該處理器對電壓測量的要求。

5.如權利要求1所述的狀態檢測裝置，其特征在于，該狀態檢測裝置還包括一保護模塊，該保護模塊連接于該處理器與該探針組之間，用于當該探針組中的一探針與該處理器一I/O介面間的電壓過大時，切斷該探針與該I/O介面間的路徑。

6.如權利要求1所述的狀態檢測裝置，其特征在于，該處理器為一單片機或一ARM微處理器。

7.一種狀態檢測方法，用以對多個待測電壓進行檢測，該狀態檢測方法包括以下步驟：

向狀態檢測裝置輸入設備的配置信息；

將該些待測電壓接上探針并監測每一待測電壓的電平變化；

根據監測到的上述每一待測電壓的電平變化與該配置信息來比較判斷該待測電壓是否為正常工作狀態；以及

若電平變化正常則顯示出各個待測電壓電平變化的時序信息，若電平變化錯誤則顯示出各個待測電壓電平變化的時序信息及錯誤發生的具體情況與時間。

8.如權利要求7所述的狀態檢測方法，其特征在于，在顯示出各個待測電壓的時序信息后存儲該時序信息。

9.如權利要求7所述的狀態檢測方法，其特征在于，還包括：對超出測量范圍的待測電壓進行分壓處理后再判斷待測電壓是否為正常工作狀態。

10.如權利要求7所述的狀態檢測方法，其特征在于，還包括：當一被測電壓過大時切斷該被測電壓所在路徑。