[發明專利]校驗數據的方法和裝置

無效

• 申請號: 200710160975.0
• 申請日: 2007-12-14
• 公開（公告）號: CN101178675A
• 公開（公告）日: 2008-05-14
• 發明（設計）人: 宋端智;侯超;顧新;秦曉鵬
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 何文彬

技術領域

本發明涉及數據存儲領域，特別涉及一種校驗數據的方法和裝置。

背景技術

ECC(Error?Checking?and?Correcting，錯誤檢查和糾正)是指存儲數據時，在數據位額外的位存儲一個ECC計算結果，即ECC校驗碼，當重新讀取已存儲的數據時，根據ECC校驗碼對該數據進行校驗，如果發現該數據有錯誤，則進行相應的處理。如當檢查出有1個比特位錯誤時，則進行糾正，當檢查出有多個比特位錯誤時，則產生告警信息。

現有技術中ECC功能一般由芯片的內存控制器來完成，當在內存中存儲數據時，內存控制器進行ECC計算得到ECC校驗碼，并將該ECC校驗碼也存儲在內存中，當從內存中讀取該數據時，根據已存儲的ECC校驗碼對該數據進行校驗，如果該數據發生錯誤則進行相應的糾正和保護。

在實現本發明的過程中，發明人發現上述現有技術至少具有以下缺點：

并非所有芯片的內存控制器都具有ECC功能，當這種硬件上不支持ECC功能的芯片在內存中存儲和讀取數據時，無法根據ECC校驗碼對數據進行ECC校驗，因此，當發生異常情況時，無法對存儲的數據進行保護，可能導致重要的數據遭到破壞。如當由于某種原因發生一個比特位跳變而使內存中的數據發生軟失效時，無法對該數據進行校驗和保護。

發明內容

為了提高數據的可靠性，本發明實施例提供了一種校驗數據的方法和裝置。所述技術方案如下：

一方面，本發明實施例提供了一種校驗數據的方法，所述方法包括：

CPU生成待校驗的數據的錯誤檢查和糾正的校驗碼，所述數據存儲在目標芯片所使用的內存中；

存儲所述校驗碼；

CPU根據所述數據和校驗碼對所述數據進行錯誤檢查和糾正校驗。

另一方面，本發明實施例還提供了一種校驗數據的裝置，所述裝置包括：

處理模塊，用于生成待校驗的數據的錯誤檢查和糾正的校驗碼，所述數據存儲在所述裝置中的目標芯片所使用的內存中；

存儲模塊，用于存儲所述處理模塊生成的校驗碼；

校驗模塊，用于根據所述數據和所述存儲模塊存儲的校驗碼，對所述數據進行錯誤檢查和糾正校驗。

本發明實施例提供的技術方案的有益效果是：

通過預先生成ECC校驗碼并在校驗時根據讀取的數據與該ECC校驗碼對該數據進行ECC校驗，可以正確判斷出目標芯片所使用的內存中的數據的正確性。與現有技術相比，克服了目標芯片硬件不支持ECC校驗功能的缺陷，可以及時檢測出目標芯片所使用的內存中的數據是否遭到破壞，并對其進行保護，提高了數據的可靠性。

附圖說明

圖1是本發明實施例1提供的校驗數據的方法流程圖；

圖2是本發明實施例1提供的芯片與內存的關系示意圖；

圖3是本發明實施例1提供的CPU對NP所使用的內存中的數據進行保護的示意圖；

圖4是本發明實施例2提供的校驗數據的裝置結構圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本發明實施方式作進一步地詳細描述。

本發明實施例通過在目標芯片所使用的內存中存儲數據時生成并存儲該數據的ECC校驗碼，校驗時讀取該數據和ECC校驗碼，根據該數據和ECC校驗碼對該數據進行ECC校驗。

實施例1

參見圖1，本發明實施例提供了一種校驗數據的方法，具體包括：

S101：在目標芯片所使用的內存中存儲數據。

S102：生成并存儲該數據的ECC校驗碼；

其中，生成ECC校驗碼的步驟可以由軟件實現，本實施例中，執行該軟件代碼的過程由CPU來實現。該ECC校驗碼可以存儲在CPU所使用的內存中，也可以存儲在其他存儲器中，例如目標芯片所使用的內存。本實施例中，該ECC校驗碼存儲在CPU所使用的內存中。

S103：從目標芯片所使用的內存中讀取數據，從CPU所使用的內存中讀取ECC校驗碼。

其中，可以在使用該數據時，對該數據進行ECC校驗，也可以定時對內存中的數據進行校驗，如5ms或10ms等等。

S104：根據讀取的數據和ECC校驗碼，對該數據進行ECC校驗。