[發明專利]檢驗布的方法無效
| 申請號: | 200710146087.3 | 申請日: | 2007-09-10 |
| 公開(公告)號: | CN101118232A | 公開(公告)日: | 2008-02-06 |
| 發明(設計)人: | 陳明澤 | 申請(專利權)人: | 陳明澤 |
| 主分類號: | G01N33/36 | 分類號: | G01N33/36 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 | 代理人: | 張岱 |
| 地址: | 中國臺灣臺北*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢驗 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種檢驗布的方法,主要是利用原有碼表計算出布面長度作為″Y″坐標值,另配合橫標桿以尋得″X″坐標值,而完全掌握住布面瑕疵正確位置,可獲得加工便利及公平性的要求。
背景技術
一般驗布主要的目的是作為彌患與分級使用,以便于下游加工時,能完全明了加工布面上瑕疵布面的位置,如圖1所示為常用驗布的方法,為利用驗布機臺面3′進行檢驗布1′的驗布,以機臺上的碼表2′計算出縱向長度的位置,并標示出發生布面瑕疵的原因,然而往往下游加工業接獲此布面瑕疵計錄表,只能明白布面某長度(碼數)產生瑕疵問題,因而成衣加工的布面皆需在布面橫向寬幅內劃取數塊布,依上述傳統方法以縱向布面瑕疵取布,無法得知成衣加工布面上塊狀布正確的位置,當無法得知瑕疵布面某塊狀布時,其被舍棄整塊布面即會增加損耗,這樣,上游業者與下游業者相互交易即形成極為不公平的交易。
發明內容
針對上述缺點,本發明目的在于提供一種能準確標示布面瑕疵及所產生瑕疵的原因:組織錯誤、斷經、斷緯、壞邊、跳紗、空織、織傷、布面不良、并緯或缺緯、邊不良、布邊不整齊、油緯紗、扭經、松經、水漬、崩緯、方眼、霉斑、泥斑、錯穿、異經、雙緯、雙經、破洞、密布、跳紗洞、蛛網、強捻紗及異緯,有利于下游加工的檢驗布的方法。
為克服上述缺陷,本發明檢驗布的方法為:其是使用碼表及橫標桿為主要測試組件,由碼表測試出檢驗布的長度為″Y″坐標值,而橫標桿所測得為橫向坐標值為″X″,檢驗布依據所獲得的坐標(X,Y)標注于布面的塊狀布上,并加注其織物瑕疵原因。
其中,上述的橫標桿以″″型卡合座及L型壓條所組成。
其中,上述的橫標桿的″″型卡合座行走于橫標尺上。
進一步地,織物瑕疵原因以坐標(X,Y)標示出,并以檢驗織物記錄表作為各批織物的追蹤。
采用上述的方法,由碼表計算布面長度的″Y″數據,與橫標桿所標示出的″X″數據,因而記錄下坐標值并記錄下上述的瑕疵原因,取「檢驗記錄表輸入計算機以便于按批號整體作記錄,再附上于批貨上或利用因特網的電子郵件信箱傳送予客戶的計算機內,其下游加工客戶即可直接由計算機中打印出來,并依「檢驗記錄表上的記錄進行更容易的加工。
附圖說明
圖1為現有技術的驗布圖。
圖2為本發明的驗布機立體圖。
圖3為本發明的驗布示意圖。
圖4為本發明的實施例圖。
具體實施方式
為了使審查工作者更明了本發明的特征、功能及結構,茲配合圖標及圖號說明本發明的內容;
本發明為一種檢驗布的方法,如圖2及圖3所示,利用碼表2以滾輪11計算出布面長度,此長度假設為″Y″值,另于驗布機臺面3的頂部端面上設一″ㄇ″型橫標尺42,橫標尺42上設一″″型卡合座41,卡合座41底部并有一L型壓條43,當檢驗布1進行驗布某一長度″Y″時,而″ㄇ″型橫標尺42則推向該布面瑕疵點并得坐標值″X″,這樣,可獲得如下「檢驗織物記錄表:
檢驗織物記錄表???????????????????????????????批號:
注:Xn:橫坐標值(公分),Yn:縱坐標值(碼)
一般檢驗布1所產生的瑕疵原因,可分為組織錯誤、斷經、斷緯、壞邊、跳紗、空織、織傷、布面不良、并緯或缺緯、邊不良、布邊不整齊、油緯紗、扭經、松經、水漬、崩緯、方眼、霉斑、泥斑、錯穿、異經、雙緯、雙經、破洞、密布、跳紗洞、蛛網、強捻紗及異緯……等。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于陳明澤,未經陳明澤許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710146087.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:三相永磁發電機電壓調節器
- 下一篇:拆卸水龍頭自封裝置





