[發明專利]排除光學電流互感器中線性雙折射影響的三態偏振檢測法

無效

• 申請號: 200710144590.5
• 申請日: 2007-11-14
• 公開（公告）號: CN101149401A
• 公開（公告）日: 2008-03-26
• 發明（設計）人: 康崇;黃宗軍
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R15/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.排除光學電流互感器中線性雙折射影響的三態偏振檢測法，其特征是：同時測量光學電流互感器系統輸出的橢圓偏振光三個極化方向的光強，即水平極化強度、垂直極化強度和與水平成45°方向極化強度的數據，利用三態測量數據，計算橢圓偏振光水平極化分量和垂直極化分量之間的位相差信息，實時分離檢測法拉第效應和線性雙折射。

2.根據權利要求1所述的排除光學電流互感器中線性雙折射影響的三態偏振檢測法，其特征是：所述的同時測量光學電流互感器系統輸出的橢圓偏振光三個極化方向的光強是光源發出的45°起偏光E_in射入傳感器的傳感頭，繞傳感頭一圈或幾圈后輸出光E_out通過無偏振效應分束器NPBS后被分成兩束，其一射入偏振分束器PBS，出射光被分成振幅為A²的P光與振幅為B²的S光，經PIN光電轉換后送到計算機；另一路經過45°檢偏器，其出射光強經光電轉換后送至計算機，在計算機中用$\left\{\begin{array}{c}{I}_{\mathrm{out}}\left(0\right)={\left|{\left[E_{\mathrm{out}}\right]}_0\right|}^2=A^2\\ I_{\mathrm{out}}\left(\frac{\mathrm{\π}}{2}\right)={\left|{\left[E_{\mathrm{out}}\right]}_1\right|}^2=B^2\\ I_{\mathrm{out}}\left(\frac{\mathrm{\π}}{4}\right)=\frac{A^2+B^2}{2}+\mathrm{AB}\cos \mathrm{\δ}\end{array}\right.$式計算P、S光之間的相移δ的大小；然后用$\left\{\begin{array}{c}\mathrm{\γ}=\frac{1}{2}\arctan \frac{\mathrm{\δ}}{2}\\ I=\frac{1}{v\sqrt{4-{\mathrm{\δ}}^2}}\·\frac{B^2-A^2}{B^2+A^2}\end{array}\right.$式實時計算線性雙折射r和待測電流I的值。