[發明專利]光學介質驅動設備和確定層數的方法

無效

• 申請號: 200710161328.1
• 申請日: 2007-09-28
• 公開（公告）號: CN101154415A
• 公開（公告）日: 2008-04-02
• 發明（設計）人: 長谷川真一
• 申請（專利權）人: 索尼日電光領有限公司
• 主分類號: G11B19/12
• 分類號: G11B19/12
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 黨建華

對于相關申請的交叉參考

本發明包含與在2006年11月7日在日本專利局提交的日本專利申請JP2006-301724有關的主題，該專利申請的整個內容通過參考包括在這里。

技術領域

本發明涉及一種適于通過用光照射光學記錄介質而把信號記錄在光學記錄介質上和/或從其讀取信號的光學記錄介質驅動設備、和一種確定光學記錄介質的層數的方法。

背景技術

記錄和讀取數字數據的一種技術是把諸如CD(緊致盤)、MD(小型-盤)、或DVD(數字多用途盤)之類的光盤(或磁-光盤)用作記錄介質。光盤記錄介質(下文簡稱為光盤)是以盤形式構造的記錄介質的一般表示，在該盤上信號以凹坑或標記的形式記錄，從而通過用激光照射盤和檢測反射光的密度變化可讀取信號。

用來把數據記錄在光盤上/從其讀取數據的盤驅動器可構造成處置多種類型的光盤。在記錄讀取操作中使用的參數依據光盤的類型而不同。因此，當光盤安裝在盤驅動器上時，盤驅動器確定安裝光盤的類型。

當一定類型的光盤具有多個記錄層時，必須檢測記錄層的數量。

一般地，光盤使物理性能信息記錄在其上以指示物理性能，如盤的類型、記錄層的數量、等等，從而盤驅動器通過讀取物理性能信息可確定盤的類型、記錄層的數量等等。

對于關于相關技術的進一步信息，見例如日本未審查專利申請公報No.2006-155791。

發明內容

為了從光盤讀取數據，必要的是，聚焦和跟蹤由聚焦伺服控制操作和跟蹤伺服控制操作控制。

為了處置對其最佳光學參數不同的多種類型的光盤，必須在伺服控制操作中嘗試各種參數，直到找到用于當前安裝光盤的最佳參數，并且伺服控制操作使用最佳參數成功地工作。因此，由物理性能信息確定盤的類型和層的數量占用相當長的時間。因而，需要對于在短時間內進行確定的技術。

根據本發明的實施例，提供有一種光學記錄介質驅動設備，該光學記錄介質驅動設備包括：頭部裝置，用來發射激光束使得經布置成物鏡在聚焦方向上至少向光學記錄介質和遠離其可運動的物鏡照射光學記錄介質，并且用來檢測從用激光束照射的光學記錄介質反射的光；聚焦裝置，用來在聚焦方向上驅動物鏡；信號產生裝置，用來按照由頭部裝置檢測的反射光產生反射光信號；及控制裝置，用來經聚焦裝置驅動物鏡，檢測在驅動物鏡時得到的反射光信號的一個或多個波峰，確定檢測波峰的圖案是否與當光學記錄介質是單層類型的時可出現的圖案之一相似，及基于關于圖案的確定結果確定光學記錄介質是單層類型的還是多層類型的。

以上述方式構造的光學記錄介質驅動設備能夠由當在聚焦方向上驅動物鏡時得到的反射光信號，確定光學記錄介質是單層類型的還是多層類型的。

在確定過程中，檢查當在聚焦方向上驅動物鏡時得到的反射光信號的圖案是否與對于單層類型的光學記錄介質可出現的基準圖案之一相似。因為考慮到可能的噪聲波峰準備基準圖案，所以即使當反射光信號包括噪聲波峰時，也有可能正確地確定給定光學記錄介質是單層類型的還是多層類型的。

因而，本發明提供如下優點：由當在聚焦方向上驅動物鏡時得到的反射光信號，可迅速進行關于光學記錄介質是單層類型的還是多層類型的確定，而不必在進行伺服控制操作的狀態下讀取物理性能數據。

此外，即使當反射光信號包括噪聲波峰時，也有可能正確地確定光學記錄介質是單層類型的還是多層類型的。如果光學記錄介質的技術參數允許單層或雙層，則有可能正確地確定用于任何光學記錄介質的層數。

附圖說明

圖1是方塊圖，表明根據本發明實施例的光學記錄介質驅動設備的內部構造；

圖2A和2B表明當在聚焦方向上驅動物鏡時得到的、從光學記錄介質反射的光信號的圖案；

圖3表明在層數檢測中由三波長單透鏡拾取器檢測的反射光信號的例子；

圖4A至4C表明當光學記錄介質是單層類型的時可出現的反射光信號的波峰圖案的例子(盡管未表示，不具有噪聲波峰的圖案也是可能的)；

圖5是與根據本發明實施例的確定層數的過程有關的流程圖；

圖6是與根據本發明實施例的確定層數的過程有關的流程圖；

圖7A至7C表明當在聚焦方向上驅動物鏡時得到的反射光信號的波峰圖案的例子，其中圖7A表明對于單層類型的BD得到的圖案，圖7B表明對于單層類型的DVD得到的圖案，及圖7C表明對于CD得到的圖案；