[發明專利]測試DAC/ADC的信號噪聲比的方法及系統

無效

• 申請號: 200710163145.3
• 申請日: 2007-10-10
• 公開（公告）號: CN101409557A
• 公開（公告）日: 2009-04-15
• 發明（設計）人: 蔡欣學;魏誠文;方智仁;李正一
• 申請（專利權）人: 義隆電子股份有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10;G01R29/26
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 壽 寧;張華輝

1、一種測試DAC/ADC的信號噪聲比的方法，其特征在于其包括以下步驟：

輸入交流圖樣信號至待測的DAC/ADC路徑；

計算所述DAC/ADC路徑的輸出信號的信號噪聲比；以及

判斷所述信號噪聲比是否符合規格。

2、根據權利要求1所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的方法，其特征在于其中所述的計算所述信號噪聲比的步驟更包括：將所述DAC/ADC路徑的輸出信號分別經過帶通濾波及帶止濾波，以根據所述帶通濾波的結果以及所述帶止濾波的結果計算所述信號噪聲比。

3、根據權利要求1所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的方法，其特征在于其中所述的輸入交流圖樣信號之前，所述方法更包括：

輸入直流圖樣信號至待測的DAC/ADC路徑；以及

判斷所述DAC/ADC路徑是否有連線。

4、根據權利要求3所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的方法，其特征在于其中所述的輸入直流圖樣信號之前，所述方法更包括：

執行偏移量誤差校正；以及

執行增益誤差校正。

5、一種測試DAC/ADC的信號噪聲比的系統，其特征在于其包括：

一數字信號產生單元，用以產生交流圖樣信號并輸至待測的DAC/ADC路徑；以及

一信號噪聲比分析單元，用以計算所述DAC/ADC路徑的輸出信號的信號噪聲比，并判斷所述信號噪聲比是否符合規格。

6、根據權利要求5所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的系統，其特征在于其中所述的信號噪聲比分析單元包括：

一計算單元，用以計算所述DAC/ADC路徑的輸出信號的信號噪聲比；以及

一判斷單元，用以判斷所述信號噪聲比是否符合規格。

7、根據權利要求6所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的系統，其特征在于其中所述的信號噪聲比分析單元更包括：

一帶通濾波器，將所述DAC/ADC路徑的輸出信號帶通濾波后傳輸給所述計算單元；以及

一帶止濾波器，將所述DAC/ADC路徑的輸出信號帶止濾波后傳輸給所述計算單元。

8、根據權利要求5所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的系統，其特征在于其中所述的輸入交流圖樣信號之前，所述數字信號產生單元更用于輸入直流圖樣信號至待測的DAC/ADC路徑；以及所述信號噪聲比分析單元更用于判斷所述DAC/ADC路徑是否有連線。

9、根據權利要求8所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的系統，其特征在于其中所述的輸入直流圖樣信號之前，所述數字信號產生單元更用于輸入一直流值至所述DAC/ADC路徑以執行偏移量誤差校正以及增益誤差校正。

10、根據權利要求5所述的測試DAC/ADC的信號噪聲比的系統，其特征在于其中所述的數字信號產生單元包括：

串聯的第一負載及第二負載；

一乘法器，其一輸入端耦接至所述的第一負載及第二負載之間的一節點，另一輸入端接收一調節系數；

一加法器，其一輸入端耦接至第二負載未與第一負載相連的一端，另一輸入端耦接至該乘法器的輸出端，所述加法器的輸出端耦接至第一負載未與第二負載相連的一端，且所述加法器的輸出作為所述數字信號產生單元的輸出。