[發(fā)明專利]孔內表面的光學檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710142856.2 | 申請日： | 2007-08-01 |
| 公開（公告）號： | CN101109716A | 公開（公告）日： | 2008-01-23 |
| 發(fā)明（設計）人： | 徐春廣;肖定國;馮忠偉;朱文娟;郝娟;周世圓 | 申請（專利權）人： | 北京理工大學 |
| 主分類號： | G01N21/954 | 分類號： | G01N21/954 |
| 代理公司： | 北京華夏正合知識產權代理事務所 | 代理人： | 韓登營;李殿健 |
| 地址： | 100081北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 表面 光學 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種孔內表面的光學檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：
a.將照明光源放入孔內并使其發(fā)光照明孔內周面；
b.用與孔同軸安裝的成像裝置拾取照明光源照射到孔內壁上反射回來的光；
c.使照明光源和成像裝置沿孔軸線同步移動，并對由成像裝置識別到的信號進行處理，獲得孔內表面展開圖像。
2.如權利要求1所述的孔內表面的光學檢測方法，其特征在于，
還具有如下步驟：用定心機構將照明光源和成像裝置定位在孔內，照明光源和成像裝置同軸。
3.如權利要求1所述的孔內表面的光學檢測方法，其特征在于，
還具有如下步驟：由伺服電機驅動照明光源和成像裝置沿孔軸線勻速運動，成像裝置進行均勻采樣，獲取一系列不同軸向位置的孔內表面展開圖像，相鄰兩圖像之間重疊部分沿孔軸線距離大于等于0。
4.如權利要求3所述的孔內表面的光學檢測方法，其特征在于，
還具有如下步驟：順序讀取多幅圖像，保證前一幅圖像和后一幅圖像之間存在重疊區(qū)域，確定前后兩幅圖像的拼接方式，形成一幅新圖像，循環(huán)此操作直到將所有的圖像拼接形成一幅完整的圖像。
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