[發(fā)明專利]用于將讀取/寫入磁頭接收并定位至磁盤的裝置和方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710149243.1
• 申請(qǐng)日: 2007-09-07
• 公開（公告）號(hào): CN101145348A
• 公開（公告）日: 2008-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 伊恩·斯坦利·沃恩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 齊拉泰克斯技術(shù)有限公司;希捷技術(shù)有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G11B5/455
• 分類號(hào): G11B5/455;G11B5/84
• 代理公司: 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 張敬強(qiáng)

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及在測(cè)試裝置中用于將讀取/寫入磁頭接收并定位至磁盤的裝置和方法。在優(yōu)選的實(shí)施例中，本發(fā)明涉及所謂的自旋支架(spinstand)。

背景技術(shù)

已公知的是采用自旋支架來(lái)測(cè)試硬盤組件的各種部件，尤其是諸如讀取/寫入磁頭和磁盤媒體之類的部件。這種測(cè)試能夠在制造生產(chǎn)環(huán)境中執(zhí)行，在所述環(huán)境中，典型地，每一磁頭和部分磁盤在被組裝入硬盤組件之前進(jìn)行測(cè)試，以確保它們能夠執(zhí)行所要求的標(biāo)準(zhǔn)。也可以在研發(fā)設(shè)置中采用自旋支架執(zhí)行測(cè)試。

自旋支架典型地包括平臺(tái)(deck)(例如為花崗巖的)，所述平臺(tái)通常以某種方式與外部振動(dòng)源隔離開，以避免這些振動(dòng)源影響測(cè)試結(jié)果的精度。主軸連接至平臺(tái)以保持和旋轉(zhuǎn)所述磁盤。這里典型地為具有一體的直流無(wú)刷馬達(dá)的空氣軸承(air?bearing)的主軸。

所述自旋支架還具有所謂的“測(cè)試套”(test?nest)，所述測(cè)試套適于在測(cè)試的過(guò)程中保持讀取/寫入磁頭并適于電連接至所述磁頭。測(cè)試套安裝在圓盤上，所述圓盤可在所述平臺(tái)的表面上移動(dòng)，典型地在空氣軸承上移動(dòng)，從而能夠?qū)⒋蓬^移動(dòng)至磁盤表面下的期望位置。圓盤典型地通過(guò)非常精確的x-y定位工作臺(tái)進(jìn)行定位，而且由空氣軸承支撐并具有線性編碼器，而可以使圓盤的位置被精確地確定。通過(guò)應(yīng)用真空還可以將圓盤和/或x-y工作臺(tái)向下鎖定至花崗巖，從而當(dāng)圓盤在期望位置時(shí)，防止圓盤運(yùn)動(dòng)。圓盤大體上具有一些設(shè)置，以將磁頭載入至磁盤的測(cè)試表面或從磁盤的測(cè)試表面卸載磁頭以使磁頭從磁盤測(cè)試表面上的測(cè)試數(shù)據(jù)的磁道讀取或?qū)懭氪疟P測(cè)試表面上的測(cè)試數(shù)據(jù)的磁道。圓盤還大體上具有一些設(shè)置，諸如設(shè)置在圓盤和測(cè)試套之間的納米定位器，以使磁頭相對(duì)于測(cè)試磁道進(jìn)行非常細(xì)微的定位的變化。

當(dāng)通過(guò)自旋支架測(cè)試磁頭時(shí)，相對(duì)于磁盤以較高的精度定位磁頭是重要的。因此將磁頭以較高的定位精度載入至測(cè)試套是重要的。連續(xù)進(jìn)行測(cè)試的磁頭的定位是不斷進(jìn)行重復(fù)的同樣是重要的。特別是，控制磁頭的x-y位置(即，在平行于磁盤表面的x-y平面中磁頭的位置)和磁頭的θ位置(即，磁頭在x-y平面中的旋轉(zhuǎn)位置)是重要的。磁頭在x-y定位中的差異影響裝置將磁頭定位在磁盤上的數(shù)據(jù)的測(cè)試磁道上方的能力。在θ定位中的差異影響磁頭在定位于磁盤上的測(cè)試磁道上方時(shí)的歪斜。

在生產(chǎn)環(huán)境中通過(guò)自旋支架測(cè)試讀取/寫入磁頭時(shí)，測(cè)試裝置典型地包括：結(jié)合有接收工作臺(tái)的自旋支架，其中磁頭被載入裝置及從裝置卸載；以及自動(dòng)裝置，用于在自旋支架和接收工作臺(tái)中的多個(gè)區(qū)域之間移動(dòng)磁頭。待測(cè)試的磁頭通常被傳送至接收工作臺(tái)，所述接收工作臺(tái)采用排列在淺盤(tray)中的磁頭萬(wàn)向節(jié)組件(HGA)。所述淺盤將保持10或20個(gè)排列成行的HGA。自動(dòng)裝置包括非常精確的線性致動(dòng)器，所述線性致動(dòng)器在自旋支架的相應(yīng)部分上延伸并具有拾取設(shè)備，以沿其路線將HGA拾取及隨后放下。

為了將HGA載入裝置，線性致動(dòng)器將拾取設(shè)備移動(dòng)至在接收工作臺(tái)中接收的淺盤上，并且拾取設(shè)備拾取個(gè)別的HGA。拾取設(shè)備隨后將磁頭移動(dòng)至所謂的定位器。定位器通常被安裝到平臺(tái)并被設(shè)置為對(duì)HGA進(jìn)行x、y和θ的精確定位(即，精細(xì)定位)。由于定位器和圓盤通過(guò)平臺(tái)而彼此重合，當(dāng)HGA由定位器進(jìn)行精細(xì)定位時(shí)，設(shè)定HGA相對(duì)圓盤的位置以及由此相對(duì)磁盤的位置。當(dāng)精確定位磁頭時(shí)，拾取設(shè)備從定位器拾取HGA并將HGA傳送至圓盤的測(cè)試套。測(cè)試套通常具有夾持器配置，所述夾持器配置用于夾持HGA的基板的座孔以將HGA保持在適當(dāng)?shù)奈恢谩ｋS后，磁頭被載入至磁盤用于測(cè)試。

所述自動(dòng)裝置的缺點(diǎn)在于其產(chǎn)生振動(dòng)。重要的是因?yàn)檎駝?dòng)會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的精度，因此應(yīng)盡可能地將自旋支架與振動(dòng)隔離開。因此，考慮將自動(dòng)裝置與自旋支架的平臺(tái)隔離開。然而，將自動(dòng)裝置與自旋支架隔離開意味著自動(dòng)裝置將不能以相同的精度將HGA設(shè)置在定位器上。而且，當(dāng)通過(guò)自動(dòng)裝置將HGA從定位器傳送至測(cè)試套時(shí)，在自動(dòng)裝置與平臺(tái)隔離開時(shí)通過(guò)定位器實(shí)現(xiàn)的精細(xì)定位會(huì)一定程度地?fù)p失。