[發(fā)明專利]信息嵌入方法、信息獲得方法以及裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710160012.0
• 申請日: 2007-12-20
• 公開（公告）號: CN101226627A
• 公開（公告）日: 2008-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 師尾潤;野田嗣男
• 申請（專利權(quán)）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G06T1/00
• 分類號: G06T1/00
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 李輝

1.一種向圖像中嵌入信息的方法，所述方法包括以下步驟：

分割步驟，該分割步驟將所述圖像分割為多個塊；

提供步驟，該提供步驟提供分別與所述多個塊相對應(yīng)的多個嵌入塊，當(dāng)各所述塊小于預(yù)定尺寸時，各所述嵌入塊具有與各所述塊相同的尺寸，當(dāng)各所述塊不小于所述預(yù)定尺寸時，各所述嵌入塊具有所述預(yù)定尺寸并且被置于各所述塊的中央；

修改步驟，該修改步驟根據(jù)要嵌入的所述信息選擇性地修改各所述嵌入塊的特征值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述修改步驟在各所述塊不小于所述預(yù)定尺寸時修改所述嵌入塊的所述特征值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述修改步驟在各所述塊的尺寸小于所述預(yù)定尺寸時輸出錯誤。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述修改步驟在各所述塊的尺寸小于所述預(yù)定尺寸時修改所述嵌入塊的所述特征值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述特征值為平均密度、粒度、飽和度、密度的重心或分布。

6.一種獲得包括在圖像中的信息的方法，所述圖像包括多個塊，所述方法包括以下步驟：

檢測步驟，所述檢測步驟檢測多個嵌入塊，各所述嵌入塊位于各所述塊的中央；

獲得特征值步驟，所述獲得特征值步驟獲得所述嵌入塊的中央?yún)^(qū)域的特征值；以及

獲得信息步驟，所述獲得信息步驟基于所述嵌入塊的中央?yún)^(qū)域的所述特征值來獲得信息。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，所述方法還包括針對其它嵌入塊重復(fù)獲得中央?yún)^(qū)域的特征值的所述獲得特征值步驟。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，所述獲得信息步驟基于在相鄰的塊之間的嵌入塊的中央?yún)^(qū)域的特征值來獲得所述信息。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，所述特征值為平均密度、粒度、飽和度、密度的重心或分布。

10.一種用于對向圖像中嵌入信息的處理進(jìn)行控制的裝置，該裝置包括：

處理器，該處理器將所述圖像分割為多個塊，提供分別與所述多個塊相對應(yīng)的多個嵌入塊，當(dāng)各所述塊小于預(yù)定尺寸時，各所述嵌入塊具有與各所述塊相同的尺寸，當(dāng)各所述塊不小于所述預(yù)定尺寸時，各所述嵌入塊具有所述預(yù)定尺寸并且被置于各所述塊的中央，并且所述處理器根據(jù)要嵌入的所述信息選擇性地修改各所述嵌入塊的特征值。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述處理器在各所述塊不小于所述預(yù)定尺寸時修改所述嵌入塊的所述特征值。

12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述處理器在各所述塊的尺寸小于所述預(yù)定尺寸時輸出錯誤。

13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述處理器在各所述塊的尺寸小于所述預(yù)定尺寸時修改所述嵌入塊的所述特征值。

14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其中，所述特征值為平均密度、粒度、飽和度、密度的重心或分布。