[發明專利]一種卷積拓撲編碼中的處理方法及裝置

無效

• 申請號: 200710163334.0
• 申請日: 2007-10-19
• 公開（公告）號: CN101414836A
• 公開（公告）日: 2009-04-22
• 發明（設計）人: 余榮道;宋起濤
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H03M13/29
• 分類號: H03M13/29;H03M13/27
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司
• 代理人: 宋志強;麻海明

1、一種卷積拓撲編碼CTC中的處理方法，包括：

將編碼后的數據按順序分成系統信息子塊、第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊；其中，所述第一校驗信息子塊包括子塊Y1和子塊Y2，所述第二校驗信息子塊包括子塊W1和子塊W2；

對所述子塊分別進行交織，得到交織后的數據；

其特征在于，對所述交織后的數據進行位重組；所述位重組包括：在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊間進行按位-位的復用。

2、如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊間進行按位-位的復用為：

在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊間按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用；

或者在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊間按照依次復用相同次序的輸出比特進行按位-位的復用。

3、如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊間按照依次復用相同次序的輸出比特進行按位-位的復用為：首先為交織后的Y1子塊的第一個輸出比特，接著為交織后的Y2子塊的第一個輸出比特，然后為交織后的W1子塊的第一個輸出比特，再后為交織后的W2子塊的第一個輸出比特，接著為交織后的Y1子塊的第二個輸出比特，接著為交織后的Y2子塊的第二個輸出比特，接著為交織后的W1子塊的第二個輸出比特，接著為交織后的W2子塊的第二個輸出比特，依次類推，直到Y1、Y2、W1、W2子塊的所有比特復用完畢。

4、一種卷積拓撲編碼CTC中的處理方法，包括：

將編碼后的數據按順序分成系統信息子塊、第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊；

對所述子塊分別進行交織，得到交織后的數據；

其特征在于，對所述交織后的數據進行位重組；所述位重組包括：對交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用。

5、如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用包括：

在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊間按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用。

6、如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一校驗信息子塊為子塊Y，所述第二校驗信息子塊為子塊W；

所述在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊間按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用為：首先為交織后的Y子塊的第一個輸出比特，接著為交織后的W子塊的倒數第一個輸出比特，再接著為交織后的Y子塊的第二個輸出比特，再接著為交織后的W子塊的倒數第二個輸出比特，依此類推，直到Y子塊和W子塊的所有比特復用完畢。

7、如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用包括：

分別在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊內按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用。

8、如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一校驗信息子塊包括子塊Y1和子塊Y2，所述第二校驗信息子塊包括子塊W1和子塊W2；

所述分別在交織后的第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊內按照依次復用不同次序的輸出比特進行按位-位的復用為：首先為交織后的Y1子塊的第一個輸出比特，接著為交織后的Y2子塊的倒數第一個輸出比特，再接著為交織后的Y1子塊的第二個輸出比特，再接著為交織后的Y2子塊的倒數第二個輸出比特，依此類推，直到Y1子塊和Y2子塊的所有比特復用完畢；

然后是交織后的W1子塊的第一個輸出比特，接著為交織后的W2子塊的倒數第一個輸出比特，再接著為交織后的W1子塊的第二個輸出比特，再接著為交織后的W2子塊的倒數第二個輸出比特，依此類推，直到W1子塊和W2子塊的所有比特復用完畢。

9、一種卷積拓撲編碼CTC中的處理裝置，包括：位分拆模塊、子塊交織模塊和位重組模塊，其中，

所述位分拆模塊用于將編碼后的數據按順序分成系統信息子塊、第一校驗信息子塊和第二校驗信息子塊；

所述子塊交織模塊用于對所述三類子塊分別進行交織，得到交織后的數據；

其特征在于，所述位重組模塊用于對所述交織后的數據按照權利要求1至權利要求8中任一項所述的方法進行位重組。