[發明專利]作為薄膜晶體管的介電層或平面化層的低溫溶膠-凝膠硅酸鹽無效
| 申請號: | 200710152741.1 | 申請日: | 2007-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN101257041A | 公開(公告)日: | 2008-09-03 |
| 發明(設計)人: | T·A·布雷默;C·P·克雷茨;T·J·馬克利;S·J·韋格爾 | 申請(專利權)人: | 氣體產品與化學公司 |
| 主分類號: | H01L29/51 | 分類號: | H01L29/51;H01L29/786;H01L21/31 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 劉健;韋欣華 |
| 地址: | 美國賓夕*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 作為 薄膜晶體管 介電層 平面化 低溫 溶膠 凝膠 硅酸鹽 | ||
1.一種薄膜晶體管的柵極介電層或中間介電層,其中,所述層包括在小于約250℃的溫度下處理過的含硅石溶膠-凝膠組合物。
2.權利要求1所述的柵極介電層,其中所述的層包括含硅石的溶膠-凝膠組合物,其中,所述組合物包括:i)至少一種硅石源,ii)至少一種選自以下化合物組中的化合物,該化合物組由至少一種以下式所代表的化合物組成:
RaSi(OR1)4-a,其中,R獨立地代表氫原子、氟原子或單價有機基團;R1代表單價有機基團;且a是整數1或2;Si(OR2)4,其中R2代表單價有機基團;和
R3b(R4O)3-bSi-R7-Si(OR5)3-cR6c,其中,R4和R5可以是相同的或者不同的,且每個都代表單價有機基團;R3和R6可以是相同的或者不同的,b和c可以是相同的或者不同的且每個都是0-3范圍內的數;R7代表氧原子、亞苯基、亞聯苯基、亞萘基或由-(CH2)n-代表的基團,其中n是1-6范圍內的整數;
iii)至少一種溶劑;
iv)水;
v)至少一種酸;
vii)任選的至少一種堿;和
viii)任選的表面活性劑、成孔劑、流平劑或它們的混合物。
3.權利要求2所述的柵極介電層或中間介電層,其包含C與Si的摩爾比為0.5或更大的硅石源。
4.一種基底用平面化膜,其中,所述膜包括通過一次涂布步驟形成大于約1μ的平面化膜的含硅石溶膠-凝膠組合物。
5.權利要求4所述的平面化膜,其可用于薄膜晶體管基底并且所述膜包括權利要求2的組合物。
6.權利要求5所述的平面化膜,其中,所述膜在均方根粗糙度大于90nm的基底上具有約小于20nm的均方根粗糙度值。
7.權利要求5所述的平面化膜,其使不銹鋼平面化。
8.權利要求5所述的平面化膜,其使塑料平面化。
9.權利要求5所述的平面化膜,其在400℃固化。
10.一種薄膜晶體管,其包括:
柵電極;
包括權利要求2所述的含硅石溶膠-凝膠組合物的柵極介電層;
源電極;
漏電極;和
半導體層。
11.權利要求10所述的薄膜晶體管,其中,所述用于柵極介電層或中間介電層的硅石源具有0.5或更大的C與Si的摩爾比。
12.一種薄膜晶體管,其包括:
柵電極;
包括權利要求1所述的溶膠-凝膠組合物的柵極介電層;
源電極;
漏電極;和
半導體層;
其中所述介電層具有小于約3.5的介電常數。
13.權利要求12所述的薄膜晶體管,其中,所述介電層具有大于約5nF/cm2的電容量。
14.權利要求12所述的薄膜晶體管,其中,所述介電層具有小于約5×10-8A/cm2的漏電流密度。
15.權利要求12所述的薄膜晶體管,其中,所述含硅石溶膠-凝膠組合物作為固化膜存在,所述固化膜在約135℃-約250℃之間進行固化,其介電常數低于約3.5,電容量大于約5nF/cm2。
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