[發明專利]差分線路補償裝置、方法和系統

有效

• 申請號: 200710163006.0
• 申請日: 2007-09-28
• 公開（公告）號: CN101188586A
• 公開（公告）日: 2008-05-28
• 發明（設計）人: 吳曼學;迪特爾·德拉賽爾
• 申請（專利權）人: 因芬奈昂技術股份有限公司
• 主分類號: H04L25/02
• 分類號: H04L25/02;H04L25/03
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 朱進桂

1.一種差分線路補償裝置，包括：

(a)第一端子，用于接收第一引線提供的第一差分信號和第二引線提供的第二差分信號；

(b)至少一個檢測器，用于檢測與第一差分信號相關的第一信號的第一情況、以及與第二差分信號相關的第二信號的第二情況，并用于提供包含檢測結果的至少一個輸出；

(c)耦合至所述至少一個檢測器的比較器，用于接收并處理所述至少一個輸出，并提供控制輸出；以及

(d)至少一個延遲控制器，用于接收所述控制輸出并向所述第一信號和所述第二信號中所選擇的一個信號施加相位修正。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述比較器包括相位比較器和相位至電壓轉換器，所述相位至電壓轉換器用于把來自所述相位比較器的至少一個輸出轉換為所述控制輸出。

3.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述裝置被耦合至第一引線和第二引線的接收端。

4.根據權利要求1所述的裝置，其中，第一情況是所述第一信號和所述第二信號的第一交越的第一電壓電平，而第二情況是所述第一信號和所述第二信號的第二交越的第二電壓電平。

5.根據權利要求4所述的裝置，其中，所述第一電壓電平和所述第二電壓電平用于確定相對電壓電平。

6.根據權利要求4所述的裝置，其中，所述至少一個檢測器包括第一晶體管和第二晶體管，所述第一和第二晶體管具有公共節點；所述第一信號能夠被施加到所述第一晶體管的柵極，而第二信號能夠被施加到所述第二晶體管的柵極。

7.根據權利要求6所述的裝置，還包括同樣具有所述公共節點的第三晶體管，以在其漏極傳遞電荷包，所述電荷包與所述第一電壓電平和所述第二電壓電平相關。

8.根據權利要求6所述的裝置，其中，所述第一信號是所述第一差分信號，而所述第二信號是所述第二差分信號。

9.根據權利要求6所述的裝置，其中，把第一延遲施加到所述第一差分信號以形成所述第一信號，并把第二延遲施加到所述第二差分信號以形成所述第二信號。

10.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述第一信號是所述第一差分信號，且所述第一情況是所述第一信號的零閾值；以及所述第二信號是所述第二差分信號，所述第二情況是所述第二信號的零閾值。

11.根據權利要求10所述的裝置，其中，存在兩個檢測器，包括：第一檢測器，操作連接至所述第一端子并作為第一零閾值檢測器；以及第二檢測器，操作連接至所述第二端子并作為第二零閾值檢測器。

12.根據權利要求11所述的裝置，其中，所述比較器包括相位比較器和相位至電壓轉換器，所述相位至電壓轉換器用于把來自所述相位比較器的至少一個輸出轉換為所述控制輸出。

13.根據權利要求12所述的裝置，其中，存在兩個延遲控制器，包括：第一延遲控制器，操作連接至所述第一端子和所述相位至電壓轉換器，以向所述第一信號施加第一延遲；以及第二延遲控制器，操作連接至所述第二端子和所述相位至電壓轉換器，以向所述第二信號施加第二延遲。

14.根據權利要求13所述的裝置，其中，所述第一延遲與比所述第一引線長的所述第二引線相對應，而所述第二延遲與比所述第二引線長的所述第一引線相對應。

15.根據權利要求13所述的裝置，其中，所述第一延遲和所述第二延遲之一是固定的，而所述第一延遲和所述第二延遲中的另一個能夠在任一方向行被控制和調整。

16.根據權利要求1所述的裝置，其中，存在包括第一檢測器和第二檢測器的兩個檢測器；以及兩個延遲控制器，包括：第一延遲控制器，操作連接至所述第一端子，用于接收所述第一差分信號并向所述第一差分信號施加第一延遲以形成所述第一信號；以及第二延遲控制器，操作連接至所述第二端子，用于接收所述第二差分信號并向所述第二差分信號施加第二延遲以形成所述第二信號；所述第一延遲控制器操作連接至所述第一檢測器，以向所述第一檢測器提供所述第一信號；以及所述第二引線操作連接至所述第二檢測器，以向所述第二檢測器提供所述第二信號。