[發明專利]光學拾取裝置

無效

• 申請號: 200710146877.1
• 申請日: 2007-08-24
• 公開（公告）號: CN101131834A
• 公開（公告）日: 2008-02-27
• 發明（設計）人: 西岡謙;藤井仁;長島賢治
• 申請（專利權）人: 船井電機株式會社
• 主分類號: G11B7/135
• 分類號: G11B7/135;G02F1/13;G02B5/18
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司
• 代理人: 王玉雙

1.一種光學拾取裝置，包括：

多個光源，發射波長為λ1、λ2和λ3的光束，其中λ1＞λ2＞λ3；

物鏡，將所述光源發射的光束會聚至光學記錄介質的記錄表面上；

第一像差補償元件，設置在所述光源和所述物鏡之間，用于補償波長分別為λ1和λ3的光束中產生的球面像差；以及

第二像差補償元件，設置在所述光源和所述物鏡之間，用于補償波長為λ2的光束中產生的球面像差，其中

所述第一像差補償元件具有：第一區域，將波長為λ1的光束輸出為具有預定發散角的發散光線；及第二區域，形成為圍繞所述第一區域，并在波長為λ3的光束進入時改變所述波長為λ3的光束的相位分布；并且所述第一像差補償元件能夠以開關方式對所述第一區域和所述第二區域實現的功能進行電控制。

2.如權利要求1所述的光學拾取裝置，其中

所述第一像差補償元件由液晶元件構成，所述液晶元件包括液晶以及設置為將液晶夾在中間的第一透明電極和第二透明電極；

所述第一區域和所述第二區域通過電極圖案而形成，該電極圖案形成在以兩種圖案制成的所述第一透明電極和所述第二透明電極的至少其中之一中；

所述電極圖案在所述第一區域中為同心干涉圖案，并且當電壓施加在所述第一透明電極和所述第二透明電極之間時，波長為λ1的光束被衍射并輸出為發散光線，以及

所述電極圖案在所述第二區域中形成為具有多個同心區域，在所述多個同心區域的每一區域中，能夠調節施加在所述第一透明電極和所述第二透明電極之間的電壓，并且通過調節施加的電壓來改變波長為λ3的光束的相位分布。

3.如權利要求1所述的光學拾取裝置，其中所述第二像差補償元件具有多個相移區域，以改變波長為λ2的光束的相位分布而不改變波長為λ1和λ3的光束的相位分布。

4.如權利要求1所述的光學拾取裝置，其中在所述第二像差補償元件的外圍側設置有對波長為λ2的光束選擇性地進行孔徑限制的功能。

5.如權利要求1所述的光學拾取裝置，還包括致動器，其至少在調焦方向和追蹤方向驅動所述物鏡，其中所述致動器將所述物鏡、所述第一像差補償元件和所述第二像差補償元件作為一體驅動。

6.如權利要求2所述的光學拾取裝置，其中所述第二像差補償元件具有多個相移區域，以改變波長為λ2的光束的相位分布而不改變波長為λ1和λ3的光束的相位分布。

7.如權利要求2所述的光學拾取裝置，其中在所述第二像差補償元件的外圍側設置有對波長為λ2的光束選擇性地進行孔徑限制的功能。

8.如權利要求2所述的光學拾取裝置，還包括致動器，其至少在調焦方向和追蹤方向驅動所述物鏡，其中所述致動器將所述物鏡、所述第一像差補償元件和所述第二像差補償元件作為一體驅動。

9.如權利要求3所述的光學拾取裝置，其中所述第二像差補償元件由透明組件制成，并且所述多個相移區域通過以階梯圖案改變所述透明組件的厚度而制成。

10.如權利要求3所述的光學拾取裝置，其中在所述第二像差補償元件的外圍側設置有對波長為λ2的光束選擇性地進行孔徑限制的功能。

11.如權利要求3所述的光學拾取裝置，還包括致動器，其至少在調焦方向和追蹤方向驅動所述物鏡，其中所述致動器將所述物鏡、所述第一像差補償元件和所述第二像差補償元件作為一體驅動。

12.如權利要求6所述的光學拾取裝置，其中所述第二像差補償元件由透明組件制成，并且所述多個相移區域通過以階梯圖案改變所述透明組件的厚度而制成。

13.如權利要求6所述的光學拾取裝置，其中在所述第二像差補償元件的外圍側設置有對波長為λ2的光束選擇性地進行孔徑限制的功能。

14.如權利要求6所述的光學拾取裝置，還包括致動器，其至少在調焦方向和追蹤方向驅動所述物鏡，其中所述致動器將所述物鏡、所述第一像差補償元件和所述第二像差補償元件作為一體驅動。

15.如權利要求9所述的光學拾取裝置，其中在所述第二像差補償元件的外圍側設置有對波長為λ2的光束選擇性地進行孔徑限制的功能。